用于控制擦除功率电平的设备和使用该设备的方法技术

一种用于控制擦除功率电平的设备，能够最佳地设置在擦除盘的ＯＰＣ（最佳功率控制）区域中的测试周期时施加到盘上的功率电平，以及使用该设备的方法。该设备包括：拾取单元，将与擦除功率电平相对应的光照射到测试周期并且接收反射光；ＲＦ处理单元，根据拾取单元的输出，输出指示测试周期的写状态的指示信号；以及控制单元，用于暂时地设置多个擦除功率电平，通过施加所述多个擦除功率电平来擦除测试周期，并随后根据指示信号，将暂时设置的所述多个擦除功率电平之一设置为最佳擦除功率电平。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的方案涉及一种，更具体地，涉及一种用于控制擦除功率电平的设备以及一种使用该设备的方法，所述设备能够最佳地设置在擦除盘的OPC(最佳功率控制)区域中的测试周期时施加到盘上的功率电平。
技术介绍
在高密度盘，例如可重写蓝光光盘(Blu-ray)(BD-RE)中，轨道之间的距离非常短。因此，如果写功率电平是不适当的，当执行再现操作和记录操作时会发生串扰和交叉擦除。考虑到串扰和交叉擦除，执行OPC(最佳功率控制)操作，以便适当地选择施加到盘上的写功率电平。用于执行OPC操作的过程如下。开始时，擦除盘的OPC区域中的测试周期，以便初始化。接下来，在擦除测试周期的一部分中形成特定写功率图案。因此，通过检查写功率图案的状态，定义最佳写功率电平。然而，因为最初使用的盘没有执行OPC操作，难以设置用于擦除测试周期的功率电平。另一方面，盘制造商定义推荐的擦除功率电平的范围，其中，当擦除测试周期时推荐的擦除功率电平被施加到盘上。当根据盘制造商推荐的擦除功率电平来擦除测试周期时，可以确保合适的测试周期。然而，如果组成拾取单元的激光二极管发生偏差，即使将盘制造商推荐的擦除功率电平施加到盘上，擦除功率电平实际上是不合适的，并因此典型地不能够最佳地设置写功率电平。
技术实现思路
因此，本专利技术的方案提供一种用于控制擦除功率电平的设备以及使用其的方法，该设备能够最佳地设置用于擦除可重写盘的测试周期(test period)的擦除功率电平。根据本专利技术，通过提供一种控制擦除功率电平的设备，所述擦除功率电平用于擦除设置在可重写盘的OPC(最佳功率控制)区域中的测试周期该设备包括拾取单元，将与擦除功率电平相对应的光照射到测试周期并且接收反射光；RF处理单元，根据拾取单元的输出，输出指示测试周期的写状态或擦除状态的指示信号；以及控制单元，用于暂时设置多个擦除功率电平，通过施加所述多个擦除功率电平来擦除测试周期，并随后根据指示信号，将所述多个擦除功率电平之一设置为最佳擦除功率电平。在本专利技术的其他方案中，该设备还可以包括存储器，用于存储与通过控制单元设置的最佳擦除功率电平相关的信息。此外，控制单元可以通过拾取单元将与最佳擦除功率电平相关的信息存储在盘中。此外，控制单元可以将针对盘的推荐擦除功率电平设置为暂时擦除功率电平。根据本专利技术的另一个方案，提供一种控制擦除功率电平的方法，所述擦除功率电平用于擦除设置在可重写盘的OPC区域中的测试周期，该方法包括确定是否预先存储了与用于擦除测试周期的最佳擦除功率电平相关的信息；当根据确定结果预先存储了该信息时，暂时设置多个擦除功率电平；以及根据测试周期的状态，将多个擦除功率电平之一设置为最佳擦除功率电平，其中，通过施加多个擦除功率电平，首先擦除测试周期。在本专利技术的其他方案中，当根据确定结果预先存储了与最佳擦除功率电平相关的信息时，控制单元可以通过施加预先存储的最佳擦除功率电平来擦除测试周期。此外，可以通过向推荐的擦除功率电平加预定值或从推荐的擦除功率电平减预定值，执行暂时地设置多个擦除功率电平的步骤。此外，将多个擦除功率电平之一设置为最佳擦除功率电平的步骤还可以包括通过施加最佳擦除功率来擦除测试周期；确定是否满足擦除测试周期的状态；以及当根据确定结果没有满足状态时重新设置最佳擦除功率电平。将在下面的描述中部分阐述在本专利技术的其他方面和/或优点，并且部分将从这些描述中显而易见，或者可以通过实施本专利技术获知。附图说明结合附图，从下面对实施例的描述中，本专利技术的上述和/或其他方面和优点将变得显而易见，并且更容易认识到，图中图1是示出了作为可以应用本专利技术方案的盘的示例的可重写盘(例如可重写蓝光光盘(BD-RE))的配置的视图；图2A是示出了在图1的盘的OPC区域中的测试周期的视图；图2B是示出了用于擦除测试周期的擦除功率电平的视图；图2C是示出了各种盘制造商推荐的擦除功率电平的表；图3A是示出了可以应用本专利技术方案的、用于擦除测试周期的操作的视图；图3B是示出了可以应用本专利技术方案的、用于在擦除测试周期中形成写功率图案的操作的视图；图4A是示出了可以应用本专利技术方案的、使用低擦除功率电平擦除的测试周期的视图；图4B是示出了可以应用本专利技术方案的、使用合适的擦除功率电平擦除的测试周期的视图；图4C是示出了可以应用本专利技术方案的、使用过高擦除功率电平擦除的测试周期的视图；图5是示出了根据本专利技术方案、用于控制擦除功率电平的设备的配置的方框图；图6A和6B是示出了根据本专利技术方案、用于控制擦除功率电平的方法的流程图。具体实施例方式现在将详细参考本专利技术的实施例，附图中示出了本专利技术的示例，其中在所有附图中相同的数字表示相同的元件。下面通过参考附图描述这些实施例，以便解释本专利技术。图1是示出了可重写盘200(例如高密度光盘或可重写Blu-ray盘(BD-RE))的配置的视图。如图1所示，高密度光盘200(例如，可重写Blu-ray盘(BD-RE))具有轨道结构，该结构包括内部区域210、中心区域220以及边缘区域230，其中，盘200的内部区域210包括紧固区域211、过渡区域212、BCA(烧录区)213以及导入区214。此外，盘200的中心区域220和边缘区域230分别包括数据区222和导出区232。继续参考图1的盘200，导入区214被划分并分配为第一保护区(保护区(保护区1)214a、PIC(永久信息和控制数据)区域214b、第二保护区(保护区2)214c、第二信息区域(INFO 2)214d、OPC(最佳功率控制)区域214e、保留区域214f以及第一信息区域(INFO 1)214g。第一保护区(保护区1)214a和PIC(永久信息和控制数据)区域214b是预先记录数据的预先记录区域，而其他区域(导入区214、数据区222以及导出区232)是重新写入新数据的可重写区域。此外，对于图1的盘200，BCA(烧录区)213是记录/再现设备中当加载盘200(例如BD-RE盘)时首先被存取的内部主要区域，其中，例如盘序列号(DSC)、用于盘复制保护的加密信息(即复制保护信息(CPI))等的各种盘信息被记录在BCA 213中。PIC区域214b处于存储了要永久保存的一般盘信息的区域中，并且在PIC区域214b中记录了高频调制(HFM)槽。OPC区域214e是设置在导入区214中的区域，当执行OPC操作以选择最佳写功率电平(根据每一个制造商可以不同)时使用该区域。OPC区域214e的PAA地址的示例是0x1bc00～0x1dc00。图2A是示出了在图1的盘200的OPC区域214e中的测试周期的视图，以及图2B是示出了用于擦除测试周期的擦除功率电平的视图。参考图2A，将OPC区域214e的一部分定义为测试周期(EP)。测试周期(EP)被划分为第一周期(EP1)、第二周期(EP2)以及第三周期(EP3)，其中，在第二周期(EP2)中形成写功率图案(pattern)。不管写功率图案是否被预先记录在测试周期(EP)中，典型地需要用于擦除整个测试周期的处理，以便初始化测试周期(EP)。这被称为测试周期的初始化。此时，用于擦除测试周期(EP)的功率电平被称为擦除功率电平。因为其具有固定功率电平，还将擦除功率电平称为DC功率电平(Pdc)，如图2B所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种控制擦除功率电平的设备，所述擦除功率电平用于擦除设置在可重写盘的ＯＰＣ（最佳功率控制）区域中的测试周期，所述设备包括：拾取单元，将与擦除功率电平相对应的光照射到测试周期并且接收从盘反射的光；ＲＦ处理单元，根据与接收到的反射光相对应的、拾取单元的输出，输出指示测试周期的写状态或擦除状态的指示信号；以及控制单元，暂时地设置多个擦除功率电平，通过施加所述多个擦除功率电平来擦除测试周期，并随后根据指示信号，将暂时设置的所述多个擦除功率电平之一设置为最佳擦除功率电平。

【技术特征摘要】
KR 2005-9-14 2005-858951.一种控制擦除功率电平的设备，所述擦除功率电平用于擦除设置在可重写盘的OPC(最佳功率控制)区域中的测试周期，所述设备包括拾取单元，将与擦除功率电平相对应的光照射到测试周期并且接收从盘反射的光；RF处理单元，根据与接收到的反射光相对应的、拾取单元的输出，输出指示测试周期的写状态或擦除状态的指示信号；以及控制单元，暂时地设置多个擦除功率电平，通过施加所述多个擦除功率电平来擦除测试周期，并随后根据指示信号，将暂时设置的所述多个擦除功率电平之一设置为最佳擦除功率电平。2.根据权利要求1所述的设备，还包括存储器，用于存储与控制单元设置的最佳擦除功率电平相关的信息。3.根据权利要求1所述的设备，其中，控制单元将与最佳擦除功率电平相关的信息存储在可重写盘中或者从可重写盘中检索与最佳擦除功率电平相关的信息。4.根据权利要求1所述的设备，其中，控制单元将针对可重写盘的推荐擦除功率电平设置为暂时擦除功率电平。5.一种控制擦除功率电平的方法，所述擦除功率电平用于擦除设置在可重写盘的OPC(最佳功率控制)区域中的测试周期，所述方法包括确定是否预先存储了与用于擦除可重写盘的测试周期的最佳擦除功率电平相关的信息；当确定预先存储了与用于擦除测试周期的最佳擦除功率电平相关的信息时，暂时地设置多个擦除功率电平；以及根据测试周期的状态，将暂时设置的多个擦除功率电平之一设置为最佳擦除功率电平，其中，通过选择性地施加多个擦除功率电平以确定最佳擦除功率电平，来擦除测试周期。6.根据权利要求5所述的方法，其中，当确定预先存储了与最佳擦除功率电平相关的信息时，通过首先施加预先存储的最佳擦除功率电平来擦除测试周期。7.根据权利要求5所述的方法，其中，暂时地设置多个擦除功率电平的步骤包括向预定的擦除功率电平加预定值或从预定的擦除功率电平减预定值。8.根据权利要求7所述的方法，其中，将多个擦除功率电平之一设置为最佳擦除功率电平的步骤还包括通过首先将预定擦除功率电平设置为暂时设置的最佳擦除功率电平并施加，来擦除测试周期；确定施加的暂时设置的最佳擦除功率电平是否满足测试周期的擦除状态；以及当施加的暂时设置的最佳擦除功率电平没有满足测试周期的擦除状态时，将最佳擦除功率电平重新设置为所述多个擦除功率电平的另一个。9.根据权利要求5所述的方法，其中，暂时地设置多个擦除功率电平的步骤包括针对可重写盘，向预定擦除功率电平加预定值或从预定擦除功率电平减预定值，以提供多个擦除功率电平，其中所述预定擦除功率电平被暂时地设置为最佳擦除功率电平。10.根据权利要求9所述的方法，其中，将多个擦除功率电平之一设置为最佳擦除功率电平的步骤还包括通过施加暂时设置的最佳擦除功率来擦除测试周期；确定施加的暂时设置的最佳擦除功率电平是否满足测试周期的擦除状态；当确定施加的暂时设置的最佳擦除功率电平没有满足测试周期的擦除状态时，将最佳擦除功率电平重新设置为所述多个擦除功率电平的另一个，作为暂时设置的最佳擦除功率电平；以及当确定施加的暂时设置的最佳擦除功率电平满足测试周期的擦除状态时，将暂时设置的最佳擦除功率电平设置为最佳擦除功率电平。11.根据权利要求10所述的方法，还包括当确定施加的暂时设置的最佳擦除功率电平满足测试周期的擦除状态时，将暂时设置的最佳擦除功率电平作为最佳擦除功率电...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘真雨，桂贤硕，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]