一种高EAS的VDMOS器件制造技术

技术编号:31180282 阅读:13 留言:0更新日期:2021-12-04 16:24
本实用新型专利技术公开了一种高EAS的VDMOS器件,包括VDMOS管,所述VDMOS管的顶部套接有屏蔽层,且屏蔽层的外壁固定连接有隔温层,所述屏蔽层两侧内壁的中部固定连接有对称设置的自锁组件,且VDMOS管两侧的中部均开设有适配于自锁组件的卡槽。本实用新型专利技术在使用时,隔温层与密封条为VDMOS管共同构建密闭的隔温环境,使VDMOS管的管体温度不受散热元件影响而降温,可以维持高水平的雪崩击穿电压,屏蔽层则保护VDMOS管不受外界电场干扰,多角度提升VDMOS管的使用寿命,自锁组件无需额外的加固步骤,可以伴随隔温层和屏蔽层的下压过程自动锁合卡槽,降低器件的装配成本。降低器件的装配成本。降低器件的装配成本。

【技术实现步骤摘要】
一种高EAS的VDMOS器件


[0001]本技术涉及电子元件
,尤其涉及一种高EAS的VDMOS器件。

技术介绍

[0002]VDMOS兼有双极晶体管和普通MOS器件的优点,这种电流垂直流动的双扩散MOS器件是电压控制型器件。在合适的栅极电压的控制下,半导体表面反型,形成导电沟道,于是漏极和源极之间流过适量的电流。
[0003]雪崩击穿都发生在掺杂浓度较低的PN结中。这种结的阻挡层很宽,随着反向电压的增大,阻挡层内部的电场增强,通过阻挡层的载流子在电场作用下的漂移速度加快,动能增大。当反向电压大到一定数值时,载流子获得的动能足以把束缚在共价键中的价电子碰撞出来,产生自由电子

空穴对。这个过程称为碰撞电离。新产生的自由电子

空穴对,再去碰撞其它中性原子,又产生新的自由电子

空穴对。随着温度的升高,晶格的热振动加剧,致使载流子运动的平均自由路程缩短。因此,在与原子碰撞前由外加电场加速获得的能量减小,发生碰撞电离的可能性也相应减小。在这种情况下,只有提高反向电压,进一步增强电场,才能发生雪崩击穿。
[0004]因此,雪崩击穿电压随温度升高而提高,具有正的温度系数,目前的电子器件通常配备散热组件,降低元器件的环境温度以及阻抗,对于VDMOS管,在温度降低后,EAS会同步降低,发生雪崩击穿的可能性随之增加,过低的环境温度对VDMOS管来说得不偿失,因此亟需设计一种高EAS的VDMOS器件来解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种高EAS的VDMOS器件。
[0006]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:
[0007]一种高EAS的VDMOS器件,包括VDMOS管,所述VDMOS管的顶部套接有屏蔽层,且屏蔽层的外壁固定连接有隔温层,所述屏蔽层两侧内壁的中部固定连接有对称设置的自锁组件,且VDMOS管两侧的中部均开设有适配于自锁组件的卡槽,所述VDMOS管两侧的底部均固定连接有限位板,两个限位板的顶部均固定连接有密封条。
[0008]优选的,所述屏蔽层顶部内壁的中间位置嵌接有定位件,且定位件的底部粘接有缓冲垫,缓冲垫采用泡棉材质。
[0009]优选的,所述VDMOS管的宽度加上两个密封条的最大宽度等于屏蔽层内壁的宽度,且两个密封条相远离一侧的顶部均设置为斜角。
[0010]优选的,所述隔温层两侧内壁的底部均设置有凸条,且两个密封条相远离的一侧均开设有适配于凸条的横槽,密封条采用橡胶材质。
[0011]优选的,所述隔温层采用泡沫塑料材料,且屏蔽层采用铝合金材料。
[0012]优选的,所述自锁组件包括壳体、橡胶球、挡板、卡杆,且壳体固定连接于屏蔽层的
内壁,壳体顶部的一侧开设有收纳腔,卡杆的一端通过销轴转动连接于收纳腔的底部内壁,橡胶球套接于卡杆远离壳体的一端,壳体靠近橡胶球一侧的底部倾斜固定有挡板,挡板靠近卡杆的一侧粘接有垫板,卡杆的杆体开设有适配于垫板的嵌槽,垫板为橡胶材质。
[0013]优选的,所述收纳腔顶部的内壁固定连接有导轨,且导轨的一侧滑动连接有滑块,滑块与卡杆之间转动连接有同一个转向杆,滑块一侧的顶部固定连接有推板,推板顶部的中间位置固定连接有滑杆,滑杆的外部套接有弹簧,滑杆的顶部与壳体的顶部滑动连接。
[0014]与现有技术相比,本技术提供了一种高EAS的VDMOS器件,具备以下有益效果:
[0015]1.通过设置隔温层、屏蔽层、卡槽和自锁组件,隔温层与密封条为VDMOS管共同构建密闭的隔温环境,使VDMOS管的管体温度不受散热元件影响而降温,可以维持高水平的雪崩击穿电压,屏蔽层则保护VDMOS管不受外界电场干扰,多角度提升VDMOS管的使用寿命,自锁组件无需额外的加固步骤,可以伴随隔温层和屏蔽层的下压过程自动锁合卡槽,降低器件的装配成本。
[0016]2.通过设置密封条、凸条和卡槽,密封条相远离一侧的顶部均设置为斜角,隔温层和屏蔽层下压的过程中,便于密封条嵌入屏蔽层与VDMOS管的间隙,密封条嵌入完成后,凸条分别卡入对应横槽的内部,增大密封条的受力面积,进一步加强密封条与屏蔽层之间的稳定性。
[0017]3.通过设置转杆、弹簧和滑块,转杆向上偏转的过程中,转向杆推动滑块、推板和滑杆沿导轨向上滑动,造成弹簧挤压收缩,在橡胶球进入卡槽之后,弹簧的底端受力减小并复位,对卡杆的下偏转进行助力,并对卡杆施加向下的压力,提升锁合机构的稳定性。
附图说明
[0018]图1为本技术提出的一种高EAS的VDMOS器件的结构剖视图;
[0019]图2为本技术提出的一种高EAS的VDMOS器件的自锁组件结构示意图;
[0020]图3为本技术提出的一种高EAS的VDMOS器件的A处结构示意图;
[0021]图4为本技术提出的一种高EAS的VDMOS器件的B处结构示意图。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。
[0023]在本专利的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解,例如,可以是固定相连、设置,也可以是可拆卸连接、设置,或一体地连接、设置。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本专利中的具体含义。
[0024]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0025]参照图1

4,一种高EAS的VDMOS器件,包括VDMOS管1,其特征在于,VDMOS管1的顶部
套接有屏蔽层5,且屏蔽层5的外壁固定连接有隔温层4,屏蔽层5两侧内壁的中部固定连接有对称设置的自锁组件,且VDMOS管1两侧的中部均开设有适配于自锁组件的卡槽6,VDMOS管1两侧的底部均固定连接有限位板7,两个限位板7的顶部均固定连接有密封条8,VDMOS管1安装后,向下按压隔温层4和屏蔽层5,两个自锁组件分别与VDMOS管1的两个卡槽6协同锁合,完成隔温层4和屏蔽层5的安装,两个密封条8填充于屏蔽层5底部的两侧。
[0026]本技术中,屏蔽层5顶部内壁的中间位置嵌接有定位件2,且定位件2的底部粘接有缓冲垫3,缓冲垫3采用泡棉材质,隔温层4和屏蔽层5安装完成后,定位件2抵压在VDMOS管1的顶部,提升VDMOS管1稳定性,缓冲垫3防止定位件2对VDMOS管1造成损伤。
[0027]其中本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高EAS的VDMOS器件,包括VDMOS管(1),其特征在于,所述VDMOS管(1)的顶部套接有屏蔽层(5),且屏蔽层(5)的外壁固定连接有隔温层(4),所述屏蔽层(5)两侧内壁的中部固定连接有对称设置的自锁组件,且VDMOS管(1)两侧的中部均开设有适配于自锁组件的卡槽(6),所述VDMOS管(1)两侧的底部均固定连接有限位板(7),两个限位板(7)的顶部均固定连接有密封条(8)。2.根据权利要求1所述的一种高EAS的VDMOS器件,其特征在于,所述屏蔽层(5)顶部内壁的中间位置嵌接有定位件(2),且定位件(2)的底部粘接有缓冲垫(3),缓冲垫(3)采用泡棉材质。3.根据权利要求1所述的一种高EAS的VDMOS器件,其特征在于,所述VDMOS管(1)的宽度加上两个密封条(8)的最大宽度等于屏蔽层(5)内壁的宽度,且两个密封条(8)相远离一侧的顶部均设置为斜角。4.根据权利要求3所述的一种高EAS的VDMOS器件,其特征在于,所述隔温层(4)两侧内壁的底部均设置有凸条(22),且两个密封条(8)相远离的一侧均开设有适配于凸条(22)的横槽(21),密封条(8)采用橡胶材质。5.根据权利要求1所述的一种高EAS的V...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵喜高
申请(专利权)人:广东可易亚半导体科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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