一种光电子器件测试方法技术

本发明专利技术属于光电子器件技术领域，公开了一种光电子器件测试方法，步骤如下：将待测试的光模块与操作模块连接；通过操作模块输入待测试的光模块的型号；对待测试的光模块进行测试；测试完成后，参照数据进行对比，当对比的数据差距较大后，再进行重新测试；测试设备进行存储测试数据，从而完成测试。本发明专利技术在对待测光模块第一次测试完成后，测试数据和对比信息存在差异时，并且为了保证待测试光模块测试的精准度，需要反复测试时，不再需要将待检测的光模块的型号进行重新输入、并且不再需要对光谱段和测试机型进行重新选择，简化了重新测试的步骤，减少重新测试时，以及输入光模块型号信息的时间，提高光模块重新测试的工作效率。提高光模块重新测试的工作效率。提高光模块重新测试的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光电子器件测试方法


[0001]本专利技术属于光电子器件
，具体涉及一种光电子器件测试方法。

技术介绍

[0002]光电子器件利用电
‑
光子转换效应制成的各种功能器件，其中光电子器件包括光模块、半导体二极管、半导体激光器和光学纤维等。其中在对光模块进行测试时，常见的测试设备有眼球仪测试仪、光谱测试仪、光功率测试仪和交换机读取DDM信息测试等。
[0003]由于光模块测试所需要的测试设备较多，且设备价格较为昂贵，为便于检测，可能会将不同设备制作成模拟程序，并且将这些模拟程序植入到单一的测试设备中，使这个单一的设备起到不同测试仪器的效果。在测试时通过将光模块型号输入到测试设备中，并且选择需要测试的设备对光模块进行测试。当测试完成后，少数情况下，测试的光模块数值与标准数值产生偏差，为了保证测试的准确度，可能需要进行再次测试。但在进行再次测试时，可能需要重新将光模块的型号和测试机型重新输入进去，可能使得在对光模块重新测试时较为繁琐。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种光电子器件测试方法，以解决上述
技术介绍
中提出现有技术中的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种光电子器件测试方法，包括测试系统，所述测试系统包括依次连接的服务端模块、操作模块及测试设备；利用所述测试系统对光模块测试时，步骤如下：S1、将待测试的光模块与操作模块连接；S2、通过所述操作模块输入待测试的光模块的型号，获取相应的检测信息并传输到测试设备和服务端模块中；S3、当所述测试设备收到指令后，将所述服务端模块中的数据调出，对待测试的光模块进行测试；S4、测试完成后，通过所述服务端模块将测试结果输出并显示，并与参照数据进行对比，当对比的数据差距较大后，再进行重新测试；S5、判断是否需要重新测试，如需要则执行S6，如不需要则执行S7；S6、重新测试时，所述服务端模块将光模块信息进行显示，测试人员查看信息无误后，再重新操作S3中的步骤，随后测试完成后，重复S4的步骤；S7、当重新测试的结果误差在可控范围内后，所述测试设备将测试结果和参照数据传输到服务端模块中进行存储，从而完成测试。
[0006]进一步的，所述服务端模块包括：用于对光谱库、仪器库和对比库进行信息存储的第一信息存储模块；
用于对选择信息和待测试光模块的信息存储的第二信息存储模块；用于对测试信息和参照对比结果的信息存储的第三信息存储模块。
[0007]进一步的，所述服务端模块还包括：选择模块，可对光谱波段和仪器模拟机进行机选。
[0008]进一步的，所述服务端模块还包括：重测模块，通过设定的程序可对检测结果进行重测判断。
[0009]进一步的，所述服务端模块还包括：提供对测试数据进行参照的参照模块、输出模块和输入模块，其中光谱库、仪器库和对比库用于对光谱波段、模拟测试仪器型号和对比数据进行信息存储。
[0010]进一步的，所述操作模块包括：与待测光模块连接的插口模块、输入待测光模块信息的人机交互平台和用于显示信息的显示模块，所述显示模块为液晶显示屏。
[0011]进一步的，在执行S2时，包括：在人机交互平台上输入待测试光模块型号，同时分别从光谱库和仪器库中挑选光谱波段和测试仪器型号，并且通过传输模块将待测试光模块型号、光谱库和仪器中挑选的光谱段和仪器型号，传输到测试设备和第二信息存储模块中；光谱库中存储有若干组不同波段的光谱数据，所述仪器库中存储有不同的测试仪器模拟程序，所述对比库中存储有若干组不同光谱、测试仪器和光模块相互交叉匹配组成标准测试数据；所述人机交互平台为鼠标键盘或触控屏幕中的一种。
[0012]进一步的，在执行S3时，包括：当测试设备收到指令后，测试设备将第一信息存储模块中光谱库和仪器库内存储的数据调出，将选取的测试仪器控制面板显示在显示模块上，同时将选定频率波段的光谱通过插口模块模拟到待测试光模块内，从而对待测试的光模块进行测试。
[0013]进一步的，在执行S4时，包括：测试完成后，通过输出模块将测试结果输出到显示模块上，并且在将测试结果显示在显示模块上时，参照模块将第一信息存储模块中对比库内的参照数据调出，同时显示在显示模块上，测试人员通过显示模块上显示的参照数据和测试数据进行对比，当对比的数据差距较大后，再进行重新测试；当测试数据与参照数据偏差在可控范围内时，测试设备直接通过输出端将数据传输到第三信息储存模块中。
[0014]进一步的，在执行S5时，包括：重新测试时，重测模块将第二信息存储模块中存储的光模块型号、光谱段和测试仪器挑选信息重新显示在显示模块上，测试人员查看信息无误后，继续进行。
[0015]本专利技术的技术效果和优点：本专利技术提出的一种光电子器件测试方法，与现有技术相比，具有以下优点：本专利技术在对待测光模块第一次测试完成后，测试数据和对比信息存在差异时，并且为了保证待测试光模块测试的精准度，需要反复测试时，不再需要将待检测的光模块的型号进行重新输入、并且不再需要对光谱段和测试机型进行重新选择，简化了重新测试的步骤，减少重新测试时，以及输入光模块型号信息的时间，提高光模块重新测试的工作效率。
附图说明
[0016]图1为本专利技术一种光电子器件测试方法的流程图；图2为本专利技术测试系统的框图。
具体实施方式
[0017]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0018]本专利技术实施例中提出了光电子器件的测试系统，如图2所示的，该测试系统包括依次连接的服务端模块、操作模块及测试设备。
[0019]所述服务端模块包括：用于对光谱库、仪器库和对比库进行信息存储的第一信息存储模块；用于对选择信息和待测试光模块的信息存储的第二信息存储模块；用于对测试信息和参照对比结果的信息存储的第三信息存储模块。
[0020]还包括：选择模块，可对光谱波段和仪器模拟机进行机选。
[0021]还包括：重测模块，通过设定的程序可对检测结果进行重测判断。
[0022]还包括：提供对测试数据进行参照的参照模块、输出模块和输入模块，其中光谱库、仪器库和对比库用于对光谱波段、模拟测试仪器型号和对比数据进行信息存储。
[0023]所述操作模块包括：与待测光模块连接的插口模块、输入待测光模块信息的人机交互平台和用于显示信息的显示模块，所述显示模块为液晶显示屏。
[0024]实施例1在本实施例中，基于光电子器件的测试系统，提供了如图1所示的一种光电子器件测试方法，利用所述测试系统对光模块测试时，步骤如下：S1、将待测试的光模块与插口模块连接，在将待测试的光模块与插口模块连接时，需要确保插口模块的插口和待测试光模块插本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光电子器件测试方法，包括测试系统，其特征在于，所述测试系统包括依次连接的服务端模块、操作模块及测试设备；利用所述测试系统对光模块测试时，步骤如下：S1、将待测试的光模块与操作模块连接；S2、通过所述操作模块输入待测试的光模块的型号，获取相应的检测信息并传输到测试设备和服务端模块中；S3、当所述测试设备收到指令后，将所述服务端模块中的数据调出，对待测试的光模块进行测试；S4、测试完成后，通过所述服务端模块将测试结果输出并显示，并与参照数据进行对比，S5、判断是否需要重新测试，如需要则执行S6，如不需要则执行S7；S6、重新测试时，所述服务端模块将光模块信息进行显示，测试人员查看信息无误后，再重新操作S3中的步骤，随后测试完成后，重复S4的步骤；S7、当重新测试的结果误差在可控范围内后，所述测试设备将测试结果和参照数据传输到服务端模块中进行存储，从而完成测试。2.根据权利要求1所述的一种光电子器件测试方法，其特征在于：所述服务端模块包括：用于对光谱库、仪器库和对比库进行信息存储的第一信息存储模块；用于对选择信息和待测试光模块的信息存储的第二信息存储模块；用于对测试信息和参照对比结果的信息存储的第三信息存储模块。3.根据权利要求2所述的一种光电子器件测试方法，其特征在于：所述服务端模块还包括：选择模块，可对光谱波段和仪器模拟机进行机选。4.根据权利要求3所述的一种光电子器件测试方法，其特征在于：所述服务端模块还包括：重测模块，通过设定的程序可对检测结果进行重测判断。5.根据权利要求4所述的一种光电子器件测试方法，其特征在于：所述服务端模块还包括：提供对测试数据进行参照的参照模块、输出模块和输入模块，其中光谱库、仪器库和对比库用于对光谱波段、模拟测试仪器型号和对比数据进行信息存储。6.根据权利要求5所述的一种光电子器件测试方法，其特征在于：所述操作模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜秋平，唐川，王帅，何建兵，陈惠玲，
申请(专利权)人：成都思科瑞微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：