【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路输出信号检查方法及装置。
技术介绍
现在的动态存储模块的操作频率正变得越来越快。动态存储模块的初始类型规格中的数据定义了此处存储模块的个别信号彼此间之时序关系。这些在规格书上的数据必须对存储模块的客户而保证。现在用以量测动态随机存储模块信号的时间运作试系统不再满足这样的需求,尤其是当量测存储模块输出信号的时间运作时。当使用该测试系统时,这里的量测的不准确性较大,而随后也被允许成为在规格书上所约定的值。有许多不同的方法来克服上述的问题。为了保证此一不再可以被量测的时间操作输出值,本文将试图利用所谓的这些关于存储模块的坚实设计。此外,也将试图提供一新奇的测试系统,能够检查存储模块信号之间的时序关系是否遵循规格书上的这些约定值。在坚实设计的情况下,将试图装配一存储模块的输出时间操作独立于制造流程波动性。在本文中,重要的因素将不再是,例如晶体管特定的启动电压或是存储模块上线路的电阻值是否位在想要的容许范围内。因此,在设计或电路布局方面,许多努力是用来确保动态存储模块的个别的装置以及因此所选择的信号的输出时间操作是完全独立于制程的忍受度。然而这样也 ...
【技术保护点】
一种用于检查信号是否通过一根据预先定义规格的集成电路的一写入电路(6,8)输出的方法; 其中所使用的一第一数据信号与一关联之第二信号彼此间具有一时序关系; 其中该规格定义了该第一数据信号与该第二数据信号间的一时间偏移极限值,在此该第一数据信号被正确读取; 其中该集成电路具有一读取电路(5),用以读取所述信号; 其中该集成电路具有至少二终端(2,3),其用于施加该第一与该第二数据信号;以及 其中各该终端(2,3)连接至该写入电路(6,8)与该读取电路(5); 该方法包含下列步骤: a)在分别指定之终端(2,3)处提供一外部第一标准化数 ...
【技术特征摘要】
DE 2003-9-5 10340917.31.一种用于检查信号是否通过一根据预先定义规格的集成电路的一写入电路(6,8)输出的方法;其中所使用的一第一数据信号与一关联之第二信号彼此间具有一时序关系;其中该规格定义了该第一数据信号与该第二数据信号间的一时间偏移极限值,在此该第一数据信号被正确读取;其中该集成电路具有一读取电路(5),用以读取所述信号;其中该集成电路具有至少二终端(2,3),其用于施加该第一与该第二数据信号;以及其中各该终端(2,3)连接至该写入电路(6,8)与该读取电路(5);该方法包含下列步骤a)在分别指定之终端(2,3)处提供一外部第一标准化数据信号与一关联之外部第二标准化数据信号,该外部第一标准化数据信号与该外部第二标准化数据信号以彼此间所具有之根据一时间偏移极限值之时序上的一偏移量而被传导至该读取电路(5),以及b)检查该读取电路(5)是否正确读出该第一标准化数据信号。2.如权利要求1所述的方法,其中包含下列步骤c)透过所述终端(2,3)通过待检查的该写入电路(6,8)将第一测试数据信号与关联之第二测试数据信号提供至该读取电路(5),该第一与第二测试数据信号彼此间具有一根据一时间偏移极限值之时序关系,因此该测试数据通过该第一测试数据信号与该第二测试数据信号而被该读取电路(5)所接收;以及d)比较所提供之测试数据与该读取电路(5)所接收的所述测试数据,如果所提供之测试数据与该接收数据不同,则一误失被检测。3.如权利要求1所述的方法,其中该第二数据信号被具体化为一数据取样信号,而该第二标准化数据信号被具体化为一标准化数据取样信号。4.如权利要求1所述的方法,其中该第二测试数据信号被具体化为一测试数据取样信号。5.如权利要求1项或第2所述的方法,其中该时间偏移极限值定义一最大允许设定时间及/或一最小必须保持时间。6.如权利要求3项至第5项中任一所述的方法,其中该时间偏移值于该外部标准化数据信号与该外部标准化数据取样信号之间产生变化,在此期间该读取电路(5)发生对该外部标准化数据信号检测与非检测间之一改变,且其中当该改变发生时,该时间偏移值被检测为该时间偏移极限值。7.如权利要求6所述的方法,其中该时间偏移值使用一设定电路(4)而增量改变,其中当该外部标准化数据信号具有一自非检测至检测之改变时,则设定一最后引起该外部标准化数据信号之非检测的时间偏移值,或当该外部标准化数据信号具有一自检测至非检测之改变时,则设定一首先引起该外部标准化数据信号之非检测的时间偏移值。8.如权利要求6项或第7所述的方法,其中一时间偏移值于该外部标准化数据信号之一上升及/或一下降边缘与该外部标准化数据信号之一关联之边缘间设定。9.如权利要求6项或第7所述的方法,其中一时间偏移值于该外部标...
【专利技术属性】
技术研发人员:P比尔,A施拉姆,M维森,
申请(专利权)人:因芬尼昂技术股份公司,
类型:发明
国别省市:DE[德国]
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