光模块测试器制造技术

本实用新型专利技术涉及一种光模块测试器，包括测试件和导热体，测试件包括供光模块插接的接口；导热体包括用于受热的底端部、与底端部相对的顶端部、靠近底端部凹设有用于对光模块加热的槽口、以及顶端部凹设有用于测试光模块的槽孔，槽孔与接口连通；槽口与槽孔位于导热体的相同侧。本实用新型专利技术通过导热体和测试件的集成化设计，对槽口中的光模块加热和槽孔的位置设置，从而提高光模块测试的效率和降低能耗。从而提高光模块测试的效率和降低能耗。从而提高光模块测试的效率和降低能耗。

【技术实现步骤摘要】
光模块测试器


[0001]本技术涉及光电子通信
，尤其涉及一种光模块测试器。

技术介绍

[0002]目前5G通信系统中，光模块需要达到工业级使用要求，主要是在高温状态下，光模块要求稳定工作。这就要求光模块生产过程中，必须进行高温全测试。目前光模块行业中，测试光光模块工业级性能，必须使用大型高温试验箱。使用大型高温试验箱，具有高能耗及测试效率低下两大缺点；为了降低光模块在测试中高能耗和测试效率低的问题，因此，设计一种提高光模块测试效率和降低能耗的测试装置是非常必要的。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种光模块测试器，其旨在解决光模块测试的效率低和高能耗的技术问题。
[0004]为达到上述目的，提供一种光模块测试器，包括测试件、导热体，所述测试件包括供光模块插接的接口；所述导热体包括用于受热的底端部、与所述底端部相对的顶端部、靠近所述底端部凹设有用于对光模块加热的槽口、以及所述顶端部凹设有用于测试光模块的槽孔，所述槽孔与所述接口连通；所述槽口与所述槽孔位于所述导热体的相同侧。
[0005]在一种可能的实施方式中，所述槽口为从左向右延伸的长槽口。
[0006]在一种可能的实施方式中，在竖直方向上，所述槽口与插设于所述槽口上的光模块间隙配合。
[0007]在一种可能的实施方式中，所述槽口加热的温度范围为30℃
‑
90℃。
[0008]在一种可能的实施方式中，所述槽口加热的温度为85℃。
[0009]在一种可能的实施方式中，所述导热体凹设有至少两个所述槽孔，至少两个所述槽孔平行间隔设置在所述顶端部。
[0010]在一种可能的实施方式中，每个所述槽孔包括前端口和后端口，所述前端口供光模块插入，所述后端口与所述接口连通。
[0011]在一种可能的实施方式中，所述前端口和所述后端口均与光模块间隙配合。
[0012]在一种可能的实施方式中，所述测试件还包括用于对光模块的数据进行传输的测试端。
[0013]在一种可能的实施方式中，所述测试件安装固定于所述导热体。
[0014]实施本技术实施例，将具有如下有益效果：
[0015]本实施例中的光模块测试器，由于光模块测试器将导热体和测试件集成到了一起，相对于传统过程中将光模块放置于指定的设备地方进行加热，再从该设备转移到测试装置的过程，本实用技术有利提高光模块的检测效率，另外，通过将加热槽口和检测槽孔设置在同一侧，从而便于将槽口中加热完成的光模块高效率的转移到槽孔中进行测试，从而进一步提高检测效率；槽口设置在靠近导热体受热的底端部，由于热量是从受热的底
端部向顶端部的传递过程，能量从下而上是逐级递减的过程，因此，用于加热光模块的槽口设置在低端部可以有效避免热传递过程中能量的损耗，从而降低光模块加热过程中的能耗。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本技术实施例提供的光模块测试器的主视图；
[0018]图2为图1中的俯视图；
[0019]图3为本技术实施例提供的光模块测试器的结构示意图。
[0020]其中：100、光模块测试器；110、测试件；111、接口；112、测试端；120、光模块；130、导热体；131、底端部；132、顶端部；133、槽口；134、槽孔；1341、前端口；1342、后端口。
具体实施方式
[0021]为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳的实施例。但是，本技术可以容许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。
[0022]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0023]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0024]请参考图1
‑
图3，本技术一实施例提供了一种光模块测试器100，本实施例中的光模块测试器100包括测试件110、导热体130，测试件110包括供光模块120插接的接口111；导热体130包括用于受热的底端部131、与底端部131相对的顶端部132、靠近底端部凹设有用于对光模块120加热的槽口133、以及顶端部132凹设有用于测试光模块120的槽孔134，槽孔134与接口111连通；槽口133与槽孔134位于导热体130的相同侧。具体应用中，将光模块120插设于槽口133后，导热体130的底端部开始受热，将热量传递给槽口133对槽口133中的光模块120进行加热升温，待光模块120达到一定温度后，将光模块120取出插进槽孔134中，使得光模块120与接口111电连接，此时测试件110检测光模块120是否正常工作。
[0025]参照图1和图2所示，在一种可能的实施方式中，测试件110可以为测试电路板或测试机等具体实施方式；铝合金质量轻，导热性能良好，因此，导热体130的材质优选为铝合金，本领域技术人员在不付出创造性劳动成果下都应该认为是本技术所保护的技术内
容。
[0026]参照图1和图2所示，在一种可能的实施方式中，槽口133为从左向右延伸的长槽口。具体应用中，长槽口可同时容纳至少两个光模块120同时加热，在使用过程中，可以连续更替光模块120进行加热，例如，当一个光模块达到指定温度后被取出转移到槽孔134后，可以将其余待检测的光模块120插进槽口133进行预热，从而可以快速对光模块120完成预热，提高检测效率，另外，长槽口的设置可以批量地对光模块120进行预热，从而批量提高检测光模块120的效率。
[0027]参照图1所示，在一种可能的实施方式中，在竖直方向上，槽口133与插设于槽口133上的光模块120间隙配合。具体应用中，将槽口133设置成与光模块120间隙配合一来是为了避免光模块120与槽口133悬空接触时，只能依靠槽口133内壁与光模块120表面之间的空气热辐射的方式进行加热，这种方式加热的能耗比要高于光模块120与槽口133内壁的接触的热传递方式，同时为避免实际使用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光模块测试器，其特征在于，包括：测试件，所述测试件包括供光模块插接的接口；导热体，所述导热体包括用于受热的底端部、与所述底端部相对的顶端部、所述底端部凹设有用于对光模块加热的槽口、以及所述顶端部凹设有用于测试光模块的槽孔，所述槽孔与所述接口连通；所述槽口与所述槽孔位于所述导热体的相同侧。2.根据权利要求1所述的光模块测试器，其特征在于，所述槽口为从左向右延伸的长槽口。3.根据权利要求2所述的光模块测试器，其特征在于，在竖直方向上，所述槽口与插设于所述槽口上的光模块间隙配合。4.根据权利要求1
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3任一项所述的光模块测试器，其特征在于，所述槽口加热的温度范围为30℃
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【专利技术属性】
技术研发人员：冼冠英，
申请(专利权)人：深圳市格莱特通信技术有限公司，
类型：新型
国别省市：