【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种量测数据分析系统及方法，特别是关于一种。
技术介绍
在制造行业，工件尺寸的量测对保证产品质量起着重要的作用。制造企业获得并分析量测数据，根据分析结果对制造流程进行控制，从而实现产品质量的持续提高。一般来说，工件尺寸有其标准值及上下偏差，该上下偏差指定了该工件尺寸可以允许的误差范围。例如，某一圆直径的标准值为10mm，其上下偏差值为±0. 05mm(即上偏差O. 05mm，下偏差-O. 05mm)，则只要这个圆直径在9. 95 10. 05mm之间都是合格的。不同工件尺寸由于精度的不同，其上下偏差值会不同。当处理大量量测数据时，确定量测数据的上下偏差变得费时且易于出错。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种量测数据上下偏差生成系统，能够自动生成量测数据的上下偏差。此外，还有必要提供一种量测数据上下偏差生成方法，能够自动生成量测数据的上下偏差。一种量测数据上下偏差生成系统，运行于数据处理设备中，该系统包括设定模块，用于设定各个小数位数对应的上下偏差；接收模块，用于接收量测数据及量测数据的标准值；匹配模块，用于确定所述标准值的小数位数，将标准值的小数位数与设定的上下偏差进行匹配，得到量测数据的上下偏差；及输出模块，用于输出量测数据、量测数据的标准值及上下偏差。一种量测数据上下偏差生成方法，应用于数据处理设备中，该方法包括步骤设定各个小数位数对应的上下偏差；接收量测数据及量测数据的标准值；确定所述标准值的小数位数，将标准值的小数位数与设定的上下偏差进行匹配，得到量测数据的上下偏差；及输出量测数据、量测数据的标准值及上下偏差。本专利技术根据量测...
【技术保护点】
一种量测数据上下偏差生成系统，运行于数据处理设备中，其特征在于，该系统包括：设定模块，用于设定各个小数位数对应的上下偏差；接收模块，用于接收量测数据及量测数据的标准值；匹配模块，用于确定所述标准值的小数位数，将标准值的小数位数与设定的上下偏差进行匹配，得到量测数据的上下偏差；及输出模块，用于输出量测数据、量测数据的标准值及上下偏差。
【技术特征摘要】
1.一种量测数据上下偏差生成系统，运行于数据处理设备中，其特征在于，该系统包括: 设定模块，用于设定各个小数位数对应的上下偏差； 接收模块，用于接收量测数据及量测数据的标准值； 匹配模块，用于确定所述标准值的小数位数，将标准值的小数位数与设定的上下偏差进行匹配，得到量测数据的上下偏差；及 输出模块，用于输出量测数据、量测数据的标准值及上下偏差。2.如权利要求1所述的量测数据上下偏差生成系统，其特征在于，该系统还包括判断模块，用于根据量测数据的标准值及上下偏差判断所述量测数据是否符合要求。3.如权利要求2所述的量测数据上下偏差生成系统，其特征在于，所述输出模块还用于输出量测数据是否符合要求的判断结果。4.如权利要求1所述的量测数据上下偏差生成系统，其特征在于，所述量测数据由三坐标测量机对工件进行测量而得。5.如权利要求1所述的量测数据上下偏差生成系统，其特征在于，所述设定模块将相同小数位数的...
【专利技术属性】
技术研发人员：张旨光，袁忠奎，李东海，吴伟文，余娜，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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