具有波动标题区的光记录介质、数据记录方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种光记录介质和数据记录方法及其装置。光记录介质包括波动信号记录在其上的波动轨道，以及含有标题信息的波动标题信号记录在其上的波动标题轨道。于是，标题区的物理外形均匀一致，因此在数据记录到介质上时可以防止从光记录介质反射的光量减少。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光记录介质，更具体地是，涉及一种具有波动信号记录在其上且用户数据可以记录在其上的波动轨道的光记录介质，以及数据记录方法及其装置。光记录介质包括标题(header)信息记录在其上的标题区，和用户数据记录在其上的用户数据区。在2.65GB或4.7GB的DVD-RAM情况下，每个扇区包括128字节的标题信息。在制造光盘基片时，将标题信息记录成预凹坑(pre-pits)形式。根据DVD-RAM规格，标题区包括一用于锁相环路(PLL)的可变频率振荡器(VFO)区域、一指定扇区号的物理识别数据(PID)区域以及一用于存储ID错误检测信息的ID错误检测(IED)区域。标题区设置在扇区的预定部分上。设置在记录/再现装置内的拾取装置可以基于记录在标题区上的信息轻易地识别扇区号、扇区类型以及纹间表面(land)或纹槽(groove)轨道。随着多媒体使用的快速发展，已经提出了各种用于向光记录介质，如数字多用盘(DVD)上记录更多信息的方法。例如，现有扩宽用户数据可以记录在其上的用户数据区、减小记录或再现激光的波长以及减小轨道间距的多种方法。附图说明图1是传统光盘的示意图。参照图1，光盘上形成有对应用户数据记录在其上的用户数据区的纹间表面和纹槽。标题信息以预凹坑形式记录其上的标题区3也设置在光盘上。图2A到2D示出传统光盘的标题区的示例。参照图2A，记录标题信息的预凹坑设置在每个纹间表面和纹槽轨道的中部。换句话说，每个轨道确定了预凹坑。在这种结构中，轨道和预凹坑设置在相同的圆周上，从而波动信号和标题信息可以一次性记录。然而，如果轨道密度增大以改善记录密度的话，在标题信息再现时可能会出现串扰。参照图2B，预凹坑设置在纹间表面轨道和纹槽轨道之间的边界处。在这种结构中，与图2A的结构相比较，即使轨道密度增大，也不会轻易发生串扰。另外，预凹坑可以记录其上的区域变宽使得凹坑的宽度可以增大。换句话说，在信号再现方面，图2B的结构比图2A的结构更为优选。然而，由于预凹坑设置在纹间表面轨道和纹槽轨道之间的边界处，在记录或再现期间，这种结构易于被拾取装置的寻轨偏移损坏。参照图2C，一组预凹坑设置在每个纹间表面或纹槽轨道的中部，从而在一个轨道内的一组预凹坑与相邻轨道内另一组预凹坑不相邻。于是，即使轨道密度增大，在相邻轨道间串扰发生的可能性会很低。然而，由于预凹坑设置在每个轨道的中部，这种结构对于寻轨错误不敏感，因此其难于进行灵敏的伺服控制。图2D所示的结构用于目前的DVD-RAM中。一组预凹坑设置在纹间表面轨道和纹槽轨道之间的边界上，使得在一条轨道内的一组预凹坑不会与相邻轨道内的另一组预凹坑相邻。于是可以减小串扰，并且可以达到灵敏的伺服控制。然而，在盘基片制造过程中，难于定位相邻轨道间不相邻的预凹坑。于是，构成标题区的多种元素的信号特性可能会彼此不一致。在目前使用的DVD-RAM中，标题面积与盘面积的比值达到每扇区5％。通过使这种额外量减至最小来增大用户数据区，使用了具有双数据可记录侧的双层结构。然而，在这种双层结构中，在数据记录到上层时，记录能量受到下层的物理外形影响。为了得到改进，根据现有技术的预凹坑形式记录的标题区的物理外形施加在双层结构中记录能量的影响被模拟并测量。为了模拟反射光量，计算自每个反射镜基片的反射光量、凹坑面积以及具有标记的纹槽面积，如图3A到3D所示。考虑到双层结构中的下层和上层之间空间层的作用，透镜采用了30μm的曲率。另外，在计算中考虑由穿过透镜的激光束捕捉到的下层轨道数。为了测量反射光量，设定如图4A到4C所示的条件。在此，“L0”表示下层，而“L1”表示上层。反射膜1形成在上层L1之下。激光束聚焦在图4A的反射镜区上、图4B的凹坑区上以及图4C的纹槽区上(没有标记)。图5为示出从图3A到4C获得的结果的曲线。在根据模拟的计算中，轨道凹坑加倍以覆盖如图2A所示的结构。对于具有标记的纹槽区域，只考虑标记部分和纹间表面或纹槽部分之间的反射率的不同。不考虑由于非结晶状态和结晶状态之间吸收率的不同而造成的有标记部分的透射率的不同。以下是试验的输入参数和其数值的列表。表1 表2 根据模拟结果，透射率在反射镜基片上减小很小，而在凹坑区和纹槽区的序列上减小很大。取决于轨道间距，透射率在凹坑区域减小4-7.5％，而在纹槽区域透射率减小7.5-28.5％。凹坑区域所反射的光量在0.37μm的轨道间距处测量并减小0-4％。在纹槽区域情况下，测量值的减少小于计算值的减少。可推导出这种现象是由于在模拟中假设屏蔽角(wall degree)为90°而产生的，而实际的屏蔽角为0-60°，因此光的测量值比计算值大3％。随着轨道间距的减小，透射的光量在凹坑和纹槽区减小。在0.34μm(实际为0.34μm×2)轨道间距时获得的测量值比在0.38μm(实际为0.38μm×2)轨道间距时获得的基准值小0-4％。然而，当标题区具有如图2D所示的结构时，可推导出透射的光量减小很小。在纹槽区域内0.34μm轨道间距处透射的光量减小9.5％，而在0.30μm轨道间距处减小22％。当轨道间距是0.34μm时，测量值比计算值小7.5％。结果，可以推导出当轨道间距是0.30μm且物镜的NA为0.85时，在纹槽区域内上层L1需要至少比下层L0大20％的记录能量。换句话说，实现为预凹坑的标题区不适于高密度记录，且当数据记录到双层结构的上层时影响记录能量。为了解决上述问题，本专利技术的第一目的是提供一种具有不影响记录能量的物理形状光盘记录介质，以及一种数据记录方法及其装置。本专利技术的第二目的是提供一种用于防止标题区重复记录而恶化的光记录介质，以及一种数据记录方法及其装置。于是，为了达到本专利技术的上述目的，一方面，提供了一种包括波动信号记录在其上的波动轨道的光记录介质，以及含有标题信息的波动标题信号记录在其上的波动标题轨道。优选地，波动标题轨道和波动轨道彼此交替地设置。波动轨道为用户数据所记录并包括纹间表面轨道或纹槽轨道的用户数据区。优选地，波动信号具有单一频率，且波动标题信号具有比波动信号高的频率并通过调制含有标题信息的二进制数据获得。优选地是，调制由90°相移键控(QPSK)进行。更优选地是，标题信息包括地址信息。为了达到本专利技术的目的，另一方面，提供了一种向包括波动信号记录在其上的波动轨道和含有标题信息的波动标题信号记录在其上的波动标题轨道的记录介质记录数据的方法。该方法包括用预定的记录能量向波动轨道记录数据的步骤(a)，以及用比记录能量预定值低的穿过能量(passing power)穿过波动标题轨道的步骤(b)。优选该方法还包括在步骤(b)之前探测波动标题轨道的步骤(b0)。优选的是，穿过能量与用于从记录介质再现数据的再现能量相同。优选的是，波动标题轨道和波动轨道彼此交替设置。优选波动信号具有单一频率，且波动标题信号的频率高于波动信号的频率，并由含有标题信息的二进制数据调制获得。优选调制由90°相移键控(QPSK)完成。更优选标题信息包括地址信息。为了达到本专利技术的上述目的，在又一个方面，提供了一种将数据记录到包括波动信号所记录的波动轨道和含有标题信息的波动标题信号所记录的波动标题轨道的记录介质上的装置。该装置包括用于以预定的记录能量向波动轨本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光记录介质，包括：一波动信号记录在其上的波动轨道，以及一含有标题信息的波动标题信号记录在其上的波动标题轨道。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 2000-12-26 82053/001.一种光记录介质，包括一波动信号记录在其上的波动轨道，以及一含有标题信息的波动标题信号记录在其上的波动标题轨道。2.如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，所述波动标题轨道和所述波动轨道彼此交替地设置。3.如权利要求2所述的光记录介质，其特征在于，所述波动轨道为用户数据记录在其上的用户数据区，并包括纹间表面轨道或纹槽轨道。4.如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，所述波动信号具有单一频率。5.如权利要求4所述的光记录介质，其特征在于，所述波动标题信号的频率高于波动信号的频率。6.如权利要求5所述的光记录介质，其特征在于，所述波动标题信号通过调制含有标题信息的二进制数据获得。7.如权利要求6所述的光记录介质，其特征在于，调制由90°相移键控(QPSK)完成。8.如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，所述标题信息包括地址信息。9.一种向包括波动信号记录在其上的波动轨道和含有标题信息的波动标题信号记录在其上的波动标题轨道的记录介质记录数据的方法，所述方法包括以下步骤(a)用预定的记录能量向波动轨道记录数据，以及(b)用比记录能量低一预定值的穿过能量穿过波动标题轨道。10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，还包括在步骤(b)之前探测波动标题轨道的步骤(b0)。11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，穿过能量与用于从记录介质再现信息的再现能量相同。12.如权利要求9所述的方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：李坰根，朴仁植，金伦基，大塚达宏，全镇勋，高祯完，尹斗燮，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]