本实用新型专利技术的便携式常用芯片检测装置，包括测试底箱(1)，设置在测试底箱(1)上的旋转盘组件(3)，设置在旋转盘组件(3)上的若干个连接组件，活动连接在每一个连接组件上的测试子板(2)，设置在测试底箱(1)上的重载滑动块(6)，以及设置在测试底箱(1)上的控制系统。本实用新型专利技术操作简单，体积小，方便搬运。本实用新型专利技术通过双作用气缸推动重载连接器母头，使重载连接器母头插接于重载连接器公头上，如果重载连接器母头和重载连接器公头接触良好，则触发磁力开关A，装置开始对芯片进行测试；如果重载连接器母头插重载连接器公头接触有问题，则不触发磁力开关A，此时不进行测试，其无需人工反复的检查接触点，提升测试效率。提升测试效率。提升测试效率。
【技术实现步骤摘要】
一种便携式常用芯片检测装置
[0001]本技术涉及元件测试筛选
，具体是指一种便携式常用芯片检测装置。
技术介绍
[0002]目前，行业领域内对芯片的筛选测试都采用人工进行筛选测试，且测试设备都较大，不便搬动，这对于需要在特定环境下测试的芯片，设备不能到达，无法满足正常的测试，只能更换测试条件。另外，芯片本身的价值较高，所以对其进行筛选测试的要求也较高，然而在采用现有的测试装置对芯片进行测试时，装置的接触点容易出现接触不正常的现像，这就需要人工反复的检查接触点，进而导致测试效率低下，增大了测试成本。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于解决上述问题，提供一种操作简便，能够提高检测效率的便携式常用芯片检测装置。
[0004]本技术的目的通过下述技术方案实现：一种便携式常用芯片检测装置，包括测试底箱，设置在测试底箱上的旋转盘组件，设置在旋转盘组件上的若干个连接组件，活动连接在每一个连接组件上的测试子板，设置在测试底箱上的重载滑动块，以及设置在测试底箱上的控制系统；所述旋转盘组件和重载滑动块均与控制系统连接，所述旋转盘组件能够旋转，且重载滑动块能依次与旋转盘组件上的每一个连接组件连接。
[0005]所述旋转盘组件包括伺服电机，连接在伺服电机主轴上的旋转盘，以及连接在旋转盘上的多边型治具；所述连接组件设置在多边型治具上，且伺服电机能驱动旋转盘和多边型治具旋转；所述伺服电机与控制系统连接。
[0006]所述驱动旋转盘包括固定盘，设置在固定盘内的旋转体；所述伺服电机的主轴贯穿固定盘后与旋转体连接，所述固定盘固定于伺服电机上，且多边型治具安装在旋转体上。
[0007]所述旋转体的底部设置有若干个滚珠槽，每个滚珠槽内均设置有滚珠；所述滚珠与固定盘的上表面接触。
[0008]所述固定盘的侧壁设置有若干个滚珠槽，每个滚珠槽内均设置有滚珠和调节纽，且滚珠和调节纽之间设置有滚珠调节弹簧；所述滚珠与旋转体的侧壁接触，且调节调节纽时能推动滚珠。
[0009]所述连接组件包括设置在多边型治具上表面的直插母头，设置在多边型治具侧壁且与直插母头连接的重载连接器公头；所述测试子板与直插母头活动连接，所述重载滑动块能依次与每一个连接组件上的重载连接器公头连接。
[0010]所述测试子板包括PCB板，设置在PCB板上表面的测试座，以及设置在PCB板下表面的直插公头；所述直插公头插接于直插母头上。
[0011]所述重载滑动块包括设置在测试底箱上的双作用气缸，连接在双作用气缸上的滑动体，以及设置在滑动体上的重载连接器母头；所述双作用气缸上设置有磁力开关A和磁力
开关B，所述双作用气缸能够推动滑动体移动，且滑动体向前移动时重载连接器母头能插接于重载连接器公头上，滑动体移动时还能触发磁力开关A和磁力开关B；所述双作用气缸、重载连接器母头、磁力开关A以及磁力开关B均与控制系统连接。
[0012]所述测试底箱上设置有滑动接口定位块，所述滑动体上设置有定位槽，所述滑动接口定位块卡入到定位槽内。
[0013]所述重载连接器公头上设置有定位销，所述重载连接器母头上设置有与定位销配合的定位孔。
[0014]本技术与现有技术相比，具有以下优点及有益效果：
[0015](1)本技术操作简单，体积小，方便搬运。
[0016](2)本技术通过双作用气缸推动重载连接器母头，使重载连接器母头插接于重载连接器公头上，如果重载连接器母头和重载连接器公头接触良好，则触发磁力开关A，装置开始对芯片进行测试；如果重载连接器母头插重载连接器公头接触有问题，则不触发磁力开关A，此时不进行测试，其无需人工反复的检查接触点，提升测试效率。
[0017](3)本技术设置有旋转盘组件，旋转盘组件上设置若干个测试子板，测试时每个测试子板均可放置待测芯片，只需转动旋转盘组件即可连续的对多个芯片进行测试，提升测试效率。
[0018](4)本技术通过调节调节纽即可对旋转体进行平面微调，使重载连接器母头和重载连接器公头能够更好的对接。
附图说明
[0019]图1为本技术的结构图。
[0020]图2为本技术的测试箱罩打开后的结构图。
[0021]图3为本技术的测试子板的结构图。
[0022]图4为本技术的旋转盘组件的结构图。
[0023]图5为本技术的旋转盘组件的剖示图。
[0024]图6为本技术的旋转盘的剖示图。
[0025]图7为本技术的重载连接器公头的结构图。
[0026]图8为本技术的重载滑动块的结构图。
[0027]上述附图中的附图标记为：1—测试底箱，2—测试子板，201—PCB板，202—测试座，203—直插公头，3—旋转盘组件，301—伺服电机，302—旋转盘，3021—固定盘，3022—旋转体，3023—调节纽，3024—滚珠，3025—滚珠调节弹簧，303—多边型治具，304—直插母头，305—重载连接器公头，3051—定位销，3052—适配针，4—测试箱罩，5—调压阀，6—重载滑动块，601—重载连接器母头，602—滑动体，603—双作用气缸，6031—磁力开关A，6032—磁力开关B，7—滑动接口定位块，8—电源按钮开关，9—测试按键，10—PCB数据处理板单元，11—驱动电源，12—换向阀，13—线缆走线孔，14—气缸固定板。
具体实施方式
[0028]下面结合实施例对本技术作进一步的详细说明，但本技术的实施方式不限于此。
[0029]实施例1
[0030]如图1所示，本技术公开一种便携式常用芯片检测装置，其包括测试底箱1，设置在测试底箱1上的旋转盘组件3，设置在旋转盘组件3上的若干个连接组件，活动连接在每一个连接组件上的测试子板2，设置在测试底箱1上的重载滑动块6，以及设置在测试底箱1上的控制系统。该控制系统分别与旋转盘组件3和重载滑动块6连接，其用于控制旋转盘组件3旋转，并且控制重载滑动块6工作，当重载滑动块6工作时，其能依次与旋转盘组件3上的每一个连接组件连接。
[0031]如图2所示，该控制系统包括驱动电源11，与驱动电源11连接的PCB数据处理板单元10，与驱动电源11连接的电源按钮开关8，分别与驱动电源11和PCB数据处理板单元10连接的测试按键9和换向阀12。旋转盘组件3和重载滑动块6分别与驱动电源11和PCB数据处理板单元10连接。控制系统可采用现有的模块来实现，其并非本申请的专利技术点所在，因此控制系统不再过多赘述。具体生产时，可以在测试底箱1上设置多个线缆走线孔13，以方便各部件之间的线路连接，同时本实施例还可以设置一个测试箱罩4，控制系统的各个部件则位于测试箱罩4内，以对控制系统的各部件进行保护。
[0032]如图4所示，所述旋转盘组件3包括伺服电机301、旋转盘302以及多边型治具303。具体的，该伺服电机301安装于测试底箱1内部，且其主轴朝上。旋本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便携式常用芯片检测装置，其特征在于，包括测试底箱(1)，设置在测试底箱(1)上的旋转盘组件(3)，设置在旋转盘组件(3)上的若干个连接组件，活动连接在每一个连接组件上的测试子板(2)，设置在测试底箱(1)上的重载滑动块(6)，以及设置在测试底箱(1)上的控制系统；所述旋转盘组件(3)和重载滑动块(6)均与控制系统连接，所述旋转盘组件(3)能够旋转，且重载滑动块(6)能依次与旋转盘组件(3)上的每一个连接组件连接。2.根据权利要求1所述的一种便携式常用芯片检测装置，其特征在于，所述旋转盘组件(3)包括伺服电机(301)，连接在伺服电机(301)主轴上的旋转盘(302)，以及连接在旋转盘(302)上的多边型治具(303)；所述连接组件设置在多边型治具(303)上，且伺服电机(301)能驱动旋转盘(302)和多边型治具(303)旋转；所述伺服电机(301)与控制系统连接。3.根据权利要求2所述的一种便携式常用芯片检测装置，其特征在于，所述驱动旋转盘(302)包括固定盘(3021)，设置在固定盘(3021)内的旋转体(3022)；所述伺服电机(301)的主轴贯穿固定盘(3021)后与旋转体(3022)连接，所述固定盘(3021)固定于伺服电机(301)上，且多边型治具(303)安装在旋转体(3022)上。4.根据权利要求3所述的一种便携式常用芯片检测装置，其特征在于，所述旋转体(3022)的底部设置有若干个滚珠槽，每个滚珠槽内均设置有滚珠(3024)；所述滚珠(3024)与固定盘(3021)的上表面接触。5.根据权利要求3或4所述的一种便携式常用芯片检测装置，其特征在于，所述固定盘(3021)的侧壁设置有若干个滚珠槽，每个滚珠槽内均设置有滚珠(3024)和调节纽(3023)，且滚珠(3024)和调节纽(3023)之间设置有滚珠调节弹簧(3025)；所述滚珠(3024)与旋转体(3022)的侧壁接触，且调节调节纽(3023)时能推动滚珠(3024...
【专利技术属性】
技术研发人员：何建兵，马开鹏，胡斌，
申请(专利权)人：成都思科瑞微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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