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本发明公开了一种半导体测试治具，涉及半导体测试用具技术领域，包括基座，基座底面四角均固接有底柱，基座后端面竖向固结有支撑板，且基座顶面的中部固接有工作台，工作台上设有夹紧组件，支撑板的前端面设有固定组件；本发明通过双向丝杆便于两个夹板相对运...
该专利属于南通华隆微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南通华隆微电子股份有限公司授权不得商用。

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