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本实用新型提供一种芯片老化测试设备，包括卡扣装置和芯片老化测试载板；卡扣装置包括多个镂空区域和多个凸起结构，凸起结构和镂空区域一一对应，镂空区域和芯片老化测试载板的卡槽一一对应；卡扣装置用于对芯片老化测试载板的多个卡槽进行固定，凸起结构用于...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。

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