一种芯片老化测试设备制造技术

本实用新型专利技术提供一种芯片老化测试设备，包括卡扣装置和芯片老化测试载板；卡扣装置包括多个镂空区域和多个凸起结构，凸起结构和镂空区域一一对应，镂空区域和芯片老化测试载板的卡槽一一对应；卡扣装置用于对芯片老化测试载板的多个卡槽进行固定，凸起结构用于对卡槽进行按压，镂空装置用于暴露卡槽，以便待测试芯片放置于卡槽内。由此可见，芯片老化测试载板利用卡扣装置上的凸起结构对多个卡槽同时进行按压，因此可以利用卡扣装置上与卡槽一一对应的镂空区域将多个芯片一一放置进各自对应的卡槽内，无需工作人员在放置芯片时一一按压每一个卡槽，只需要放置芯片即可，降低重复操作过程，降低了放置芯片在芯片老化测试载板上的时间，提高了效率。提高了效率。提高了效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片老化测试设备


[0001]本技术涉及半导体测试领域，特别涉及一种芯片老化测试设备。

技术介绍

[0002]当前需要对存储芯片进行老化测试，以便得知随着存储芯片的使用时间，存储芯片的功能变化情况。当进行芯片的老化测试时，需要将芯片一一的放置在芯片老化测试载板上，以便利用芯片老化测试载板对多个芯片进行老化测试，例如，一个芯片老化测试载板可以同时放置96个芯片。芯片老化测试载板上具有放置芯片的卡槽，以固定芯片。
[0003]目前将芯片放置并固定在芯片老化测试载板上，需要工作人员手动按下每一个卡槽，在按压卡槽时放置芯片，将芯片放置进卡槽内之后，停止按压。将芯片在芯片老化测试载板上取出时，还是需要工作人员手动按下卡槽，在按压卡槽时取出芯片，将芯片从卡槽内取出之后，停止按压。
[0004]由此可见，若要将全部的芯片都放置在芯片老化测试载板上，则需要工作人员重复按压卡槽放置芯片的过程，重复操作，耗费时间，极大地影响了测试效率。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本技术的目的在于提供一种芯片老化测试设备，降低重复操作过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片老化测试设备，其特征在于，包括卡扣装置和芯片老化测试载板；所述卡扣装置包括多个镂空区域和多个凸起结构，所述凸起结构和所述镂空区域一一对应，所述镂空区域和所述芯片老化测试载板的卡槽一一对应；所述卡扣装置用于对所述芯片老化测试载板的多个卡槽进行固定，所述凸起结构用于对所述卡槽进行按压，所述镂空区域用于暴露所述卡槽，以便待测试芯片放置于所述卡槽内。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，还包括：固定装置，所述固定装置用于放置所述芯片老化测试载板；当所述卡扣装置固定所述芯片老化测试载板的多个卡槽时，所述固定装置与所述卡扣装置连接。3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述固定装置还包括附加平衡结构；还包括：杠杆装置，所述杠杆装置的第一端连接所述卡扣装置，第二端连接所述附加平衡结构，用于辅助所述卡扣装置在对所述多个卡槽进行固定时，平行均匀按压所述多个卡槽。4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述杠杆...

【专利技术属性】
技术研发人员：李喜强，苏捷峰，豆平涛，
申请(专利权)人：长江存储科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：