一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端制造方法及图纸

本文公开一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端，包括：统计向固态硬盘(SSD)写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；根据统计的写入速度确定SSD的单层单元(SLC)高速缓冲的性能；其中，第一预设数量的取值大于SSD的SLC高速缓冲大小的数值本发明专利技术实施例仅向SSD进行大于SLC高速缓冲大小的数据的写入，避免了由于遍历测试造成的时间消耗和人力资源消耗，通过向SSD写入预设数值的数据时的写入速度，确定SSD的SLC高速缓冲的性能，提升了固态硬盘的测试效率。提升了固态硬盘的测试效率。提升了固态硬盘的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端


[0001]本文涉及但不限于硬盘测试技术，尤指一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端。

技术介绍

[0002]固态硬盘(SSD)工作时内部需要使用闪存转换层(FTL，Flash TranslationLayer)算法，FTL算法主要用于完成主机(Host)的逻辑地址到闪存(Flash) 的物理地址的转换，其复杂度在于对不同与非门闪存(NAND)颗粒的支持采用不同的算法策略，不同NAND颗粒表现不同的应用特征，因此，SSD的研发和量产测试一直都很困难。
[0003]目前，为了满足SSD研发和量产，一般都通过加大样本量和测试时长来获得满足可靠性和稳定性的测试，包括：SLC高速缓冲的性能测试和SSD的压力测试等；测试时基于黑盒原理对SSD进行遍历测试，需要技术人员编辑大量测试用例，测试时长一般需要持续半年以上，当SSD固件进行了迭代更新，则必须重新进行测试。
[0004]上述方法测试时间长、需要耗费大量的人力资源，测试效率低，影响了 SSD的研发与应用。

技术实现思路

[0005]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0006]本专利技术实施例提供一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端，能够降低硬盘测试的时间和人力资源消耗，提升固态硬盘的测试效率。
[0007]本专利技术实施例提供了一种实现硬盘测试的方法，包括：
[0008]统计向固态硬盘SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；
[0009]根据统计的写入速度确定SSD的单层单元SLC高速缓冲的性能；
[0010]其中，所述第一预设数量的取值大于所述SSD的SLC高速缓冲大小的数值。
[0011]另一方面，本专利技术实施例还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述实现硬盘测试的方法。
[0012]再一方面，本专利技术实施例还提供一种终端，包括：存储器和处理器，所述存储器中保存有计算机程序；其中，
[0013]处理器被配置为执行存储器中的计算机程序；
[0014]所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上述实现硬盘测试的方法。
[0015]还一方面，本专利技术实施例还提供一种实现硬盘测试的装置，包括：统计单元和确定单元；其中，
[0016]统计单元设置为：统计向固态硬盘SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；
[0017]确定单元设置为：根据统计的写入速度确定SSD的SLC高速缓冲的性能；
[0018]其中，所述第一预设数量的取值大于所述SSD的SLC高速缓冲大小的数值。
[0019]本申请技术方案包括：统计向固态硬盘(SSD)写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；根据统计的写入速度确定SSD的单层单元(SLC)高速缓冲的性能；其中，第一预设数量的取值大于SSD的SLC高速缓冲大小的数值本专利技术实施例仅向SSD进行大于SLC高速缓冲大小的数据的写入，避免了由于遍历测试造成的时间消耗和人力资源消耗，通过向SSD写入预设数值的数据时的写入速度，确定SSD的SLC高速缓冲的性能，提升了固态硬盘的测试效率。
[0020]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0021]附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案，并不构成对本专利技术技术方案的限制。
[0022]图1为本专利技术实施例实现硬盘测试的方法的流程图；
[0023]图2为本专利技术实施例实现硬盘测试的装置的结构框图。
具体实施方式
[0024]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
[0025]在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
[0026]图1为本专利技术实施例实现硬盘测试的方法的流程图，如图1所示，包括：
[0027]步骤101、统计向固态硬盘(SSD)写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；
[0028]在一种示例性实例中，本专利技术实施例中的第一预设数量的取值大于SSD 的单层单元(SLC，Single
‑
Level Cell)高速缓冲(Cache)大小的数值。这里，本专利技术实施例预设数值只要大于SLC高速缓冲大小即可；具体数据量可以由本领域技术人员根据经验设定。
[0029]在一种示例性实例中，本专利技术实施例可以通过带有读写性能统计功能的测试脚本进行数据写入和写入速度的统计。
[0030]步骤102、根据统计的写入速度确定SSD的SLC高速缓冲的性能。
[0031]本专利技术实施例仅向SSD进行大于SLC高速缓冲大小的数据的写入，避免了由于遍历测试造成的时间消耗和人力资源消耗，通过向SSD写入预设数值的数据时的写入速度，确定SSD的SLC高速缓冲的性能，提升了固态硬盘的测试效率。
[0032]在一种示例性实例中，统计向SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度之前，本专利技术实施例方法还包括：
[0033]获取SLC高速缓冲大小。
[0034]在一种示例性实例中，本专利技术实施例通过预设协议获取SLC高速缓冲大小的数值；
预设协议可以包括本领域技术人员公知的算法协议。
[0035]在一种示例性实例中，本专利技术实施例根据统计的写入速度确定SSD的 SLC高速缓冲的性能，包括：
[0036]将写入速度与预设的与非门(NAND)读写理论速度值进行比对，获得比对结果；
[0037]根据比对结果确定SLC高速缓冲的性能。
[0038]在一种示例性实例中，本专利技术实施例写入速度与NAND读写理论速度值的比对可以通过：根据统计的写入速度绘制为曲线图后，通过曲线图实现写入速度与NAND读写理论速度值进行比对；获得比对结果后，SLC高速缓冲的性能可以参照相关技术中的测试理论确定，在此不做赘述。
[0039]在一种示例性实例中，确定SLC高速缓冲的性能不满足预先设定的设计要求时，本专利技术实施例方法还包括：反馈确定的SLC高速缓冲的性能。
[0040]在一种示例性实例中，统计向SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度之后，本专利技术实施例方法还包括：
[0041]删除写入SSD的第一数据。
[0042]在一种示例性实例中，本专利技术实施例可以通过脚本命令下发功能下发除去(trim)本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种实现硬盘测试的方法，包括：统计向固态硬盘SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；根据统计的写入速度确定SSD的单层单元SLC高速缓冲的性能；其中，所述第一预设数量的取值大于所述SSD的SLC高速缓冲大小的数值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计的写入速度确定SSD的SLC高速缓冲的性能，包括：将所述写入速度与预设的与非门NAND读写理论速度值进行比对，获得比对结果；根据所述比对结果确定所述SLC高速缓冲的性能。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述统计向SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度之后，所述方法还包括：删除写入SSD的所述第一数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：记录从所述向SSD写入所述第一数据到所述删除写入SSD的所述第一数据的第一时间长度；统计向SSD写入第二预设数量的第二数据的写入速度，删除写入SSD的所述第二数据，记录从所述向SSD写入所述第二数据到所述删除写入SSD的所述第二数据的第二时间长度，将所述第二时间长度与所述第一时长长度相加，获得时间总长度；所述时间总长度小于预设时长时，继续执行：统计向SSD写入所述第二数据的写入速度，删除写入SSD的所述第二数据，记录从所述向SSD写入所述第二数据到所述删除写入SSD的所述第二数据的第二时间长度，将所述第二时间长度累加至所述时间总长度；直至累加获得的所述时间总长度大于或等于所述预设时长时停止；根据统计的向SSD写入所述第一数据的写入速度和向SSD写入所述第二数据的写入速度，确定所述SSD的压力测试结果。5.一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1～4中任一项所述的实现硬盘测试的方法。6.一种终端，包括：存储器和处理器，所述存储器中保存有计算机程序；其中，处理器被配置为执行存储器中的计算机程序；所述计算机程序被...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴莉莉，张志，张明，李蒙蒙，
申请(专利权)人：合肥大唐存储科技有限公司，
类型：发明
国别省市：