一种半导体插接件检测设备及其使用方法技术

本发明专利技术提供了一种半导体插接件检测设备及其使用方法，包括：机架、检测机构和送料部，送料部具有一检测缺口；检测机构包括能够朝向检测缺口滑动的检测板和滑动连接在检测板上的检测滑块，检测滑块上开设有与各引脚一一对应的若干检测盲孔，检测滑块内设置有与检测盲孔一一对应的限位部，检测板上可伸缩地设置有若干切槽刀具，且各切槽刀具与各限位部一一对应，切槽刀具卡入与其对应的限位部，以使检测板被顶紧，引脚插入检测盲孔时能够顶推与其对应的限位部，以使切槽刀具从与其对应的限位部脱出；检测到良品时，检测板能够继续运动至切槽刀具滑出，并且切槽刀具能够向上滑动来实现对物料的切槽加工，从而提高物料的生产效率。从而提高物料的生产效率。从而提高物料的生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体插接件检测设备及其使用方法


[0001]本专利技术涉及检测设备，具体涉及一种半导体插接件检测设备及其使用方法。

技术介绍

[0002]在日常生产中，半导体插接件上需要插接若干引脚，而引脚的数量不足会直接导致此种半导体插接件的报废，而此种半导体插接件的检测通常使用人工目测的方式，在长时间目测相同的产品后，人眼疲劳，导致出现漏检的情况的发生，并且在目测完成后，还需要对此种半导体插接件进行切槽加工，因此，提供一种能够便于目测，并且能够同时进行切槽加工的一种半导体插接件检测设备及其使用方法是很有必要的。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是提供一种能够便于目测，并且能够同时进行切槽加工的一种半导体插接件检测设备及其使用方法：为了解决现有技术中的问题。本专利技术提供了一种半导体插接件检测设备及其使用方法来解决上述问题。
[0004]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种半导体插接件检测设备及其使用方法，包括：机架，所述机架上安装有能够移动的检测机构；送料部，所述送料部设置在所述机架上，所述送料部用于输送带若干引脚的物料，所述送料部具有一检测缺口；所述检测机构包括能够朝向所述检测缺口滑动的检测板和滑动连接在所述检测板上的检测滑块，所述检测滑块上开设有与各引脚一一对应的若干检测盲孔，所述检测滑块内设置有与所述检测盲孔一一对应的限位部，所述检测板上可伸缩地设置有若干切槽刀具，且各所述切槽刀具与各所述限位部一一对应，所述切槽刀具卡入与其对应的所述限位部，以使所述检测板被顶紧，引脚插入所述检测盲孔时能够顶推与其对应的所述限位部，以使所述切槽刀具从与其对应的所述限位部脱出；其中，当所有所述检测盲孔被各引脚插入时，所述检测滑块能够相对所述检测板滑动至各切槽刀具露出，以使所述切槽刀具回弹至与对应引脚相抵并对引脚进行加工；当至少一个所述检测盲孔未插入引脚时，所述切槽刀具保持顶紧所述检测滑块，以使所述检测滑块跟随所述检测板滑动至折弯引脚。
[0005]作为优选，所述检测滑块的底部开设有一第一限位孔；所述限位部包括可滑动设置在所述第一限位孔内的第一限位柱；所述第一限位孔与所述检测盲孔连通，其中，当引脚未插入所述检测盲孔时，所述第一限位柱的伸入所述检测盲孔，所述切槽刀具伸入第一限位孔，所述切槽刀具顶紧所述检测滑块；当所有所述检测盲孔被各引脚插入时，各所述第一限位柱的底部与所述检测滑块的底部齐平，各所述切槽刀具缩回所述检测板，各所述切槽刀具松开所述检测滑块，以使所述检测滑块相对所述检测板滑动至各切槽刀具露出，所述切槽刀具能够回弹至与对应引脚相抵；当至少一个所述检测盲孔未插入引脚时，至少一个所述第一限位柱伸入与其对应的所述检测盲孔，至少一个所述切槽刀具将滑入其对应的所述第一限位孔，所述切槽刀具保持顶紧所述检测滑块，以使所述检测滑块跟随所述检测板滑动至折弯引脚。
[0006]作为优选，所述第一限位孔的侧壁开设有两个限位室，所述限位部还包括设置在所述限位室的底部的第一限位弹簧和于所述第一限位柱的侧壁一体设置的两个限位块，所述限位块的底部与所述第一限位弹簧固定连接；其中，当引脚未插入所述检测盲孔时，所述第一限位柱始终伸入所述检测盲孔。
[0007]作为优选，所述检测板的顶部开设有竖直的贯穿槽，所述贯穿槽内滑动设置有顶推块，所述顶推块顶部开设有第二限位孔，所述切槽刀具设置在所述第二限位孔内，所述切槽刀具的底部与所述第二限位孔的孔底通过第二限位弹簧连接。
[0008]作为优选，所述第一限位柱的顶部靠近所述检测盲孔开口端设置有引导坡面。
[0009]作为优选，所述切槽刀具的顶部设置有引导斜面，其中，当所述切槽刀具完成加工后，所述顶推块向下滑动，然后所述检测板回退，所述引导斜面接触到所述检测滑块，将切槽刀具收回第二限位孔内。
[0010]作为优选，所述检测机构还包括安装在所述机架上的水平气缸和安装在所述水平气缸的活塞杆上的安装底板；所述检测板与安装底板固定连接。
[0011]作为优选，所述检测板的顶部设置有限位侧壁；所述检测滑块的侧壁一体设置有支撑杆，所述支撑杆与所述限位侧壁通过复位弹簧固定连接。
[0012]作为优选，所述半导体插接件检测设备还包括竖直气缸，所述竖直气缸设置在所述检测缺口的上方，并且与所述送料部固定连接，当所述顶推块露出时，所述切槽刀具露出，所述顶推块向上滑动，同时所述竖直气缸工作，所述竖直气缸的活塞杆顶推支撑所述物料，所述切槽刀具对引脚进行加工。
[0013]作为优选，S1、所述送料部将待检测物料送至所述检测缺口；S2、所述水平气缸工作，推动检测板靠近待检测物料；S3、待检测物料的引脚插入所述检测盲孔；S4、当物料为良品时，所述检测滑块被引脚限位，所述检测板继续靠近工件，所述顶推块升起，所述切槽刀具与引脚相抵；当物料为次品时，所述检测滑块跟随检测板靠近工件，将引脚折弯，并由人工取出物料；S5、所述竖直气缸工作，向下挤压物料，同时所述顶推块向上运动，所述切槽刀具进行切槽加工；S6、所述顶推块回落，所述竖直气缸收缩；S7、所述水平气缸收缩。
[0014]本专利技术的有益效果是：1、通过所述送料部能够实现对物料的运送，配合检测机构能够实现自动化检测，提高了检测的效率；2、通过检测机构能够实现对物料的检测，将良品和次品进行一个外观的区分，降低目测的难度，提高了检测效率；3、检测到良品时，所述检测板能够继续运动至切槽刀具滑出，并且切槽刀具能够向上滑动来实现对物料的切槽加工，从而提高物料的生产效率。
附图说明
[0015]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。
[0016]图1是本专利技术检测设备的最优实施例的立体图；图2是本专利技术检测机构的最优实施例的立体图；图3是本专利技术检测机构的最优实施例的爆炸图；图4是本专利技术检测机构的最优实施例的爆炸图；图5是图4中A处的放大图；图6是本专利技术限位部的最优实施例的立体图；图7是本专利技术切槽刀具的最优实施例的立体图；图8是本专利技术检测机构的最优实施例的工作步骤图；图9是本专利技术检测机构的最优实施例的工作步骤图；图10是本专利技术检测机构的最优实施例的工作步骤图；图11是本专利技术检测机构的最优实施例的工作步骤图；图12是本专利技术检测机构的最优实施例的工作步骤图。
[0017]图中：000、引脚；100、机架；200、送料部；210、检测缺口；220、竖直气缸；300、检测机构；310、检测板；311、贯穿槽；312、顶推块；313、第二限位孔；314、限位侧壁；315、顶推气缸；320、检测滑块；321、检测盲孔；322、第一限位孔；3221、限位室；323、支撑杆；324、复位弹簧；330、水平气缸；340、安装底板；400、限位部；410、第一限位柱；411、限位块；412、引导坡面；420、第一限位弹簧；430、第二限位弹簧；500、切槽刀具；510、引导斜面。
具体实施方式
[0018]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体插接件检测设备，其特征在于，包括：机架（100），所述机架（100）上安装有能够移动的检测机构（300）；送料部（200），所述送料部（200）设置在所述机架（100）上，所述送料部（200）用于输送带若干引脚（000）的物料，所述送料部（200）具有一检测缺口（210）；所述检测机构（300）包括能够朝向所述检测缺口（210）滑动的检测板（310）和滑动连接在所述检测板（310）上的检测滑块（320），所述检测滑块（320）上开设有与各引脚（000）一一对应的若干检测盲孔（321），所述检测滑块（320）内设置有与所述检测盲孔（321）一一对应的限位部（400），所述检测板（310）上可伸缩地设置有若干切槽刀具（500），且各所述切槽刀具（500）与各所述限位部（400）一一对应，所述切槽刀具（500）卡入与其对应的所述限位部（400），以使所述检测板（310）被顶紧，所述检测滑块（320）的底部开设有一第一限位孔（322）；所述限位部（400）包括可滑动设置在所述第一限位孔（322）内的第一限位柱（410）；所述第一限位孔（322）与所述检测盲孔（321）连通，所述第一限位柱（410）、所述第一限位孔（322）、所述切槽刀具（500）的横截面相同；引脚（000）插入所述检测盲孔（321）时能够顶推与其对应的所述限位部（400），以使所述切槽刀具（500）从与其对应的所述限位部（400）脱出；其中当所有所述检测盲孔（321）被各引脚（000）插入时，所述检测滑块（320）能够相对所述检测板（310）滑动至各切槽刀具（500）露出，以使所述切槽刀具（500）回弹至与对应引脚（000）相抵并对引脚（000）进行加工；当至少一个所述检测盲孔（321）未插入引脚（000）时，所述切槽刀具（500）保持顶紧所述检测滑块（320），以使所述检测滑块（320）跟随所述检测板（310）滑动至折弯引脚（000）。2.如权利要求1所述的一种半导体插接件检测设备，其特征在于，所述第一限位孔（322）与所述检测盲孔（321）连通，其中当引脚（000）未插入所述检测盲孔（321）时，所述第一限位柱（410）的伸入所述检测盲孔（321），所述切槽刀具（500）伸入第一限位孔（322），所述切槽刀具（500）顶紧所述检测滑块（320）；当所有所述检测盲孔（321）被各引脚（000）插入时，各所述第一限位柱（410）的底部与所述检测滑块（320）的底部齐平，各所述切槽刀具（500）缩回所述检测板（310），各所述切槽刀具（500）松开所述检测滑块（320），以使所述检测滑块（320）相对所述检测板（310）滑动至各切槽刀具（500）露出，所述切槽刀具（500）能够回弹至与对应引脚（000）相抵；当至少一个所述检测盲孔（321）未插入引脚（000）时，至少一个所述第一限位柱（410）伸入与其对应的所述检测盲孔（321），至少一个所述切槽刀具（500）将滑入其对应的所述第一限位孔（322），所述切槽刀具（500）保持顶紧所述检测滑块（320），以使所述检测滑块（320）跟随所述检测板（310）滑动至折弯引脚（000）。3.如权利要求2所述的一种半导体插接件检测设备，其特征在于，所述第一限位孔（322）的侧壁开设有两个限位室（3221），所述限位部（400）还包括设置在所...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑剑华，苏建国，张元元，孙彬，朱建，
申请(专利权)人：南通华隆微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：