差信号生成装置及使用该装置的光盘装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种差信号生成装置及使用该装置的光盘装置。在使用晶体管差动放大电路，检测２个输入电流信号间的差信号的差信号检测装置中，在供给输入电流的双极晶体管的集电极与基极之间，设置电压跟随器等具有高输入阻抗和低输出阻抗的基极电流供给电路，从基极电流供给电路供给各晶体管的基极电流。据此，使供给的输入电流与晶体管的集电极电流本质上相等。在使用晶体管差动放大电路检测２个输入电流信号间的差信号的差信号检测装置中，消除因晶体管的基极电流引起的影响，显著地降低包含在差信号中的误差分量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测与2个输入信号间的差对应的差信号的差信号检测装置及在伺服系统中使用该差信号检测装置的光盘装置。
技术介绍
在光盘装置(以下，包括光磁盘装置)中，需要用于光盘的轨道追踪的跟踪伺服控制和用于光盘的焦点位置决定的聚焦伺服控制。为了这些伺服控制，用2分割或者4分割光电探测器检测光盘的反射光，得到跟踪伺服误差信号、聚焦伺服误差信号。用这些跟踪伺服误差信号和聚焦伺服误差信号进行伺服工作。光盘是在导引沟槽间上配置轨道，用光学头的光束照射，从光盘的反射光得到轨道位置误差和聚焦位置误差。由光学头的跟踪伺服误差(跟踪误差)信号，得到光束的轨道位置误差，控制光束使光束照射在轨道上。同样地，由光学头的聚焦伺服误差(焦点位置误差)信号，得到光束的焦点位置误差，控制光学头使光束的焦点成为轨道位置。跟踪用的2分割光探测器、聚焦用的2分割光探测器分别被2分割成2个受光元件(以下，称为光电二极管)。根据这2个光电二极管的输出，用伺服误差生成电路得到伺服误差信号。光盘的写入、擦除、读出时，光功率不同，而且，由于光盘的媒体反射率不同，流过光电二极管的光电流的大小是变化的。因此，在该伺服误差信号生成电路中，需要自动增益控制(AGC)。为了进行该AGC，用光电二极管电流的和信号除光电二极管电流的差信号，能够使差信号的振幅为一定。图4表示现有的伺服误差信号等的差信号生成电路的结构图(参照专利文献1)。在图4中，PD1、PD2是作为跟踪用(或者聚焦用)2分割光探测器的受光元件的光电二极管，发挥作为光探测器的功能。100是根据流过光电二极管PD1、光电二极管PD2的电流生成差信号的差信号生成电路。在差信号生成电路100中，集电极与基极直接连接的NPN型双极晶体管(以下称为NPN晶体管)Q1和光电二极管PD1串联连接在电源电压Vcc和恒定电压Vb点之间。另外，集电极与基极直接连接的NPN晶体管Q4和光电二极管PD2串联连接在电源电压Vcc与恒定电压Vb点之间。这里，恒定电压Vb由电压源E形成，该恒定电压Vb是为了使后述的恒定电流源11工作所需要的偏置电压。此外，在没有特别预先通知的情况下，各电压意味着是以接地电位作为基准的电位。第1电流Iq1流过该光电二极管PD1与NPN晶体管Q1的串联电路。另外，第2电流Iq4流过光电二极管PD2与NPN晶体管Q4的串联电路。在差信号生成电路100上，还设置电流差动电路110。在电流差动电路110中，电阻R2与NPN晶体管Q2串联连接，电阻R3与NPN晶体管Q3串联连接。该NPN晶体管Q2的发射极与NPN晶体管Q3的发射极共同地连接，连接在恒定电流源I1上。这些元件连接在电源电压Vcc与接地之间。电阻R2与电阻R3电阻值相等(＝R)，恒定电流源I1的电流值是Iref。NPN晶体管Q2的基极连接在NPN晶体管Q1的基极上，另外NPN晶体管Q3的基极连接在NPN晶体管Q4的基极上。据此，用NPN晶体管Q1和NPN晶体管Q2构成电流镜结构，用NPN晶体管Q4和NPN晶体管Q3构成电流镜结构。电阻R2与NPN晶体管Q2的连接点和电阻R3与NPN晶体管Q3的连接点之间的电压作为差信号Vout输出。在该图4的现有的差信号生成电路100中，差信号Vout表示为Vout＝R×Iref×(Iq1-Iq4)/(Iq1+Iq4)…(1)此外，关于式(1)的导出，记述在专利文献1的段落序号「0082」～「0095」中。因此，得到用光电二极管电流的和信号除光电二极管电流的差信号的差信号Vout，使差信号的振幅为一定，使之能够进行AGC。(专利文献1)特开平6-36303号公报
技术实现思路
(专利技术要解决的课题)但是，在图4的现有专利文献1中，各NPN晶体管Q1～Q4的基极电流Ibq1～Ibq4与其集电极电流Icq1～Icq4比较，因为小而忽略。即图4的差信号Vout的公式1因为忽略基极电流Ibq1～Ibq4才成立。实际上，在各NPN晶体管Q1～Q4中，分别存在基极电流Ibq1～Ibq4。当考虑该基极电流Ibq1～Ibq4时，NPN晶体管Q1的集电极电流Icq1是Icq1＝Iq1-Ibq1-Ibq2，NPN晶体管Q4的集电极电流Icq4是Icq4＝Iq4-Ibq4-Ibq3。当考虑该基极电流Ibq1～Ibq4计算差信号Vout时，成为Vout＝R×Iref×{(Iq1-Ibq1-Ibq2)-(Iq4-Ibq4-Ibq3)}/{(Iq1-Ibq1-Ibq2)+(Iq4-Ibq4-Ibq3) ……(2)由于第1电流Iq1与第2电流Iq4的直流分量大体相等，即使设Ibq1Ibq4、Ibq2Ibq3也没关系，为了容易理解，将式(2)简化表示时，就成为Vout＝R×Iref×(Iq1-Iq4)/{(Iq1+Iq4)-2(Ibq1+Ibq2)}… (3)从式(3)可知，当各NPN晶体管Q1～Q4的基极电流Ibq1～Ibq4(即式(3)的分母的「2(Ibq1+Ibq2)」)大时，对于希望得到的伺服误差信号的式1，差信号Vout增大。因此，对于本来想得到的差信号存在误差增大的问题。另外，各晶体管Q1～Q4的电流放大系数(集电极电流与基极电流的比)因集电极电流的大小、温度的高低等而变化。因此，因为其周围条件，也产生差信号Vout的误差。因此，本专利技术的目的在于在使用晶体管差动放大电路检测2个输入电流信号间的差信号的差信号检测装置中，提供消除晶体管基极电流的影响，能够显著降低包含在差信号中的误差分量的差信号检测装置。另外，还提供使用该差信号检测装置，能够正确得到跟踪用和聚焦用的伺服误差信号(即差信号)的光盘装置。(解决课题的手段)为解决上述课题，本专利技术采取以下措施。本专利技术1的差信号检测装置的特征在于具有包含供给第1电流的第1双极晶体管的第1输入电路；输入端连接在上述第1双极晶体管的集电极上，输出端连接在其基极上，具有高输入阻抗和低输出阻抗，使上述输入端电压和上述输出端电压成为规定的关系的第1基极电流供给电路；包含供给第2电流的第2双极晶体管的第2输入电路；输入端连接在上述第2双极晶体管的集电极上，输出端连接在其基极上，具有高输入阻抗和低输出阻抗，使上述输入端电压和上述输出端电压成为规定的关系的第2基极电流供给电路；以及第1负载与第3双极晶体管串联连接，第2负载与第4双极晶体管串联连接，上述第3双极晶体管的基极连接在上述第1双极晶体管的基极上，上述第4双极晶体管的基极连接在上述第2双极晶体管的基极上，而且，上述第3双极晶体管的发射极与上述第4双极晶体管的发射极连接在共同的恒定电流源上的差动放大电路，从上述差动放大电路取出差信号。本专利技术2的差信号检测装置的特征在于在本专利技术1中所述的差信号检测装置中，上述第1基极电流供给电路120及上述第2基极电流供给电路130，由包含的运算放大器构成。本专利技术3的差信号检测装置的特征在于在本专利技术2中所述的差信号检测装置中，上述第1基极电流供给电路120及上述第2基极电流供给电路130是电压跟随器。本专利技术4的差信号检测装置的特征在于在本专利技术1中所述的差信号检测装置中，上述第1基极电流供给电路120及上述第2基极电流供给电路130，是由输入端的电压控制的晶体管。本专利技术5的差信号检测装置的特征在于在本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种差信号检测装置，其特征在于：具有：包含供给第１电流的第１双极晶体管的第１输入电路；输入端连接在上述第１双极晶体管的集电极上，输出端连接在其基极上，具有高输入阻抗和低输出阻抗、使上述输入端电压和上述输出端电压成为规 定的关系的第１基极电流供给电路；包含供给第２电流的第２双极晶体管的第２输入电路；输入端连接在上述第２双极晶体管的集电极上，输出端连接在其基极上，具有高输入阻抗和低输出阻抗、使上述输入端电压和上述输出端电压成为规定的关系的第２ 基极电流供给电路；以及第１负载与第３双极晶体管串联连接，第２负载与第４双极晶体管串联连接，上述第３双极晶体管的基极连接在上述第１双极晶体管的基极上，上述第４双极晶体管的基极连接在上述第２双极晶体管的基极上，而且，上述第３双极晶体管的 发射极与上述第４双极晶体管的发射极连接在共同的恒定电流源上的差动放大电路，从上述差动放大电路取出差信号。

【技术特征摘要】
JP 2003-5-6 2003-1277551.一种差信号检测装置，其特征在于具有包含供给第1电流的第1双极晶体管的第1输入电路；输入端连接在上述第1双极晶体管的集电极上，输出端连接在其基极上，具有高输入阻抗和低输出阻抗、使上述输入端电压和上述输出端电压成为规定的关系的第1基极电流供给电路；包含供给第2电流的第2双极晶体管的第2输入电路；输入端连接在上述第2双极晶体管的集电极上，输出端连接在其基极上，具有高输入阻抗和低输出阻抗、使上述输入端电压和上述输出端电压成为规定的关系的第2基极电流供给电路；以及第1负载与第3双极晶体管串联连接，第2负载与第4双极晶体管串联连接，上述第3双极晶体管的基极连接在上述第1双极晶体管的基极上，上述第4双极晶体管的基极连接在上述第2双极晶体管的基极上，而且，上述第3双极晶体管的发射极与上述第4双极晶体管的发射极连接在共同的恒定电流源上的差动放大电路，从上述差动放大电路取出差信号。2.根据权利要求1所述的差信号检测装置，其特征在于上述第1基极电流供给电路及上述第2基极电流供给电路的构成包含运算放大器。3.根据权利要求2所述的差信号检测装置，其特征在于上述第1基极电流供给电路及上述第2基极电流供给电路是电压跟随器。4.根据权利要求1所述的差信号检测装置，其特征在于上述第1基极电流供给电路及上述第2基极电流供给电路是用输入端的电压控制的晶体管。5.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的差信号检测装置，其特征在于上述第1双极晶体管的发射极及上述第2双极晶体管的发射极连接在共同的电压源上。6.一种光盘装...

【专利技术属性】
技术研发人员：西川浩二，船桥裕之，
申请(专利权)人：罗姆股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]