光盘装置的最佳记录轨道偏差量计算方法制造方法及图纸

技术编号:3067095 阅读:251 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术目的是提供一种在记录期间能记录最佳轨道偏差并减低重放时抖动的光盘装置。根据本发明专利技术的光盘装置包括:测试记录机构S28,可调整和记录轨道偏差量,对光盘的多个资料框进行测试记录;及最佳记录轨道偏差量计算机构S30,根据关于重放信号的每个资料框的特性值来计算最佳记录轨道偏差量,该重放信号用于多个资料框的测试记录数据的重放。因此,即可在记录时取得最佳轨道偏差。此外,因为光束照射于沟槽的中心附近,所以能防止凹洞受到颤动周期的影响,从而减少重放抖动的产生。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光盘装置,尤其涉及将光盘重放或记录重放的光盘装置。
技术介绍
在CD-R(可记录光盘),DVD-R(数字多功能可记录光盘,DigitVersatile Disk-Recordable)等可记录光盘上,预设置用于读出的沟槽。这样的光盘将沟槽或槽脊(沟槽与沟槽之间的部分)设定为轨迹,通过沿着该轨迹照射光束,在轨迹上形成凹洞而记录资料。还有,用于沿轨迹照射光束的轨道伺服控制器,将光束的光轴中心控制在轨迹中心线上。沟槽以中心频率22.05kHz仅极少地在半径方向颤动,所谓ATIP(预设沟槽绝对时间,Absolute Time In Pregroove)记录的地址资料(即时间资料),以最大位移±1kHz,利用FSK调制而被多次记录。该颤动信号由于振幅微小,并不会成为轨道伺服控制器的障碍。另外,颤动信号频率也是由于在轨道伺服控制器的控制频率带状区域外,故光束的光轴中心平均地扫瞄于轨迹的中心线上。因此在光盘装置中,以设置在光盘半径方向上2分割的受光面的光检测器,接受在光盘所反射的光束,通过差动放大该2分割受光面的光电变换信号,检测出颤动信号。而且,以颤动信号频率22.05kHz的载波信号为基准,旋转驱动主轴马达,以既定旋转速度使光盘旋转。进而,使上述颤动信号解调而检测出地址资料。与此对应,重放时,将光束的光轴中心控制在轨迹的中心线上,使光束照射光盘轨迹上所形成的凹洞,以设置在光盘半径方向上2分割受光面的光检测器,接受光盘上所反射的光束,通过将该2分割受光面的光电变换信号相加,检测出既有的记录信号。利用相加而使得颤动信号成分相抵销。图13系显示可记录光盘CD-R的信号记录格式图。该图中,为了从光盘的中心部分起依序记录/测定最佳记录功率,设置功率校正区(PCA)与资料区。资料区由将追记途中的信号记录资料或跳读资料予以暂时记录的程序记忆区(PMA)、资料读入区、用户资料区、资料读出区所构成。为了设定激光束的最佳记录功率,CD-R在实际资料记录之前进行OPC(最佳功率控制)动作。OPC动作为测定记录特性的动作,在设于光盘既定位置的功率校正区上进行。功率校正区上设置100次份的测试区(隔间P100~P001)。各隔间由15个资料框(F01~F15)所构成。在各资料框上,以15个阶段不同的记录功率记录测试信号,各资料框上所记录的测试信号将被各别地重放。根据测试信号的波峰值、波谷值,判定是否为最佳。在该判定结果的15个阶段记录功率之中,设定最适于光盘的记录功率。因不同的光盘制造商而有不同的光盘记录特性,故必须进行这样的最佳记录功率设定。图14表示将CD-R上所记录信号重放时,已结合AC的RF(高频)信号波幅的波峰值(P)与波谷值(B)。已结合AC的RF信号是从重放信号中去除DC成分而仅为交流成分的信号。在OPC中,每一个资料框分配一个记录功率,以从最小功率至最大功率的15个阶段的功率进行于测试区记录后,检测自测试区所重放的RF信号波幅的波峰值(P)与波谷值(B)——如图14所示。这里波谷值(B)为负值,当波峰值(P)与波谷值(B)相同时,P+B=0成立,于是β=0。β=0意味着波峰值(P)与波谷值(B)为上下对称。接着,以β=(P+B)/(P-B)所得到的特性值β超过既定值(例如0.04)的阶段的记录功率作为最佳记录功率,进行随后的信号记录。另外,从激光二极管所射出的光束,因利用读出功率与写入功率的功率不同而可能造成光轴偏离。如图15所示,从激光二极管4所射出的读出功率的光束以实线表示,写入功率的光束则以虚线表示,产生具有θ角度的光轴偏离。若该光轴的偏离方向为沟槽的宽度方向,则由于即使在记录时也在读出功率时间点产生轨道偏差信号,如图16所示,以写入功率所记录的凹洞将从轨迹的中心线上偏离。在将沟槽5作为轨迹时,如记录时照射从沟槽中心偏离的光束,因为沟槽上已形成颤动,所以因颤动周期产生颤动,造成光束趋近于沟槽中心附近以及自沟槽中心大幅偏离的情况。若光束照射于沟槽的中心附近,则记录依照常规方式,但若光束大幅偏离沟槽的中心而照射的话,则受到沟槽末端部分的影响,而使记录变得不完全。因此,凹洞便会受到颤动周期的影响。重放时,由凹洞与沟槽产生轨道误差信号,虽然光束约略通过凹洞的中心附近,但因记录时的影响,重放RF信号将因此而产生颤动频率的振幅变动或波形歪斜。记录信号的周期越短该影响将越大,对于CD-R,3T(基准时间宽度T为标准速度,亦即以1倍速,频率4.32MHz的1周期约为230nsec)的信号受影响最大。该情形下的重放RF信号9如图17所示。如此,若重放RF信号的波幅8由于颤动信号成分而上下变动的话,则将在重放RF信号2数字化时产生重放抖动,从而造成比较电路12输出的2数字化信号含有颤动信号成分的问题。鉴于上述各点,本专利技术的目的是提供记录时能取得最佳轨道偏差量,能减低重放时抖动的光盘装置。
技术实现思路
本专利技术具备测试记录机构,可调整记录轨道偏差量,对光盘的多个资料框进行测试记录;及最佳记录轨道偏差量计算机构,根据将该多个资料框的测试记录数据重放的重放信号的每一个资料框的特性值,计算最佳记录轨道偏差量,因此,能取得记录时最佳的轨道偏差,因为光束照射于沟槽的中心附近,所以能防止凹洞受到颤动周期的影响,从而能减低重放抖动的发生。本专利技术涉及一种光盘装置,其中,该测试记录机构将该记录轨道偏差量调整成同样,进行数次多个资料框的测试记录,而该最佳记录轨道偏差量计算机构求出与该记录轨道偏差量相同的各资料框特性值的平均值,根据每一个资料框的平均特性值,计算最佳记录轨道偏差量,因此,能够减低因光盘面震动或偏心等所造成特性值β的测定偏移。本专利技术还涉及一种光盘装置,其中,该测试记录机构在将该记录轨道偏差量调整成同样以进行数次多个资料框测试记录时,将每一次该记录轨道偏差量成为相同的资料框记录位置,设为该光盘的不同旋转角度位置,因此,能进一步减低因光盘面震动或偏心等所造成特性值β的测定偏移。附图说明图1是显示本专利技术光盘装置一实施例的方框图。图2是使用差动推拉法误差检测电路的一实施例的电路示意图。图3是微型计算机24所执行的记录处理的一实施例流程图。图4是OPC动作的一实施例流程图。图5是表示特性β的表格。图6是表示起始功率与阶段增量功率的表格。图7说明测试区记录。图8说明计算用以得到目标值β0的粗调功率Ps。图9显示轨道偏差特性。图10说明5个阶段记录功率设定。图11显示轨道偏差量的调整情形。图12显示轨道偏差量的调整情形。图13显示光盘的信号记录格式。图14说明将光盘上所记录信号重放时的RF(高频)信号波幅的波峰值(P)与波谷值(B)。图15表明从激光二极管所射出的光束光轴偏离。图16显示从轨迹中心线上偏离而被记录的凹洞。图17是颤动信号成分相重叠的重放RF信号的波形图。具体实施例方式图1是显示本专利技术光盘装置一实施例的方框图。该图中,光盘20以利用主轴马达驱动的轴22为中心进行旋转。微型计算机24根据由高阶装置所传送的写入/读出命令而传送命令至伺服控制电路26。伺服控制器电路26进行上述主轴马达的CLV(恒定线速度)伺服控制,并进行光接收组件28的螺纹马达旋转控制,移动至光盘20所要求的方块,并且,进行光接收组件28的焦距伺服控制与本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种光盘装置,其特征在于具备:测试记录机构,可调整记录轨道偏差量,而对光盘的多个资料框进行测试记录;及最佳记录轨道偏差量计算机构,根据将该多个资料框测试记录数据重放的重放信号的每一个资料框特性值,计算最佳记录轨道偏差量。

【技术特征摘要】
JP 2001-2-26 2001-0506531.一种光盘装置,其特征在于具备测试记录机构,可调整记录轨道偏差量,而对光盘的多个资料框进行测试记录;及最佳记录轨道偏差量计算机构,根据将该多个资料框测试记录数据重放的重放信号的每一个资料框特性值,计算最佳记录轨道偏差量。2.如权利要求1的光盘装置,其特征在于该测试记录机构将该记录轨道偏...

【专利技术属性】
技术研发人员:福元诚筱原朗小川敏弘
申请(专利权)人:蒂雅克股份有限公司
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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