【技术实现步骤摘要】
一种焊线线弧高度检测装置
[0001]本技术涉及电子元件检测装置,具体是应用于半导体器件封装过程中的焊线线弧高度检测装置。
技术介绍
[0002]传统技术中,产品弧度偏高容易造成封装后产品绝缘不良,所有生产过程中必须对该因素进行监控。焊线线弧高度的检验主要有两种方法;一种时使用测量显微镜,通过聚焦差异的方法对弧高进行检验,该方法检测准确率高,但操作过程较为繁琐,不利于常规批量作业;另一种时通过目测,以参照物为基准,通过人员进行判断和比对,该方法操作较为简便,但人为因素较多,容易造成误判。
[0003]CN206399328U公开一种焊线线弧高度检测治具,包括上盖板和下盖板,在下盖板和下盖板上分别设置对应的凹槽一和凹槽二,在凹槽二的一侧连接设置放置台,将待检测产品放置在放置台上,倾斜该检测治具,通过待检测产品能否顺利通过凹槽一和凹槽二构成的空间,即可非常方便的检测出该产品焊线线弧高度是否标准。但其结构复杂,不能直观观察不合格产品中哪个线弧高度不合格,在多个产品并排通过检测治具时难以认准哪个产品为不合格产品,因此检测效率较低。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种构造简单,检验结果准确,能实现快速高效检验,可以在较短时间内完成批量检验工作的焊线线弧高度检测装置。
[0005]为达到上述目的,本技术的焊线线弧高度检测装置包括轨道底座和检测基准块,所述轨道底座有两个不同深度且相互平行的第一轨道和第二轨道,检测基准块为一平板,挂接在轨道底座的上端面,由检测基准块与第一轨道和第二轨道 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种焊线线弧高度检测装置,其特征在于,包括轨道底座和检测基准块,所述轨道底座有两个不同深度且相互平行的第一轨道和第二轨道,检测基准块为一平板,挂接在轨道底座的上端面,由检测基准块与第一轨道和第二轨道围成的空间形状与待检测产品的形状相匹配。2.根据权利要求1所述检测装置,其特征在于,...
【专利技术属性】
技术研发人员:方逸裕,陈杰辉,李彬,郑庆喜,
申请(专利权)人:汕头华汕电子器件有限公司,
类型:新型
国别省市:
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