光盘、光盘设备、和光盘处理方法技术

根据一个实施例，一种根据本发明专利技术的光盘处理方法，探测来自光盘的反射光（ＳＴ１），所述光盘具有第一和第二记录层并且每一层中第一和第二光轨从内侧边缘向外侧边缘交替形成，根据用来指示凹坑极性的凹坑极性信息、和用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息，来确定对第一和第二记录层中的凹坑进行探测的方法，所述凹坑极性信息包含在探测到的反射光内反映的信息中，并且通过确定的探测方法从第一和第二记录层的凹坑中再现地址（ＳＴ３到ＳＴ７）。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的一个实施例涉及一种光盘，如DVD-R或DVD-RW。本专利技术的一个实施例还涉及一种处理这种光盘的光盘设备和光盘处理方法。
技术介绍
近年来，包括DVD-R和DVD-RW的各种光盘被广泛使用。在这些光盘的记录层中，槽岸光轨和沟槽光轨从内侧边缘向外侧边缘交替形成。在槽岸光轨上设置指示沟槽光轨地址的槽岸预制凹坑(LPP)。为了实现更高的容量，在研究和发展多记录层光盘上投入了极大的努力。例如，日本专利申请公开第10-289450号公开了一种聚焦伺服控制方法，当向一个多记录层光盘记录信息和从该光盘再现信息时，该方法用一种伺服电路从光盘正面或背面上靠近记录和再现表面的表面上开始焦点搜索操作。另外，日本专利申请公开第10-340536号公开了涉及一种预制凹坑信息探测单元的技术，即使噪声分量重叠在从光轨获得的抖动信号上时，也可根据预制凹坑信号精确地获得信息。此外，日本专利申请公开2003-317259公开的技术中，提供了一种用来探测从信息光轨的内圆周附近的槽岸光轨获得的LPP(槽岸预制凹坑)信号的内圆周LPP探测装置，以及一种用来探测从信息光轨的外圆周附近的槽岸光轨获得的LPP信号的外圆周LPP探测装置，并且当无法探测外圆周LPP信号时可用该内圆周LPP探测装置获得大致的地址信息。然而，在上述专利文件中，用来探测一个多记录层光盘中的LPP信号的技术没有被公开。包括DVD-R和DVD-RW的光盘的试记录空间由刻录规格(DVD-RBOOK，DVD-RW BOOK，和DVD-RAM BOOK)确定。近年来，为了增加记录容量已经对多层光盘进行了研究和开发，而没有考虑当光盘变为多层时探测LPP的方法，这已成为了一个问题。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是提供一种光盘，其具有多个记录层并且允许进行适当的凹坑再现，所述多个记录层使得一条光轨中的一个凹坑(预制凹坑)指示另一个邻近光轨的地址。本专利技术的另一个目的是提供一种光盘设备和一种光盘处理方法，所述设备和方法可从具有多个记录层的光盘中适当的再现凹坑，该多个记录层使得一条光轨中的一个凹坑(预制凹坑)指示另一个邻近光轨的地址。根据本专利技术的第一个方面，提供一种光盘，包括第一和第二记录层，在每一层中第一和第二光轨(或槽岸光轨和沟槽光轨)从内侧边缘向外侧边缘交替形成，第一记录层的第一光轨(或槽岸光轨)具有指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑，第二记录层的第二光轨(或沟槽光轨[实际上可认为是槽岸光轨，参考图2])具有指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的第二记录层的第一光轨地址的凹坑，以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型数据的标记的光轨；第一区域，其中记录了凹坑极性信息用来指示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址，并且所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的第二记录层的第一光轨地址；以及第二区域，其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息(即用于指示该层是第一层还是第二层的信息)。根据本专利技术的另一个方面，提供一种光盘，包括第一和第二记录层，在每一层中第一和第二光轨(或槽岸光轨和沟槽光轨)从内侧边缘向外侧边缘交替形成，第一记录层的第一光轨(或槽岸光轨)具有指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑，第二记录层的第二光轨(或沟槽光轨[实际上可认为是槽岸光轨，参考图2])具有指示第二记录层的第二光轨外圆周附近的第二记录层的第一光轨地址的凹坑，以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型数据的标记的光轨；第一区域，其中记录了凹坑极性信息用来指示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨的地址，并且所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨外圆周附近的第二记录层的第一光轨地址；以及第二区域，其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息(或用于指示该层是第一层还是第二层的信息)。根据本专利技术的又一个方面，提供一种光盘设备，其处理一种具有第一和第二记录层的光盘，在该第一和第二记录层的每一层中从内侧边缘向外侧边缘交替形成第一和第二光轨(或槽岸光轨和沟槽光轨)，该光盘设备包括探测单元，构成为用来探测从光盘反射的光，该光盘中指示地址的凹坑被记录在第一记录层的第一光轨(或槽岸光轨)中，指示地址的凹坑被记录在第二记录层的第二光轨(或沟槽光轨[实际上可认为是槽岸光轨，参考图2])中，以及指示各种类型数据的标记可被记录在第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨中；确定单元，其被构成为，根据用来指示凹坑极性的凹坑极性信息(或用来指示第一和第二层是具有相同极性还是具有不同极性的信息)、和用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息(即用来指示该层是第一层还是第二层的信息)，来确定对第一和第二记录层中的凹坑进行探测的方法，所述凹坑极性信息包含在由探测单元探测到的反射光内反映的信息中；和再现单元，构成为通过由确定单元确定的探测方法从第一和第二记录层的凹坑中再现地址。根据本专利技术的又一个方面，提供一种光盘处理方法，其处理一种具有第一和第二记录层的光盘，在该第一和第二记录层的每一层中从内侧边缘向外侧边缘交替形成第一和第二光轨(或槽岸光轨和沟槽光轨)，该光盘处理方法包括探测从光盘反射的光，该光盘中指示地址的凹坑被记录在第一记录层的第一光轨(或槽岸光轨)中，指示地址的凹坑被记录在第二记录层的第二光轨(或沟槽光轨[实际上可认为是槽岸光轨，参考图2])中，以及指示各种类型数据的标记可被记录在第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨中；根据用来指示凹坑极性的凹坑极性信息(即用来指示第一和第二层是具有相同极性还是具有不同极性的信息)、和用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息(即用来指示该层是第一层还是第二层的信息)，来确定对第一和第二记录层中的凹坑进行探测的方法所述凹坑极性信息包含在探测到的反射光内反映的信息中；以及通过确定的探测方法从第一和第二记录层的凹坑中再现地址。本专利技术另外的目的和优点将在以下的描述中阐明，并且部分将在描述中变得显而易见，或在本专利技术的实践中被认识。依靠以下详细指出的手段和结合可实现和获得本专利技术的目的和优点。附图说明下面将参考附图说明实现本专利技术各项特点的一个通用结构。附图和所附说明被提供来说明本专利技术的实施例，但不对本专利技术的范围进行限制。图1示意性地示出了根据本专利技术一个实施例的多记录层光盘的结构；图2是根据本实施例的多记录层光盘的剖面示意图；图3是根据本实施例的多记录层光盘的第一记录层的俯视图；图4是根据本实施例的光盘的第二记录层的俯视图；图5示意性地示出了根据本实施例的光盘设备的结构；图6示出了根据本实施例构成图5所示光盘设备中的光探测器的4象限光电探测器；图7示出了根据本实施例图5所示光盘设备中的信号处理电路；图8示出了作为根据本实施例图5所示光盘设备的选择结果而获得的差信号(预制凹坑信号)；以及图9是一个流程图，说明了在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘，其特征在于包括：第一和第二记录层（１，２），在每一层中第一和第二光轨（Ｌ，Ｇ）从内侧边缘向外侧边缘交替形成，所述第一记录层的第一光轨具有指示所述第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑（Ｐ），所述第二 记录层的第二光轨具有指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的所述第二记录层的第一光轨地址的凹坑（Ｐ），以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型数据的标记的光轨；第一区域（Ａ１），其中记录了凹坑极性信息用来指 示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨的地址，所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的第二记录层的第一光轨的地址；以及第二区域（Ａ２），其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息。

【技术特征摘要】
JP 2005-2-28 2005-0533301.一种光盘，其特征在于包括第一和第二记录层(1，2)，在每一层中第一和第二光轨(L，G)从内侧边缘向外侧边缘交替形成，所述第一记录层的第一光轨具有指示所述第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑(P)，所述第二记录层的第二光轨具有指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的所述第二记录层的第一光轨地址的凹坑(P)，以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型数据的标记的光轨；第一区域(A1)，其中记录了凹坑极性信息用来指示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨的地址，所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的第二记录层的第一光轨的地址；以及第二区域(A2)，其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息。2.根据权利要求1的光盘，其特征在于所述第一光轨为槽岸光轨，并且所述第二光轨为沟槽光轨。3.一种光盘，其特征在于包括第一和第二记录层(1，2)，在每一层中第一和第二光轨(L，G)从内侧边缘向外侧边缘交替形成，所述第一记录层的第一光轨具有指示所述第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑(P)，所述第二记录层的第二光轨具有指示第二记录层的第二光轨外圆周附近的所述第二记录层的第一光轨地址的凹坑(P)，以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型数据的标记的光轨；第一区域(A1)，其中记录了凹坑极性信息用来指示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨的地址，所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨外圆周附近的第二记录层的第一光轨的地址；以及第二区域(A2)，其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息。4.根据权利要求3的光盘，其特征在于所述第一光轨为槽岸光轨，并且所述第二光轨为沟槽光轨。5.一种光盘设备，用来处理具有第一和第二记录层的光盘，在所述第一和第二记录层的每一层中第一和第二光轨从内侧边缘向外侧边缘交替形成，所述光盘设备的特征在于包括探测单元(10)，构成为用来探测从光盘反射的光，该光盘中指示地址的凹坑记录在第一记录层的第一光轨中，指示地址的凹坑记录在第二记录层的第二光轨中，以及指示各种类型数据的标记能够记录在第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨中；确定单元(35)，构成为，根据用来指示凹坑极性的凹坑极性信息、和用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息，来确定对第一和第二记录层中的凹坑进行探测的方法，所述凹坑极性信息包含在由探测单元探测的反射光内反映的信息中；以及再现单元(25)，构成为通过由确定单元确定的探测方法从第一和第二记录层的凹坑中再现地址。6.根据权利要求5的光盘设备，其特征在于所述再现单元包括第一再现单元(H1、H2、H4)，构成为用来再现所述第一记录层的第二光轨外圆周附近的所述第一记录层的...

【专利技术属性】
技术研发人员：小林忠，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：JP[日本]