芯片测试装置与芯片测试系统制造方法及图纸

本申请提供了一种芯片测试装置与芯片测试系统。该芯片测试装置包括电源设备和测试设备，其中，电源设备用于为多个待测芯片提供VCC，测试设备，包括第一电源和控制芯片，第一电源与控制芯片电连接以向控制芯片提供VCCQ，第一电源还用于与待测芯片电连接以向待测芯片提供VCCQ，控制芯片用于在VCCQ的控制下产生测试信号并发送至待测芯片。因此，该芯片测试装置，通过采用一个电源同时为控制芯片和待测芯片提供VCCQ的方式，避免了当待测芯片侧有电，测试设备侧没有供电时，会产生电势差的情况，进而解决了现有技术中的测试设备和待测芯片之间的VCCQ来源不同而导致的漏电的问题。片之间的VCCQ来源不同而导致的漏电的问题。片之间的VCCQ来源不同而导致的漏电的问题。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试装置与芯片测试系统


[0001]本申请涉及芯片测试领域，具体而言，涉及一种芯片测试装置与芯片测试系统。

技术介绍

[0002]半导体产品的附加值高、制造成本高，且产品的性能对于日后其用于最终电子商品的功能有关键性的影响。因此，在半导体的生产过程中的每个阶段，对于所生产的半导体IC产品，都有着层层的测试及检验来为产品的质量把关。
[0003]图1示出了一种当前用于测试芯片的架构，电源设备10上有VS1～VS5共计5路电源，给预烧板11上的96个待测芯片12进行供电VCC和VCCQ；测试设备13上也会有第一电源15给控制芯片14供电VCCQ。电源设备10给待测芯片12提供VCCQ的电源电压值和测试设备上第一电源15给控制芯片14提供的VCCQ电源电压设置一致。
[0004]采用上述的芯片测试架构，测试设备和待测芯片之间的VCCQ供电不是源自同一个电源，当待测芯片侧有电，测试设备侧没有供电的时候，会产生电势差，存在漏电的风险，影响芯片的使用寿命。
[0005]因此，亟需一种可以解决测试设备和待测芯片之间的VCCQ来源不本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：电源设备，用于为多个待测芯片提供VCC；测试设备，包括第一电源和控制芯片，所述第一电源与所述控制芯片电连接以向所述控制芯片提供VCCQ，所述第一电源还用于与所述待测芯片电连接以向所述待测芯片提供所述VCCQ，所述控制芯片用于在所述VCCQ的控制下产生测试信号并发送至所述待测芯片。2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试设备还包括：开关器件，包括第一端和第二端，所述开关器件的第一端与所述第一电源电连接，所述开关器件的第二端用于与至少一个所述待测芯片电连接。3.根据权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关器件还包括第三端，所述控制芯片与所述开关器件的第三端电连接以控制所述开关器件的工作状态，所述工作状态包括断开状态和闭合状态。4.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置用于测试多个所述待测芯片，一个所述测试设...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭聪，李康，
申请(专利权)人：长江存储科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：