在光记录载体上记录信息图形的设备制造技术

本发明专利技术申请涉及一种记录设备，在记录载体（４；４＇）上将信息图形记录在具有第一光学性质的记录区（８）内，该记录区与具有第二光学性质的中间区（１１）相交。记录设备包括写装置，写装置包括：借助写光束（１３；１０７ａ）扫描记录载体（４；４＇）的装置；和根据具有特定占空系数的双价信号（Ｖｅｆｍ），将写光束（１３；１０７ａ）的光强（Ⅰ）在不使记录载体（４；４＇）扫描位置处的光学性质发生变化的低光强（Ⅰ１）和使记录载体（４；４＇）扫描位置处的光学性质发生可光学检测的变化的高写光强（Ⅰｓ）之间转换的调制装置（１０７）。还包括光学读装置和辐射敏感检测器。（*该技术在2010年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在记录载体的具有第一光学性质的记录区上记录信息图形的记录设备，该记录区与具有第二光学性质的中间区相交替，该记录设备包括光学写装置，该光学装置包括借助写光束扫描记录载体的装置，和调制装置，该调制装置根据有特定占空系数的双价信号将写光束强度在不使扫描位置的记录载体光学性质变化的低光强与使扫描位置的记录载体光学性质有可光学检测变化的高写光强之间进行转换，记录设备还包括光学读装置，该光学读装置包括借助读光束扫描按上述方式形成的信息图形的装置，该读光束受扫描信息图形的调制，该光学读装置还包括一个将调制的读光束转换为相应的读信号的辐射敏感检测器，记录设备还包括一个用于从读信号中导出分析信号的分析电路，该分析信号指示记录区长度与中间区长度的平均比率对于占空系数规定的最佳比率的偏差，记录设备还包括根据分析信号将写光强设定到使记录区长度和中间区长度的比率基本上相应于占空系数规定的最佳比率的值的装置。一种如本文开始一段描述的记录设备已经公知，特别是在美国专利说明书US 4，225，873中公知。这种先有技术记录设备用于记录平均占空系数为50%的信号。二次谐波信号分量的幅度指示出记录本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在记录载体上记录具有第一光学性质的记录区的信息图形的记录设备，该记录区与具有第二光学性质的中间区相交替，该记录设备包括：光学写装置，该光学写装置包括：借助写光束扫描记录载体的装置；根据具有特定占空系数的双价信号、在低光强与高光强之间转换写光束光强的调制装置，该低光强不使扫描位置记录载体的光学性质发生变化，而该高光强使扫描位置记录载体光学性质发生可光学检测的变化；光学读装置，该光学读装置包括：借助读光束扫描按上述方式形成的信息图形的装置，该读光束受正被扫描的信息图形所调制；将调制的读光束转换为相应的读信号的辐射敏感检测器；分析电路，该分析电路从所述读信号导出分析信号，该分析信号指示记录区长度...

【技术特征摘要】
NL 1989-6-23 89015911.一种在记录载体上记录具有第一光学性质的记录区的信息图形的记录设备，该记录区与具有第二光学性质的中间区相交替，该记录设备包括光学写装置，该光学写装置包括借助写光束扫描记录载体的装置；根据具有特定占空系数的双价信号、在低光强与高光强之间转换写光束光强的调制装置，该低光强不使扫描位置记录载体的光学性质发生变化，而该高光强使扫描位置记录载体光学性质发生可光学检测的变化；光学读装置，该光学读装置包括借助读光束扫描按上述方式形成的信息图形的装置，该读光束受正被扫描的信息图形所调制；将调制的读光束转换为相应的读信号的辐射敏感检测器；分析电路，该分析电路从所述读信号导出分析信号，该分析信号指示记录区长度与中间区长度的平均比率相对于占空系数规定的最佳比率的偏差；以及设定写光强的装置，该装置根据分析信号将写光强设定成使得记录区和中间区长度比率基本对应于占空系数给定的最佳比率的数值；该记录设备的特征在于，所述分析电路包括下述的装置，该装置用于确定读信号直流分量相对于该直流信号最小和最大值的位置；以及用于产生一种信号形式的分析信号；该信号指示按上述方式确定的所述位置是否偏离占空系数规定的位置。2.根据权利要求1的记录设备，是特征在于所述分析电路包括确定读信号的直流值与读信号最大值之间的第一差值的装置;确定读信号最小值与该直流值之间的第二差值的装置;和根据该第一和第二差值导出分析信号的装置。3.根据权利要求2的记录设备，其特征在于，所述分析电路包括用于去除读信号直流分量的高通滤...

【专利技术属性】
技术研发人员：约翰内斯利奥波德斯巴克斯，约翰内斯杰拉达斯弗雷德里卡斯卡布劳，
申请(专利权)人：皇家菲利浦电子有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]