硅片碎片检测机构制造技术

技术编号:32407574 阅读:15 留言:0更新日期:2022-02-24 13:08
本实用新型专利技术公开硅片碎片检测机构,涉及硅片生产加工领域。该硅片碎片检测机构,包括龙门架,龙门架的顶端固定安装有检测相机,龙门架的底端两侧均固定安装有固定组件,固定组件的内侧壁活动安装有照明灯。该硅片碎片检测机构,在使用时,硅片从固定组件的下方经过,此时照明灯对硅片进行照明,使得硅片表面的细微痕迹能够很好地被检测相机捕捉到,当有瑕疵的硅片经过固定组件下方时,检测相机捕捉到瑕疵情况并给出反馈,使得清洗机的输送部件做出反应直接将该瑕疵硅片剔除掉,以此提高硅片的成品合格率,同时提升检测的效率。同时提升检测的效率。同时提升检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
硅片碎片检测机构


[0001]本技术涉及硅片生产加工
,具体为硅片碎片检测机构。

技术介绍

[0002]在硅片生产的过程中,硅片必须经过严格清洗,微量污染也会导致器件失效,清洗的目的在于清除表面污染杂质,包括有机物和无机物,这些杂质有的以原子状态或离子状态,有的以薄膜形式或颗粒形式存在于硅片表面,会导致各种缺陷,清除污染的方法有物理清洗和化学清洗两种。
[0003]而在实际操作的过程中,为了提高整体清洗过程的速度,往往采用自动化机械设备替代人工进行清洗操作,但是在清洗的过程中,硅片经由输送部件进行移动,难免存在与设备发生碰撞或者是前期生产未发觉到的瑕疵和残缺,如果不及时查找出来,后期应用到半导体器件上,会直接导致该半导体器件为不合格产品,耗费更多的人力和成本,而传统的人工检测效率非常慢,而且精准度较差,因此需要提供一种硅片碎片检测机构,以此解决上述问题。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足,本技术公开了硅片碎片检测机构,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的,本技术通过以下技术方案予以实现:硅片碎片检测机构,包括龙门架,所述龙门架的顶端固定安装有检测相机,所述龙门架的底端两侧均固定安装有固定组件,所述固定组件的内侧壁活动安装有照明灯。
[0008]优选的,所述龙门架包括支撑柱、顶部横梁、安装杆和支撑杆,所述顶部横梁固定安装在支撑柱的顶端,所述安装杆固定安装在支撑柱的底端,所述支撑杆的两端分别固定安装在支撑柱和安装杆的外表面。
[0009]优选的,所述检测相机的侧面固定安装有安装座,所述安装座通过螺栓固定安装在顶部横梁的外表面。
[0010]优选的,所述固定组件的背面固定安装有装配板,所述装配板固定安装在支撑柱的外表面,所述安装杆的底部固定安装有支撑垫板。
[0011]优选的,所述固定组件包括固定板、安装架和挡片,所述固定板固定安装在装配板的外表面,所述安装架固定安装在固定板的两侧,所述挡片固定连接在安装架的端部。
[0012]优选的,所述安装架的内部且靠近固定板的一端固定安装有限位板,所述照明灯的两端分别转动连接在限位板和挡片的内部。
[0013]优选的,所述照明灯的两端均固定连接有限位轴,所述限位板和挡片的外表面均开设有弧形槽,所述限位轴滑动连接在弧形槽的内部,所述照明灯的外表面固定安装有电
源线。
[0014]本技术公开了硅片碎片检测机构,其具备的有益效果如下:
[0015]1、该硅片碎片检测机构,通过将龙门架整体架设在插片清洗一体机上,通过螺栓将支撑垫板与清洗机主体进行安装,然后通过将装配板安装在支撑柱外表面适合的高度,在使用时,硅片从固定组件的下方经过,此时照明灯对硅片进行照明,使得硅片表面的细微痕迹能够很好地被检测相机捕捉到,当有瑕疵的硅片经过固定组件下方时,检测相机捕捉到瑕疵情况并给出反馈,使得清洗机的输送部件做出反应直接将该瑕疵硅片剔除掉,以此提高硅片的成品合格率,同时提升检测的效率。
[0016]2、该硅片碎片检测机构,通过在照明灯的两端均固定连接有限位轴,限位板和挡片的外表面均开设有弧形槽,限位轴滑动连接在弧形槽的内部,在使用时通过转动照明灯,使得限位轴在弧形槽内部转动,以此调整照明灯照明角度。
附图说明
[0017]图1为本技术整体结构示意图;
[0018]图2为本技术整体结构爆炸图;
[0019]图3为本技术固定组件外表面结构爆炸图;
[0020]图4为本技术检测相机外表面结构示意图。
[0021]图中:1、龙门架;101、支撑柱;102、顶部横梁;103、安装杆;104、支撑杆;2、固定组件;201、固定板;202、安装架;203、挡片;3、检测相机;4、支撑垫板;5、装配板;6、照明灯;7、限位板;8、电源线;9、弧形槽;10、安装座;11、限位轴。
具体实施方式
[0022]本技术实施例公开硅片碎片检测机构,如图1

4所示,包括龙门架1,龙门架1的顶端固定安装有检测相机3,龙门架1的底端两侧均固定安装有固定组件2,固定组件2的内侧壁活动安装有照明灯6。
[0023]参照附图2,龙门架1包括支撑柱101、顶部横梁102、安装杆103和支撑杆104,顶部横梁102固定安装在支撑柱101的顶端,安装杆103固定安装在支撑柱101的底端,支撑杆104的两端分别固定安装在支撑柱101和安装杆103的外表面,提升龙门架1整体的结构强度和支撑强度。
[0024]参照附图2和4,检测相机3的侧面固定安装有安装座10,安装座10通过螺栓固定安装在顶部横梁102的外表面,检测相机3的输出端竖直向下正对固定组件2,同时检测相机3采用CCD视觉检测,可检测小于三毫米的缺角崩边。
[0025]参照附图2

3,固定组件2的背面固定安装有装配板5,装配板5固定安装在支撑柱101的外表面,安装杆103的底部固定安装有支撑垫板4。
[0026]参照附图3,固定组件2包括固定板201、安装架202和挡片203,固定板201固定安装在装配板5的外表面,安装架202固定安装在固定板201的两侧,挡片203固定连接在安装架202的端部,两组固定组件2对称设置在支撑柱101的两侧,提高整体平衡性。
[0027]参照附图3,安装架202的内部且靠近固定板201的一端固定安装有限位板7,照明灯6的两端分别转动连接在限位板7和挡片203的内部,照明灯6的两端均固定连接有限位轴
11,限位板7和挡片203的外表面均开设有弧形槽9,限位轴11滑动连接在弧形槽9的内部,照明灯6的外表面固定安装有电源线8,通过转动照明灯6,使得限位轴在11弧形槽9内部转动,以此调整照明灯6照明角度,电源线8用于与外部电源进行电性相连接。
[0028]工作原理:该装置在使用时,通过将龙门架1整体架设在插片清洗一体机上,通过螺栓将支撑垫板4与清洗机主体进行安装,然后通过将装配板5安装在支撑柱101外表面适合的高度,然后将电源线8与外部电源进行电性相连接,同时通过转动照明灯6,使得限位轴在11弧形槽9内部转动,以此调整照明灯6照明角度;
[0029]在使用时,硅片在清洗机上清洗结束后,通过清洗机的输送机构将硅片输送至插片机位置,在这个过程中,硅片从固定组件2的下方经过,此时照明灯6对硅片进行照明,使得硅片表面的细微痕迹能够很好地被检测相机3捕捉到,当有瑕疵的硅片经过固定组件2下方时,检测相机3捕捉到瑕疵情况并给出反馈,使得清洗机的输送部件做出反应直接将该瑕疵硅片剔除掉,以此提高硅片的成品合格率,同时提升检测的效率。
[0030]以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解,本技术不受上述实施例的限制,上述实施例和说本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.硅片碎片检测机构,包括龙门架(1),其特征在于;所述龙门架(1)的顶端固定安装有检测相机(3),所述龙门架(1)的底端两侧均固定安装有固定组件(2),所述固定组件(2)的内侧壁活动安装有照明灯(6)。2.根据权利要求1所述的硅片碎片检测机构,其特征在于:所述龙门架(1)包括支撑柱(101)、顶部横梁(102)、安装杆(103)和支撑杆(104),所述顶部横梁(102)固定安装在支撑柱(101)的顶端,所述安装杆(103)固定安装在支撑柱(101)的底端,所述支撑杆(104)的两端分别固定安装在支撑柱(101)和安装杆(103)的外表面。3.根据权利要求2所述的硅片碎片检测机构,其特征在于:所述检测相机(3)的侧面固定安装有安装座(10),所述安装座(10)通过螺栓固定安装在顶部横梁(102)的外表面。4.根据权利要求3所述的硅片碎片检测机构,其特征在于:所述固定组件(2)的背面固定安装有装配板(5),所述装配板(5)固定安装在...

【专利技术属性】
技术研发人员:王进张进元王永利胡宏峰
申请(专利权)人:上海珺竹精密机械有限公司
类型:新型
国别省市:

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