本发明专利技术公开了一种SSD固态硬盘测试方法，包括以下步骤：步骤S1：对SSD固态硬盘的抗压强度检测，并判定抗压强度检测是否合格；是，进入步骤S2；否，停止检测等步骤。本发明专利技术通过轨迹型测试法对SSD固态硬盘的性能进行测试，很好的模拟了真实应用情形，同时，通过CrystalDiskMark软件对固态硬盘的最高传输速率、最低传输速率、平均传输速率、随机存取时间、突发数据传输速率、读写速率多个项目进行测试，确保了固态硬盘的性能测试的充分性、准确性，本发明专利技术很好的解决了现有的SSD固态硬盘测试方法与实际使用情况存在差距，易受系统限制，测试结果精确度差的问题。测试结果精确度差的问题。测试结果精确度差的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种SSD固态硬盘测试方法
[0001]本专利技术涉及固态硬盘
，具体为一种SSD固态硬盘测试方法。
技术介绍
[0002]SSD即固态硬盘，又称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘。固态硬盘由控制单元和存储单元(FLASH芯片、DRAM芯片)组成。固态硬盘在生产加工完成后，需要对其进行测试，以便获取相关性能参数。
[0003]目前传统的固态硬盘测试方法与实际使用情况存在差距，并且易受系统限制，从而使得固态硬盘的测试结果产生偏差，继而影响性能测试结果的准确性。
技术实现思路
[0004]本专利技术解决的技术问题在于克服现有技术的固态硬盘测试方法与实际使用情况存在差距，并且易受系统限制，从而使得固态硬盘的测试结果产生偏差，继而影响性能测试结果的准确性等缺陷，提供一种SSD固态硬盘测试方法。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种SSD固态硬盘测试方法，包括以下步骤：
[0006]步骤S1：对SSD固态硬盘的抗压强度检测，并判定抗压强度检测是否合格；是，进入步骤S2；否，停止检测；
[0007]步骤S2：对SSD固态硬盘进行耐高温强度检测，并判定耐高温强度检测是否合格；是，待SSD固态硬盘冷却后返回步骤S1，重复上述步骤三次以上后，进入步骤S3；否，停止检测；
[0008]步骤S3：对高温状态下的SSD固态硬盘进行性能测试，判定SSD固态硬盘在高温下的各项性能是否稳定；是，SSD固态硬盘高温性能测试，合格，进入步骤S4；否，SSD固态硬盘高温性能测试，不合格，检测结束；
[0009]步骤S4：对测试数据进行记录，作为同类型SSD固态硬盘高温性能测试参照，记录完成后，检测结束。
[0010]其中，步骤S1中的SSD固态硬盘的抗压强度检测包括以下步骤：
[0011](1)将被测试的SSD固态硬盘转移至检测台上，并进行
[0012]夹持固定，避免SSD固态硬盘在检测过程中发生晃动；
[0013](2)初始化抗压强度检测设备，设定基准抗压值；
[0014](3)启动抗压强度检测设备，并观测SSD固态硬盘在受压过程中是否弯曲或损坏；是，判定SSD固态硬盘的抗压强检测不合格，停止测试；否，判定SSD固态硬盘的抗压强检测合格。
[0015]作为本专利技术的进一步方案，所述步骤S2中的SSD固态硬盘进行耐高温强度检测包括以下步骤：
[0016]a、将抗压强检测合格的SSD固态硬盘转移至温控仓内；
[0017]b、对温控仓进行初始化，设定耐高温强度检测的基准温度值和基准温度下的检测时间；
[0018]c、启动温控仓，使温控仓内的温度达到设定的基准温度值，待完成基准温度下的检测时间后，将SSD固态硬盘取出，通电SSD固态硬盘是否能正常使用；是，耐高温强度检测，合格；否，耐高温强度检测，不合格。
[0019]作为本专利技术的进一步方案，所述步骤S3中的SSD固态硬盘进行性能测试的方法为轨迹型测试法，且轨迹型测试法，包括以下步骤：
[0020]①
选择SSD固态硬盘性能测试的测试轨迹来源；
[0021]②
对测试轨迹来源的测试参数进行设定，设定各测试项目的基准值；
[0022]③
通过设定的测试参数，对SSD固态硬盘的各测试项目进行测试，得到SSD固态硬盘的各项目测试值；
[0023]④
将得到SSD固态硬盘的各项目测试值与设定各测试项目的基准值进行逐一比对，并进行记录，通过各测试项目值比对结果判定SSD固态硬盘高温下的性能是否正常；是，SSD固态硬盘性能合格；否，SSD固态硬盘性能不合格。
[0024]作为本专利技术的进一步方案，所述步骤
①
中的测试来源为预装有CrystalDiskMark软件的电脑，且该预装电脑未进行加速设置，确保测试的准确度。
[0025]作为本专利技术的进一步方案，所述步骤
②
中测试轨迹来源中的测试参数设定为对CrystalDiskMark软件中的测试规模参数、测试次数和测试项目参数进行设定；其中，测试规模参数为50MB～4000MB，测试次数为1～9次；所述测试项目参数中包括连续读写测试参数和随机读写测试参数，连续读写测试参数为块大小＝1028KB，随机读写测试参数为块大小＝6KB，深度＝36。
[0026]作为本专利技术的进一步方案，所述步骤
②
中的SSD固态硬盘的各测试项目为SSD固态硬盘的最高传输速率、最低传输速率、平均传输速率、突发数据传输速率、随机存取时间以及读写速率，且上述各项目的设定的基准值为测试SSD固态硬盘的核定值。
[0027]作为本专利技术的进一步方案，所述步骤
④
中对各项目测试值进行比对时，先将SSD固态硬盘的随机存取时间测试值与基准随机存取时间基准值进行比对，通过比对结果判定SSD固态硬盘的随机存取性能是否正常；是，进入最高传输速率、最低传输速率、平均传输速率、突发数据传输速率以及读写速率项目的比对；否，停止测试，测试结束。
[0028]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0029](1)本专利技术通过可对SSD固态硬盘分别进行抗压强度检测和耐高温强度检测以及性能测试相配合，可实现对SSD固态硬盘的结构性能和使用性能两方面对的测试，提高了对SSD固态硬盘测试的有效性和完整性。
[0030](2)本专利技术通过轨迹型测试法对SSD固态硬盘的性能进行测试，很好的模拟了真实应用情形，同时，通过CrystalDiskMark软件对固态硬盘的最高传输速率、最低传输速率、平均传输速率、随机存取时间、突发数据传输速率、读写速率多个项目进行测试，确保了固态硬盘的性能测试的充分性、准确性，本专利技术很好的解决了现有的SSD固态硬盘测试方法与实际使用情况存在差距，易受系统限制，测试结果精确度差的问题。
附图说明
[0031]图1为本专利技术的测试方法的流程图。
[0032]图2为本专利技术的抗压强度检测的流程图。
[0033]图3为本专利技术的耐高温强度检测的流程图。
[0034]图4为本专利技术的性能测试的流程图。
具体实施方式
[0035]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]实施例一
[0037]如图1，本专利技术的一种SSD固态硬盘测试方法，包括以下步骤：
[0038]步骤S1：对SSD固态硬盘的抗压强度检测，并判定抗压强度检测是否合格；是，进入步骤S2；否，停止检测。如图2所示，该步骤中的SSD固态硬盘的抗压强度检测包括以下步骤：
[0039](1)将被测试的SSD固态硬盘转移至检测台上，并进行
[00本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种SSD固态硬盘测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：对SSD固态硬盘的抗压强度检测，并判定抗压强度检测是否合格；是，进入步骤S2；否，停止检测；步骤S2：对SSD固态硬盘进行耐高温强度检测，并判定耐高温强度检测是否合格；是，待SSD固态硬盘冷却后返回步骤S1，重复上述步骤三次以上后，进入步骤S3；否，停止检测；步骤S3：对高温状态下的SSD固态硬盘进行性能测试，判定SSD固态硬盘在高温下的各项性能是否稳定；是，SSD固态硬盘高温性能测试，合格，进入步骤S4；否，SSD固态硬盘高温性能测试，不合格，检测结束；步骤S4：对测试数据进行记录，作为同类型SSD固态硬盘高温性能测试参照，记录完成后，检测结束。其中，步骤S1中的SSD固态硬盘的抗压强度检测包括以下步骤：(1)将被测试的SSD固态硬盘转移至检测台上，并进行夹持固定，避免SSD固态硬盘在检测过程中发生晃动；(2)初始化抗压强度检测设备，设定基准抗压值；(3)启动抗压强度检测设备，并观测SSD固态硬盘在受压过程中是否弯曲或损坏；是，判定SSD固态硬盘的抗压强检测不合格，停止测试；否，判定SSD固态硬盘的抗压强检测合格。2.根据权利要求1所述的一种SSD固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤S2中的SSD固态硬盘进行耐高温强度检测包括以下步骤：a、将抗压强检测合格的SSD固态硬盘转移至温控仓内；b、对温控仓进行初始化，设定耐高温强度检测的基准温度值和基准温度下的检测时间；c、启动温控仓，使温控仓内的温度达到设定的基准温度值，待完成基准温度下的检测时间后，将SSD固态硬盘取出，通电SSD固态硬盘是否能正常使用；是，耐高温强度检测，合格；否，耐高温强度检测，不合格。3.根据权利要求2所述的一种SSD固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤S3中的SSD固态硬盘进行性能测试的方法为轨迹型测试法，且轨迹型测试法，包括以下步骤：
①
选择SSD固态硬盘性能测试的测试轨迹来源；
②
对测试轨迹来源的测...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜秋平，李亚飞，易淼，陈惠玲，
申请(专利权)人：成都思科瑞微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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