一种半导体测试治具制造技术

本发明专利技术公开了一种半导体测试治具，涉及半导体测试用具技术领域，包括基座，基座底面四角均固接有底柱，基座后端面竖向固结有支撑板，且基座顶面的中部固接有工作台，工作台上设有夹紧组件，支撑板的前端面设有固定组件；本发明专利技术通过双向丝杆便于两个夹板相对运动，通过导杆便于夹板稳定移动，进而减少检测时因为位置不同产生的误差；通过压板两侧的导向柱可以使压板下降时不会产生旋转；通过压板顶面的多个槽口便于调节检测组件的位置，便于检测不同位置的半导体；通过检测组件下压时，刚接触到半导体时无法通电，继续下降时，检测组件会通电，减小了检测组件的损耗，便于多次检测半导体，提高了对于半导体进行测试时的安全防护效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体测试用具，尤其涉及一种半导体测试治具。

技术介绍

1、早期的半导体测试治具主要是简单的物理接口，用于连接被测器件和测试设备。这些治具通常由金属夹具、针状探针等组成，手工布线，测试人员需要手动操作进行测试。

2、现有的半导体测试治具通常由夹具和探针组成，通过测试人员手动操作探针进行测试半导体；在进行电测试时，测试人员手动操作灵动性更好，在进行少量的半导体测试时，测试人员手动操作是最好的，但是需要进行大量多次的半导体测试时，测试人员手动操作的人为因素比较大，不仅是会带来误差、影响测试结构，而且在通电测试时的安全性不足；因此，需对上述问题进行改善处理。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体测试治具。

2、为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种半导体测试治具，包括基座，所述基座底面四角均固接有底柱，所述基座后端面竖向固结有支撑板，且所述基座顶面的中部固接有工作台，所述工作台上设有夹紧组件，所述支撑板的前端面设有固本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体测试治具，包括基座（1），其特征在于：所述基座（1）底面四角均固接有底柱（2），所述基座（1）后端面竖向固结有支撑板（3），且所述基座（1）顶面的中部固接有工作台（4），所述工作台（4）上设有夹紧组件，所述支撑板（3）的前端面设有固定组件；所述夹紧组件包括横向开设在工作台（4）顶面的滑槽，且所述工作台（4）内横向开设有两个等距的导向槽，所述工作台（4）顶面前端的导向槽内横向设有双向丝杆（5），所述工作台（4）顶面后端的导向槽内横向固接有导杆（6），所述双向丝杆（5）一端固接有手轮（7），且所述双向丝杆（5）通过两端固接有轴承（9）转动连接在工作台（4）内，所述导杆（6）通过...

【技术特征摘要】

1.一种半导体测试治具，包括基座（1），其特征在于：所述基座（1）底面四角均固接有底柱（2），所述基座（1）后端面竖向固结有支撑板（3），且所述基座（1）顶面的中部固接有工作台（4），所述工作台（4）上设有夹紧组件，所述支撑板（3）的前端面设有固定组件；所述夹紧组件包括横向开设在工作台（4）顶面的滑槽，且所述工作台（4）内横向开设有两个等距的导向槽，所述工作台（4）顶面前端的导向槽内横向设有双向丝杆（5），所述工作台（4）顶面后端的导向槽内横向固接有导杆（6），所述双向丝杆（5）一端固接有手轮（7），且所述双向丝杆（5）通过两端固接有轴承（9）转动连接在工作台（4）内，所述导杆（6）通过两端固接有挡片（8）固定连接在工作台（4）内，所述工作台（4）顶面两端设有夹板（10），所述夹板（10）下端分别螺纹连接在双向丝杆（5）和套接在导杆（6）上。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述固定组件包括横向固接在支撑板（3）前端面的两侧上端的固定环（12），所述固定环（12）与基座（1）之间设有导向柱（11），所述导向柱（11）底面固接在基座（1）顶面上、上端固接在固定环（12）内侧。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述固定组件还包括竖向固接在支撑板（3）前端面的中部上端的固定板（15），所述固定板（15）前端面纵向固接有c型架（16），所述c型架（16）下端竖向固接有套...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑剑华，苏建国，张元元，孙彬，朱建，
申请(专利权)人：南通华隆微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：