磁记录介质的检测装置及其检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种磁记录介质的检测装置及其检测方法。依据本发明专利技术所提供的磁记录介质的检测装置，包含：向所述磁记录介质发出光的外差激光器；使从所述磁记录介质反射的光按特定方向偏振的偏振部；用于接收偏振光的收光部；从接受到的光检测克尔磁信号的检测器；用于显示所检测到的所述克尔磁信号的显示部。据此，提供一种可以正确、简单地检测磁记录介质的克尔磁信号的光学设备检测装置及其检测方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，尤其涉及利用激光来检测磁信号的。
技术介绍
记录磁信号的磁记录介质如硬盘，为了检测其磁信号是否被记录和是否发生错误可利用激光。若向被磁化的物体上入射光，则由作为磁光效应的一种克尔磁光效应(magnetic kerr effect)使入射光与反射光之间产生一定的相位差。包含这种相位差的光信号称为克尔磁信号(magnetic kerr signal)或克尔信号(kerr signal)。磁记录介质的检测方法中，为了检测克尔信号通常采用零差激光器(homodyne laser)。当利用零差激光器检测克尔信号时，由于信号的检测及放大都在低频带中进行，因此发生由低频干扰(noise)、激光输出干扰及外部环境所引起的干扰。并且，由于所检测的信号微弱，因而不能进行较适宜的检测。为了解决上述问题，可以采用将含有克尔信号信息的光通过偏振光束分离器(polarizing beam splitter)分离之后的信号进一步放大的方法。使用这种方法时，虽然与不使用偏振光束分离器的情况相比可以检测到放大的磁信号，但由于为了检测分离光而使用多个检测器，因而可能使磁信号失真。并且，增加检测器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁记录介质的检测装置，其特征在于包含：向所述磁记录介质发出光的外差激光器；使从所述磁记录介质反射的光按特定方向偏振的偏振部；用于接收偏振光的收光部；从所接受到的光检测克尔磁信号的检测器；用于显示所 检测到的所述克尔磁信号的显示部。

【技术特征摘要】
KR 2005-8-19 10-2005-00761021.一种磁记录介质的检测装置，其特征在于包含向所述磁记录介质发出光的外差激光器；使从所述磁记录介质反射的光按特定方向偏振的偏振部；用于接收偏振光的收光部；从所接受到的光检测克尔磁信号的检测器；用于显示所检测到的所述克尔磁信号的显示部。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于进一步包含用于集中从所述外差激光器所发出的光的第一集光器；和，用于将从所述磁记录介质反射的光引导到所述偏振部的第二集光器。3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于进一步包含用于放大所述克尔磁信号的放大器。4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于所述放大器将接收到的光滤波为预定频域之后进行放大。5.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于所述放大器将接收到的光滤波为无线电频域。6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于所述收光部包含收光透镜和将从所述收光透镜接收到的光进行传递的光纤维。7.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于进一步包含位于所述外差激光器与所述第一集光器之间的第一补偿部，以用于调节从所述外差激光器发出的光路径。8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于所述第一补偿部包含相对于光射出方向的垂直方向调节光路径的位置补偿器和用于调节光角度的角度补偿器。9.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于进一步包含位于所述第二集光器与所述偏振部之间的第二补偿部，以用于调节通过所述第二集光器引导的光路径。10.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于从所述外差激光器发出的光包含具有第一偏振方向及与所述第一偏振方向相垂直的第二偏振方向的光，所述第一偏振方向及所述第二偏振方向中的某一方向与记录在所述磁记录...

【专利技术属性】
技术研发人员：普特波夫维蒂莫，赵成训，李锡原，权宁健，金大锡，金洸秀，李文九，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]