检查相位变化类型光记录介质的方法技术

本发明专利技术的目的在于，对于反复地可重写的相位变化类型光记录介质，允许基于室温环境下的检查评估由于高温环境中的重复的改写而造成的再生信号的质量下降。用某一个激光功率对同一个道反复地执行改写，该激光功率是高于一个激光功率的给定值，利用该一个激光功率，对于其中提供了由因为施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料制成的记录层的相位变化类型光记录介质，在室温下，再生信号的抖动变得最小。测量反复地执行改写给定次数之后的再生信号的抖动值，并判断所测量的抖动值是否等于或小于参考值，从而评估再生信号的质量的下降。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，具体来说，涉及评估由于高温环境中的改写的重复而造成的从相位变化类型光记录介质再生的再生信号的质量的下降的检查方法。
技术介绍
迄今为止，在相位变化类型光记录介质(以下简称为“光盘”)中，在透明衬底上形成了由其中由于施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料所制成的记录层。在记录操作过程中，向记录层施加激光束以部分地熔化记录层，并且部分地熔化的记录层被快速地冷却和固化，从而在记录层中形成无定形记录标记。另一方面，在擦除操作过程中，向无定形记录标记施加激光束，以便以等于或低于记录层的熔点，但等于或高于记录层的结晶温度的温度加热无定形记录标记。结果，使无定形记录标记结晶，以将无定形记录标记的相态返回到原始未记录的相态。通过反复地执行这些处理类型，对于相位变化类型光盘，可以执行重复的重写，即，所谓的重复的改写。然而，当对于光盘反复地执行改写时，由于记录层中的质量传递而改变记录层的厚度，且接触记录层的介电层中的材料扩散到记录层中。结果，遇到了这样的问题，抖动特征变坏，信号振幅减小，如此，信号误差率增大。为了解决此问题，公开了一种技术，其中在记录层的紧上方或紧下方提供金属层，以便使在记录层内生成的热扩散到金属层中，从而在改写操作过程中在记录层上产生的热损伤降低，以提高记录层针对改写的重复的耐久性(请参阅日本专利公开No.Hei 6-36352)。
技术实现思路
现在已经发现，由于重复的改写导致的再生信号的质量下降在温度环境中比室温环境中变得更加显著。因此，对于相位变化类型光盘，在高温环境中需要保证重复的改写特征，假设在高温环境中使用记录/再现驱动器。然而，遇到了这样的问题，光盘的检查设备是精度机械设备，如此，高温环境中的检查设备的测量精度不能得到保证。为此，在目前的情况下，在高温环境中，没有执行对由于重复的改写导致的质量下降的高度准确的检查。本专利技术是在考虑到前述的内容的情况下作出的，希望提供，对于反复地可重写的相位变化类型光记录介质，该方法允许基于室温环境下的检查，准确地评估由于高温环境中的重复的改写而造成的重复信号的质量下降。根据本专利技术的一个实施例，提供了，包括下列步骤用为比一个激光功率高的给定值的激光功率对同一个道反复地执行改写，利用该一个激光功率，对于其中提供了由因为施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料所制成的记录层的相位变化类型光记录介质，在室温下再生信号的抖动变得最小；在执行改写给定次数之后，测量再生信号的抖动值；并判断所测量的抖动值是否等于或小于参考值。例如，优选情况下，用具有使抖动变得最小的激光功率的大约10％到大约15％的值的激光功率执行改写。根据本专利技术的一个实施例，在室温下用稍微大于最佳功率的激光功率反复地执行改写，当执行改写时测量抖动值。结果，可以准确地并简单地测量在高温下由于重复的改写而导致的相位变化类型光记录介质的特征的下降。根据本专利技术，每当在室温下反复地执行改写时，都测量再生信号的抖动值。结果，可以估计当在高温环境下反复地执行改写时再生信号的质量下降。因此，提供了这样的效果可以准确地测量相位变化类型光记录介质的耐久性，而不会给光盘检查设备带来负担，并可以准确地并简单地判断是否符合技术规范。附图说明图1是显示了根据本专利技术的一个实施例的检查光记录介质的方法中使用的光盘检查设备的配置的方框图；图2是显示了根据本专利技术的该实施例的检查光记录介质的方法中的已调制激光功率的波形的示例的图表；图3A和3B分别是显示了当在高温下对两个光记录介质反复地执行改写时抖动值的测量结果的示例的图形表示，和显示了当在室温下对两个光记录介质反复地执行改写时抖动值的测量结果的示例的图形表示；图4是显示了在通过利用根据本专利技术的该实施例的检查光记录介质的方法用不同的激光功率反复地执行改写之后抖动值的测量结果的示例的图形表示；以及图5是显示了在高温下反复地执行改写之后抖动的测量值和在室温下用比最佳功率大10％的激光功率反复地执行改写之后抖动值之间的关系，测量值和抖动值是通过利用根据本专利技术的该实施例的检查光记录介质的方法获得的。具体实施例方式下面，将参考图1到5详细描述根据本专利技术的的一个优选实施例。首先，图1显示了根据本专利技术的一个实施例的检查相位变化类型光记录介质(以下简称为“光盘”)的方法中使用的光盘检查设备。应该注意，图1所示的光盘检查设备1的配置只是示例，如此，本专利技术不仅限于此配置。光盘检查设备1包括驱动器3和光学拾取设备4。驱动器3用于旋转驱动可重写相位变化类型光盘2，光学拾取设备4用于将激光束施加到光盘2，并基于激光束的施加接收从光盘2反射的光。驱动器3包括主轴电动机5和馈送电动机6。主轴电动机5用于旋转驱动光盘2，馈送电动机6用于径向地移动光盘2。转台7被固定到主轴电动机5的旋转轴，光盘2适用于可拆卸地安装在转台7上。此外，编码器8被包含在主轴电动机5内。编码器8用于检测主轴电动机5的旋转，即，转台7(光盘2)的旋转，以输出表示旋转的状态的旋转检测信号。此外，通过主轴电动机控制电路11控制主轴电动机5的旋转。主轴电动机控制电路11控制主轴电动机5的转速，以便光盘2上的光点通过使用从摆动信号获取电路12提供的摆动信号、稍后将描述的从二值化电路27提供的数字信号(来自光盘2的再生信号)，相对于光盘2以固定线速度移动。还将速度控制信号从控制器13输入到主轴电动机控制电路11，并且通过使用速度控制信号将光盘2上的光点的线速度转换到另一个线速度(例如，相对于参考速度的双倍速度、四倍速度等等)。在此情况下，时钟信号的频率必须增加，增加后的时钟信号和摆动信号必须彼此同步。馈送电动机6连接到支承构件9，该支承构件通过螺杆10固定地支撑主轴电动机5，对于该支承构件，只允许光盘2的径向移动。螺杆10的一端连接到馈送电动机6的旋转轴，以便与馈送电动机6整体地旋转，螺杆10的另一端被拧进固定到支承构件9上的螺母(未显示)。如此，当馈送电动机6旋转时，主轴电动机5、转台7和支承构件9通过包括螺杆10和螺母的螺旋机构在光盘2的径向移动。此外，用于检测馈送电动机6的旋转以输出与如上文所提及的编码器8中的旋转检测信号相同的旋转检测信号的编码器(未显示)也被包含到馈送电动机6中。来自此编码器的旋转检测信号被提供到螺杆伺服电路(thread servo circuit)14。螺杆伺服电路14通过使用跟踪伺服信号(除了此旋转检测信号之外)控制馈送电动机6的旋转，以控制主轴电动机5、转告7和支承构件9在光盘2的径向的位移。具体来说，螺杆伺服电路14作为其输入从控制器13接收通过输入电路15指定的表示光点在光盘2上的径向位置的信号。然后，螺杆伺服电路14通过使用来自编码器8的旋转检测信号将光点移动到指定的径向位置。此外，螺杆伺服电路14执行控制，以便光点通过使用跟踪伺服信号跟随光盘2上的道。另一方面，光学拾取设备4包括激光源16、准直透镜17、偏振射束分裂器18、1/4波长盘19、物镜20、柱面透镜21和光检测器22。在光学拾取设备4中，从激光源16发出的激光束通过准直透镜17、偏振射束分裂器18、1/4波长盘19以及物镜20聚集在光盘2上，以在光盘2上形成光点。此外，从光盘2上形成的光点反射的光，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查相位变化类型光记录介质的方法，包括下列步骤：用为比一个激光功率高的给定值的激光功率对同一个道反复地执行改写，利用该一个激光功率，对于其中提供了由因为施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料制成的记录层的相位变化类型光记录介质，在室温下再生信号的抖动变得最小；在执行改写给定次数之后，测量再生信号的抖动值；以及判断所测量的抖动值是否等于或小于参考值。

【技术特征摘要】
JP 2005-1-19 2005-0118831.一种检查相位变化类型光记录介质的方法，包括下列步骤用为比一个激光功率高的给定值的激光功率对同一个道反复地执行改写，利用该一个激光功率，对于其中提供了由因为施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料制成的记录层的相位变化类型光记录介质，在室温下再生信号的抖动变得最小；在执行改写给定次数之后，测量再生信号的抖动值；以及判断所测量的抖动值是否等于或小于参考值。2.根据权利要求1所述的检查相位变化类型光记录介质的方法，其中，用...

【专利技术属性】
技术研发人员：恒木启三，
申请(专利权)人：索尼株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]