用于生产光学耦合元件的方法技术

技术编号:3171487 阅读:177 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术的一种用于生产光学耦合元件的方法,包括下列步骤:基于待安装的光接收元件的电流放大系数确定发光元件和光接收元件在引线框的每个端头部分的前表面上的安装位置;通过计算确定每个端头部分的弯曲角度和被弯曲后两个元件之间的距离,以实现待生产的光学耦合元件要求的预定电流传输率和内部绝缘距离;通过检测在每个端头部分的前表面上形成的栅格图案的V-型凹槽的交叉点来检测所确定的安装位置;检测凹凸形状并在每个端头部分的前表面的检测到的位置上安装每个元件;和在安装每个元件后,以通过计算确定的弯曲角度弯曲每个端头部分。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于生产通过发光元件和光接收元件传输信号的光学耦合 元件的方法,更具体来讲,涉及用于生产能够确保预定的内部绝缘距离的光 学耦合元件。本申请要求2007年4月11日于日本提出的专利申请No. 2007-104189的优先权,在这里通过引用结合其全部内容。
技术介绍
一般地,电流传输率(Current Transfer Ratio, CTR),即输入前向电流和 输出电流的比率,是光学耦合元件的主要特性。在任何包含了光学耦合元件 的电路的设计中,CTR值必须落在预定的范围内。另夕卜,内部绝缘距离是确定绝缘型光学耦合元件的绝缘特性的一个重要 的指示值。 一般地,内部绝缘距离是指用树脂相互绝缘的发光侧和光接收侧 之间的最短距离,且必须等于或大于由绝缘等级决定的预定距离。因此,建 立确保等于或大于预定水平的内部绝缘距离和CTR值的生产过程是非常重 要的。考虑到如上所述情况,现已提出了减小CTR变化的用于生产光学耦合 元4牛的方法。例如,特开平5-136454A中描述的生产方法被设计来消除发光元件和光 接收元件之间的错位,具体方法是在封装中形成凹部;应用三维金属布线 至凹部以省略引本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于生产光学耦合元件的方法,所述光学耦合元件通过发光元件和光接收元件传输信号,所述方法包括步骤:在发光侧引线框和光接收侧引线框的每个端头部分的前表面上形成凹凸形状,使得能够检测到端头部分的前表面上的多个位置;基于待安装的光接收元件的电流放大系数确定所述发光元件和光接收元件在每个端头部分上的安装位置;通过计算确定所述引线框的每个端头部分的弯曲角度及在弯曲后所述发光元件和光接收元件之间的距离,以实现待生产的光学耦合元件要求的预定电流传输率和内部绝缘距离;通过检测所述引线框的每个端头部分的前表面上的凹凸形状来检测所确定的安装位置;检测凹凸形状并在每个端头部分的前表面上的检测到的位置上安装每个元件...

【技术特征摘要】
JP 2007-4-11 104189/071. 一种用于生产光学耦合元件的方法,所述光学耦合元件通过发光元件和光接收元件传输信号,所述方法包括步骤在发光侧引线框和光接收侧引线框的每个端头部分的前表面上形成凹凸形状,使得能够检测到端头部分的前表面上的多个位置;基于待安装的光接收元件的电流放大系数确定所述发光元件和光接收元件在每个端头部分上的安装位置;通过计算确定所述引线框的每个端头部分的弯曲角度及在弯曲后所述发光元件和光接收元件之间的距离,以实现待生产的光学耦合元件要求的预定电流传输率和内部绝缘距离;通过检测所述引线框的每个端头部分的前表面上的凹凸形状来检测所确定的安装位置;检测凹凸形状并在每个端头部分的前表面上的检测...

【专利技术属性】
技术研发人员:北村武志
申请(专利权)人:夏普株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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