一种清洁设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种清洁设备，该清洁设备包括：清洁部，用于对待清洁表面进行清洁；检测装置，用于检测清洁部的物理属性值；处理器，与检测装置电连接，用于获取检测装置检测到的物理属性值，并根据物理属性值确定待清洁表面的脏污程度，基于脏污程度调整清洁设备的清洁模式。基于本实用新型专利技术提供的清洁设备，通过检测装置对清洁设备的清洁部的物理属性值进行检测，并由处理器根据检测到的物理属性值判断待清洁表面的脏污程度，可以为清洁设备的清洁工作提供待清洁表面的信息，进而可以对待清洁表面进行智能清洁。表面进行智能清洁。表面进行智能清洁。

【技术实现步骤摘要】
一种清洁设备


[0001]本技术涉及智能设备
，特别是一种清洁设备。

技术介绍

[0002]清洁设备中通常具有对地面进行清洗的功能，例如，其可以通过喷洒干净的清洁液体，然后回收地面的污液。而实际使用过程中，由于待清洁面的赃污程度不一样，若对脏污程度不一样的待清洁面采用相同的运行功率进行清洁工作，针对比较赃污的地面，可能会导致地面清洁工作不彻底，对于一些较为干净的地面，可能容易造成资源浪费，进而影响用户的使用体验。

技术实现思路

[0003]鉴于上述问题，提出了本技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种清洁设备。
[0004]根据本技术的第一方面，提供了一种清洁设备，包括：
[0005]清洁部，用于对待清洁表面进行清洁；
[0006]检测装置，用于检测所述清洁部的物理属性值；
[0007]处理器，用于获取所述检测装置检测到的所述物理属性值，并利用所述物理属性值与动态设置的标准属性值的比较结果确定所述待清洁表面的脏污程度，基于所述脏污程度调整清洁设备的清洁模式。
[0008]可选地，所述检测装置设置于所述清洁部上，或与所述清洁部相对地设置。
[0009]可选地，所述检测装置包括光学检测装置，用于检测所述清洁部的光学属性值。
[0010]可选地，所述检测装置包括光发射器和光接收器；
[0011]所述光发射器，用于向所述清洁部发射光信号；
[0012]所述光接收器，用于接收经由所述清洁部反射后形成的光反射信号，并将所述光反射信号转换为用于表示所述清洁部的光学属性值的第一电信号，将所述第一电信号输出至所述处理器；
[0013]所述处理器，用于利用所述光学属性值计算所述待清洁表面的脏污程度。
[0014]可选地，所述第一电信号包括电压；所述处理器，用于将所述电压与标准电压进行比较，根据比较结果确定所述待清洁表面的脏污程度；所述标准电压为预先检测的所述清洁部处于洁净状态时的电压；或，所述清洁设备在执行清洁工作前检测的所述清洁部的电压。
[0015]可选地，所述光接收器与所述接收器同侧设置。
[0016]可选地，所述检测装置包括电学检测装置，用于检测所述清洁部的电学属性值。
[0017]可选地，所述清洁部设置有电极；
[0018]所述检测装置，与所述清洁部上的电极连接，用于检测用于表示所述清洁部的电学属性值的第二电信号，并将所述第二电信号输出至所述处理器；
[0019]所述处理器，用于利用所述电学属性值计算所述待清洁表面的脏污程度。
[0020]可选地，所述检测装置为电容传感器，用于检测所述清洁部的电容，作为所述第二电信号输出至所述处理器；
[0021]用于根据所述电容和标准电容计算所述清洁部的电容变化参数，并利用电容变化参数确定所述待清洁表面的脏污程度。
[0022]可选地，所述检测装置用于检测所述清洁部的导电率，作为所述第二电信号输出至所述处理器；
[0023]所述处理器，用于根据所述导电率和标准导电率计算所述清洁部的导电率变化参数，并根据导电率变化参数确定所述待清洁表面的脏污程度。
[0024]本技术提供了一种清洁设备，基于本技术提供的清洁设备，通过检测装置对清洁设备的清洁部的物理属性值进行检测，并由处理器根据检测到的物理属性值判断待清洁表面的脏污程度，可以为清洁设备的清洁工作提供待清洁表面的信息，进而可以有针对性地对待清洁表面进行智能清洁。
[0025]上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。
[0026]根据下文结合附图对本技术具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本技术的上述以及其他目的、优点和特征。
附图说明
[0027]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
[0028]图1示出了根据本技术一实施例的清洁设备部分结构示意图；
[0029]图2示出了根据本技术一实施例的清洁设备结构示意图；
[0030]图3示出了根据本技术另一实施例的清洁设备结构示意图；
[0031]图4示出了根据本技术另一实施例的清洁设备部分结构示意图；
[0032]图5示出了根据本技术实施例的清洁部的电压随清洁部颜色变化示意图；
[0033]图6示出了根据本技术另一实施例的清洁设备结构示意图。
具体实施方式
[0034]在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本技术更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本技术可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本技术发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。
[0035]应予以注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施例，而非意图限制根据本技术的示例性实施例。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式。此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在所述特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或附加一个
或多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组合。
[0036]现在，将参照附图更详细地描述根据本技术的示例性实施例。然而，这些示例性实施例可以多种不同的形式来实施，并且不应当被解释为只限于这里所阐述的实施例。应当理解的是，提供这些实施例是为了使得本技术的公开彻底且完整，并且将这些示例性实施例的构思充分传达给本领域普通技术人员。
[0037]本技术实施例提供了一种清洁设备，参见图1可知，本技术实施例提供的清洁设备可以包括清洁部10、检测装置20以及处理器30。其中，清洁部10用于对待清洁表面进行清洁。检测装置20用于检测清洁部10的物理属性值，可选地，检测装置20可以设置于清洁部10上(如图2所示)，或与清洁部10相对地设置(如图3所示)。处理器30与检测装置20电连接，用于获取检测装置20检测到的物理属性值，并利用物理属性值与动态设置的标准属性值的比较结果确定待清洁表面的脏污程度；基于脏污程度调整清洁设备的清洁模式。
[0038]在一些优选的实施例中，清洁部可以是例如一个或多个滚刷，通常滚刷是指旋转轴是大致水平方向的刷子，也可以是一个或多个盘刷，盘刷通常是指旋转轴是大致为竖直方向的刷子，当然，也可以是其他各种能够实现清洁功能的各种部件。
[0039]本技术实施例提供的清洁设备，通过在清洁设备上设置检测装置2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种清洁设备，其特征在于，包括：清洁部，用于对待清洁表面进行清洁；检测装置，用于检测所述清洁部的物理属性值；处理器，用于获取所述检测装置检测到的所述物理属性值，并利用所述物理属性值与动态设置的标准属性值的比较结果确定所述待清洁表面的脏污程度，基于所述脏污程度调整清洁设备的清洁模式。2.根据权利要求1所述的清洁设备，其特征在于，所述检测装置设置于所述清洁部上，或与所述清洁部相对地设置。3.根据权利要求1所述的清洁设备，其特征在于，所述检测装置包括光学检测装置，用于检测所述清洁部的光学属性值。4.根据权利要求3所述的清洁设备，其特征在于，所述检测装置包括光发射器和光接收器；所述光发射器，用于向所述清洁部发射光信号；所述光接收器，用于接收经由所述清洁部反射后形成的光反射信号，并将所述光反射信号转换为用于表示所述清洁部的光学属性值的第一电信号，将所述第一电信号输出至所述处理器；所述处理器，用于利用所述光学属性值计算所述待清洁表面的脏污程度。5.根据权利要求4所述的清洁设备，其特征在于，所述第一电信号包括用于表示所述光学属性值的电压；所述处理器，用于将所述电压与标准电压进行比较，根据比较结果确定所述待清洁表面的脏污程度；所述标准电压为预先...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜承志，雷鹏，
申请(专利权)人：北京石头世纪科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：