用于快速检测实验室设备中的故障的计算机化方法和实验室设备技术

本发明专利技术给出用于确定实验室设备中的故障的计算机实现方法，本发明专利技术的目的是简化实验室测试设备中的故障的快速检测。所述目的通过包括以下规则生成步骤的方法来实现：a)接收与待由所述设备处理的质量控制(QC)样品的一个或多个QC水平(J)相关的期望误拒绝概率(P

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于快速检测实验室设备中的故障的计算机化方法和实验室设备

技术实现思路

[0001]本专利技术涉及一种用于快速检测实验室设备中的故障的方法和实验室设备。
[0002]选择和实施质量控制 (QC) 规则是在实验室中确保发布来自患者样品的正确测试结果的关键步骤。更关键的是，要尽可能快地识别故障，以防止发送不正确的结果，并限制必须重新处理的样品数量。
[0003]当今的实验室设备可能提供几种不同类型的诊断测试，所述测试可达数百种诊断测试（每种诊断测试可能测试特定的物质）。为了保证患者样品的有效测试结果，每次测试都可以使用和监测质量控制 (QC) 样品。针对每次测试选择和实施统计质量控制规则通常是监测质量控制样品的先决条件。
[0004]设计用于评估实验室设备的统计程序可能包括误差检测的要求（诸如误差检测概率 (P
ed
)）和/或误拒绝的要求，诸如误拒绝概率 (P
fr
)。如果设备出现故障，导致实验室设备处于“失控”状态，则要达成的目标是以高概率检测到所述故障（本领域中的目标通常是 90% 的 P<br/>ed 或“能本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于确定实验室设备中的故障的计算机实现方法，所述方法包括以下规则生成步骤：a) 接收与待由所述设备处理的质量控制 (QC) 样品的一个或多个 QC 水平 (J) 相关的期望误拒绝概率 (P
̌
fr
) 和期望误差检测率 E
̌
D
，例如期望误差检测概率 (P
̌
ed
)；b) 将运行次数 (R) 设置为一；c) 至少部分地基于 R 来计算误差检测率 (E
̂
D
)；d) 确定 E
̂
D 是否低于 E
̌
D
，并且如果是：则将 R 增加一，并且重复步骤 c) 至 d)，而如果否：则至少部分地基于 R 来定义用于确定所述实验室设备中的故障的规则；所述方法进一步包括以下规则应用步骤：e) 接收或收集标准化 QC 结果，优选地从由所述设备生成的 QC 样品的至少 R 次运行中接收或收集；f) 将步骤 d) 中定义的所述规则应用于所述标准化 QC 结果；g) 如果所述标准化 QC 结果符合所述规则，则确定出所述设备中的故障。2.根据权利要求 1 所述的方法，其中步骤 d) 中定义的所述规则包括与平方距离 (d2) 的比较，其中 d
2 优选地从以下中心卡方分布导出d
2 = C
‑1(1
ꢀ‑ꢀ
P
̌
fr
; DF)，其中 DF = J
ꢀ×ꢀ
R；或优选地从霍特林的 T 平方分布导出；并且其中步骤 f) 优选地包括针对 QC 水平的 J 数和优选最新运行的 R 数计算马氏距离 (M)，并且在步骤 f) 中应用所述规则包括确定 M 是否等于或大于 d2。3.根据权利要求 2 所述的方法，其中所述马氏距离 (M) 由以下等式给出：其中 Z
jr 是从 QC 水平 j 和运行 r 得出的所述标准化 QC 结果；并且其中 Z
jr 优选地由以下等式给出：Z
jr = (X
jr
ꢀ‑ꢀµ
j
)/ σ
j
其中 X
jr 是从 QC 水平 j 和运行 r 得出的 QC 测试结果，且
µ
j 是可控中心趋势，诸如平均值或中值，并且 σ
j 是与 QC 水平 j 相关的离差诸如变差、标准偏差或四分位差范围的可控度量，并且其中
ꢀµ
j 和 σ
j 优选地从设备验证测试结果导出。4.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中 E
̌
D 与期望系统误差检测概率 (P
̌
s
ed
) 和临界系统误差 (Δ
SECrit
) 相关，其中 Δ
SECrit 可以被定义为 ，其中 为估计为
ꢀꢀ
的标准正态分布的分位数，并且
ꢀꢀ
被定义为 ，其中为偏差且为在所有 QC 水平上聚合的标准偏差；
其中 E
̂
D 包括系统误差检测 (P
̂
Sed
)，并且步骤 c) 中的计算包括从非中心卡方分布的累积分布函数 H(d2; DF, NCP) 导出 P
̂
Sed
，其中 NCP = J
ꢀ×ꢀ
R
ꢀ×ꢀ
Δ
SECrit2
；并且其中步骤 d) 包括确定 P
̂
Sed 是否低于 P
̌
Sed
。5.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中 E
̌
D 与期望随机误差检测概率 (P
̌
Red
) 和临界随机误差 (Δ
RECrit
) 相关，其中 Δ
RECrit 可以被定义为 ，其中
ꢀꢀ
为估计为 的标准正态分布的分位数，并且
ꢀꢀ
被定义为 ，其中 为偏差且 为在所有 QC 水平上聚合的标准偏差；其中 E
̂
D 包括随机误差检测 (P
̂
Red
)，并且步骤 c) 中的计算包括从 γ 分布的累积分布函数 G(d2; SH, SC) 导出 P
̂
Red
，其中 SH = (J
ꢀ×ꢀ
R)/2 且 SC = 2
ꢀ×ꢀ
Δ
RECrit2
；并且其中步骤 d) 包括确定 P
̂
Red 是否低...

【专利技术属性】
技术研发人员：F，
申请(专利权)人：豪夫迈，
类型：发明
国别省市：