电路检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电路检查装置，更详细地说，涉及在电子产品的制造工艺中用于导通检查及运行特性检查的电路检查装置。本发明专利技术公开了一种电路检查装置，包括：容纳夹具(100)，在上部形成有排成一列的多个容纳槽(110)；多个探针(1)，安装在所述多个容纳槽(110)；主体部(200)，结合于所述容纳夹具(100)，并且形成有与所述多个容纳槽(110)对应的开口部(210)，以使探针(1)的至少一部分暴露到上侧。使探针(1)的至少一部分暴露到上侧。使探针(1)的至少一部分暴露到上侧。

【技术实现步骤摘要】
电路检查装置


[0001]本专利技术涉及电路检查装置，更详细地说，涉及在电子产品的制造工艺中用于导通检查及运行特性检查的电路检查装置。

技术介绍

[0002]对于相机或者液晶面板等的电子产品模块，在其制造工艺中执行导通检查及运行特性检查等，为了实施这种检查，使用探针连接用于与设置在电子产品模块的主体基板连接的FPC接触电极或者装贴的基板对基板连接器等的电极部与检查装置。
[0003]即，在连接电子产品模块内的电极部和检查装置时，可灵活利用探针电连接电极部和检查装置，此时探针在电子产品模块的电极端子和检查装置之间通过适当的接触压力可稳定接触。
[0004]另一方面，利用如上所述的探针的电路检查装置在以往使用了包括弹簧的弹簧针，但是在该情况下，检查对象和检查装置之间的通电路径增加，进而增加电阻，据此存在要求高电力的问题。
[0005]另外，以往的利用探针的电路检查装置在探针或者弹簧针结合于插座内部的状态下模块化来制作及出厂，因此存在在一部分探针或者弹簧针存在缺陷或者受损的情况下需要将整个模块更换的问题。
[0006]另外，电路检查装置均匀配置多个探针，进而存在在通过电接触改善特性上存在局限性的问题。
[0007]另一方面，近来用于高画质显示、IOT、自动行驶汽车等的高速传输数据的技术必要性增加。
[0008]在1Gbps以上的高速数据传输中探针应由差分(differential)信号构成，而非通常方式的单端(single ended)方式，而且阻抗匹配根据各个频带分别的探针和包围该探针的模块而发生变化。
[0009]此时，根据各种状况进行阻抗匹配是必须的，为此需要通过HFSS仿真等将频率的共振区间最小化的过程。

技术实现思路

[0010]本专利技术的目的在于，为了解决如上所述的本专利技术的问题，提供一种提高检查对象和检查装置之间的接触可靠性的同时接触电阻低的电路检查装置。
[0011]本专利技术是为了达到如上所述的目的而提出的，本专利技术公开了一种电路检查装置，包括：容纳夹具100，在上部形成有排成一列的多个容纳槽110；多个探针1，安装在所述多个容纳槽110；主体部200，结合于所述容纳夹具100，并且形成有与所述多个容纳槽110对应的开口部210，以使探针1的至少一部分暴露到上侧。
[0012]所述多个容纳槽110为以长度方向横跨所述容纳夹具100的宽度中心的虚拟中心线L为基准能够以长度方向左右对称形成。
[0013]所述多个容纳槽110为以长度方向横跨所述容纳夹具100的宽度中心的虚拟中心线L为基准能够以长度方向在平面上左右错开的交替形成。
[0014]所述多个容纳槽110针对所述容纳夹具100的长度方向能够以垂直方向形成。
[0015]所述容纳夹具100还可包括第一容纳槽120及第二容纳槽130，所述第一容纳槽120及第二容纳槽130在两端针对所述多个容纳槽110以垂直方向形成，以分别容纳单一探针1。
[0016]所述电路检查装置可包括盖部300，所述盖部300设置成在所述主体部200的上侧能够以上下方向移动，通过加压的上下移动将所述探针1的至少一部分暴露到上侧。
[0017]所述盖部300可包括：盖板310，对应于所述多个容纳槽110形成有多个开口槽311；多个弹性体320，配置在所述盖板310和所述主体部200之间，通过压缩及恢复力可上下移动所述盖板310。
[0018]所述电路检查装置可包括基座部400，所述基座部400在所述容纳夹具100的下侧结合于所述主体部200，并且形成有与所述多个容纳槽110对应的下侧开口部410，以使所述探针1的至少一份暴露到下侧。
[0019]本专利技术的电路检查装置的优点如下：通过容纳探针的容纳夹具和主体部之间的结合结构，在使用的多个探针中的至少一部分出现缺陷或者受损的情况下，可只更换一部分探针来使用。
[0020]即，本专利技术的电路检查装置的优点如下：作为紧凑的结构，组装性优秀，并且可容易地只更换使用的多个探针中的至少一部分。
[0021]另外，本专利技术的电路检查装置的优点如下：探针包括能够以长度方向伸缩的弹性部，盖部也包括能够以上下方向伸缩的弹性体，进而在各种环境下也可保持检查装置和检查对象之间的稳定接触，因此接触可靠性高。
[0022]另外，本专利技术的电路检查装置的优点如下：针对容纳夹具的长度方向多样地形成容纳探针的容纳夹具的容纳槽，进而提高接触可靠性的同时接触电阻低，进而改善电特性。
附图说明
[0023]图1是示出本专利技术的探针的一实施例的侧视图。
[0024]图2是示出本专利技术的探针的另一实施例的侧视图。
[0025]图3是示出本专利技术的电路检查装置的结构的分解立体图。
[0026]图4是示出图3的电路检查装置的探针设置模样的剖面图。
[0027]图5是示出本专利技术的另一实施例的电路检查装置的结构的分解立体图。
[0028]图6是示出图5的电路检查装置中容纳夹具的模样的扩大平面图。
[0029]图7是示出图5的电路检查装置的探针的设置模样的剖面图。
[0030]图8作为示出图5的电路检查装置的TDR测试结果的曲线图，是示出X轴是时间、Y轴是电阻的曲线图。
[0031]图9是示出图5的电路检查装置的眼图(Eye
‑
Diagram)的曲线图。
[0032]图10作为示出图5的电路检查装置S参数(S
‑
parameter)的曲线图，是示出X轴是频率、Y轴是分贝的曲线图。
[0033]附图标记说明
[0034]1：探针
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100：容纳夹具
[0035]200：主体部
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300：盖部
[0036]400：基座部
具体实施方式
[0037]以下，参照附图，对本专利技术的探针及具有该探针的电路检查装置如下进行说明。
[0038]如图3至图7所示，本专利技术的电路检查装置包括：在上部形成有排成一列的多个容纳槽110；多个探针1，安装在所述多个容纳槽110；主体部200，结合于所述容纳夹具100，形成有与所述多个容纳槽110对应的开口部210，以使探针1的至少一部分暴露到上侧。
[0039]另外，本专利技术的电路检查装置可包括盖部300，所述盖部300设置成在主体部200的上侧能够以上下方向移动，通过加压的上下移动将探针1的至少一部分暴露到上侧。
[0040]另外，本专利技术的电路检查装置可包括基座部400，所述基座部400在容纳夹具100的下侧结合于主体部200，形成有与多个容纳槽110对应的下侧开口部410，以使探针1的至少一部分暴露到下侧。
[0041]另外，本专利技术的电路检查装置还可包括基板，所述基板可拆卸地配置在基座部400的下侧面，并且接触于探针1的一端，以用于检查检查对象。
[004本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路检查装置，其特征在于，包括：容纳夹具(100)，在上部形成有排成一列的多个容纳槽(110)；多个探针(1)，安装在所述多个容纳槽(110)；主体部(200)，结合于所述容纳夹具(100)，并且形成有与所述多个容纳槽(110)对应的开口部(210)，以使探针(1)的至少一部分暴露到上侧。2.根据权利要求1所述的电路检查装置，其特征在于，所述多个容纳槽(110)为以长度方向横跨所述容纳夹具(100)的宽度中心的虚拟中心线(L)为基准以长度方向左右对称形成。3.根据权利要求1所述的电路检查装置，其特征在于，所述多个容纳槽(110)为以长度方向横跨所述容纳夹具(100)的宽度中心的虚拟中心线(L)为基准以长度方向在平面上左右错开的交替形成。4.根据权利要求1所述的电路检查装置，其特征在于，所述多个容纳槽(110)针对所述容纳夹具(100)的长度方向以垂直方向形成。5.根据权利要求4所述的电路检查装置，其特征在于，所述容纳夹具(100)还包括第一容...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴炳圭，
申请(专利权)人：朴炳圭，
类型：发明
国别省市：