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本发明公开了一种芯片检测系统，涉及芯片检测技术领域，解决了现有方案在电子芯片检测过程中存在的检测精度不高，检测效率低下的技术问题；本发明构建了标准的测试数据，测试数据中芯片标签以及对应的测试数据相关联，获取待测芯片的芯片标签和测试标签即可确...
该专利属于中大检测（湖南）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中大检测（湖南）股份有限公司授权不得商用。

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