本发明专利技术涉及磁盘驱动器装置及介质检测方法。根据一个实施例，一种磁盘驱动器装置包括使用多于一个的缺陷检测标准形成的缺陷表。描述了使用不同的缺陷检测标准来检测和映射可以影响驱动器操作的不同尺寸的和特定区域内的缺陷（７２０、７２２以及７２４）的方法和装置。同样，描述了由于利用了错误修正系统因此在选择的区域内可以提供快速并有效的缺陷扫描的方法和装置。示出了在缺陷检测期间使用伺服门脉冲触发读／写门断言的方法。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及。
技术介绍
磁盘驱动器是一种信息存储设备。磁盘驱动器包括一个或多个固定到 旋转轴的磁盘和至少一个用于从每个磁盘的表面读取信息表示数据和/或 在每个磁盘的表面上写数据的磁头。磁头由耦合到致动器的悬臂支撑，而 致动器可由音圏电机驱动。磁盘驱动器中的控制电子设备向音圏电机提供 电脉沖，用于将磁头移动到磁盘上的希望的位置处以在磁盘上的轨道中读 和写数据，并在不使用时或在需要时将磁头停放在安全的区域以保护磁盘 驱动器。虽然希望在磁盘表面上具有零缺陷，但是不可避免地总会存在一定程 度的缺陷。管理具有介质缺陷的磁盘驱动器操作的常用的解决方案是扫描 磁盘表面的缺陷并生成包含缺陷位置的图或缺陷表。以该方式，在磁盘上 读或写数据时就可以避开缺陷。然而，需要不断提升缺陷检测能力以确保 可靠的驱动操作。
技术实现思路
本专利技术涉及一种用于处理多方向自伺服写磁盘驱动器中的一个或一组 磁盘的装置和方法，基本上排除了 一个或多个由于相关
的限制和 不足所造成的问题。根据本专利技术的实施例， 一种用于检查存储设备的硬盘表面的介质缺陷的方法，包括 在第一硬盘表面区域中实施用于缺陷检测的第一标准；以及在第二硬盘表面区域中实施第二标准，所述第二标准具有比所述笫一 标准小的缺陷检测阈值。根据本专利技术的实施例， 一种用于检查存储设备的硬盘表面的介质缺陷 的方法，包括使用伺服门脉冲的下降沿触发写门的断言；在扇区中写测试数据组；使用伺服门脉沖的下降沿触发读门的断言以读所述扇区中的所述测试 数据组；以及比较所述写的测试数据组与所述读的测试数据组，以确定介质缺陷位置。根据本专利技术的实施例， 一种磁盘驱动器装置，包括 磁盘，包括多个扇区，每个扇区具有多个轨道； 存储介质，位于所述磁盘驱动器装置内，被配置为存储缺陷位置的缺 陷表，与所述缺陷位置对应的缺陷包括第一区域中的大于第一阈值尺寸的一个或多个缺陷； 第二区域中的小于所述第一阈值尺寸但大于第二阈值尺寸的一个 或多个缺陷。附图说明图1为根据示例性实施例的磁记录和再现装置(硬盘驱动器)的透视图2为根据示例性实施例的磁盘的示意性平面图； 图3为根据示例性实施例的磁盘中的数据区的透视图； 图4为根据示例性实施例的磁盘中的伺服区和数据区的示意图； 图5为根据示例性实施例的磁盘中的伺服区和数据区中的图形 (pattern)的平面图6为根据示例性实施例的磁记录和再现装置(硬盘驱动器)的框图7为扇区脉沖和磁介质区域的示意图8为选择的》兹盘驱动器的功能的示意性时序图9为根据示例性实施例的磁记录和再现装置(硬盘驱动器)的框以及图10为用于实现根据示例性实施例描述的方法和设备的计算机系统 的示例性框图。具体实施例方式下面，将参考附图描述本专利技术的示例性实施例。图1为根据实施例的磁记录和再现装置(硬盘驱动器)的透视图。磁 盘记录和再现装置包括机壳10和其内部的磁盘11、包括读磁头和写磁 头的磁头滑块16、支撑磁头滑块16的磁头悬臂组件(悬臂15和致动器臂 14)、音圏电机(VCM) 17以及电路板。磁盘(离散轨道介质)11被安装在主轴马达12上并通过其旋转。各 种数字数据以垂直磁记录的方式记录在磁盘11上。在示例性实施例中，并 入到磁头滑块16中的磁头是集成的磁头，其包括单极结构的写磁头和使用 屏蔽磁阻(MR)读部件(例如GMR膜或TMR膜)的读磁头。悬臂15 固定在致动器臂14的一端，以支撑磁头滑块16面向磁盘11的记录表面。 致动器臂14被附着到枢轴13。驱动致动器臂的音圏马达(VCM) 17位于 致动器臂的另一端。VCM 17驱动磁头悬臂组件以将磁头定位在磁盘11的 任意径向位置。电路板包括用以产生用于VCM的驱动信号和用于控制磁 头进行读和写操作的控制信号的磁头IC。图2为根据实施例的磁盘11的示意性平面图。图2示出了数据区18 和伺服区19。用户数据被记录在每一个数据区18中。该示例性磁盘具有 由同心磁性图形形成的轨道。后面将结合图3示例性地描述记录轨道。在 作为不同磁化材料的图形的伺服区19的每一个中形成用于定位磁头的伺 服数据。在磁盘表面上，伺服区19的形状类似于与访问期间的》兹头滑块的 轨迹相对应的圆弧。图3是根据实施例的磁盘介质中的数据区的一个实例的透视图。在衬 底21上形成软底层22。磁性图形构成记录轨道23。记录轨道23的径向宽 度和轨道中心距(pitch)分别用Tw和Tp表示。在磁头滑块中形成的读磁 头的GMR部件31和写/P兹头的单极32位于记录轨道23上方。可以使用平板玻璃衬底作为衬底21。衬底21并不局限于玻璃村底， 也可使用铝衬底(或任何其它合适的材料)。将磁性材料设置到衬底21 上并选择性地磁化，以形成记录轨道。CoCrPt可以用作形成记录轨道23 的磁性材料，本专利技术对此并无具体限制。尽管并未在图中示出，但是可以 在介质的表面上形成类金刚石碳(DLC)的保护膜。在一个实例中，可以 给保护膜的表面施加润滑剂。参考图4和图5描述伺服区和数据区的图形。如图4所示意性示出的， 伺服区19包括前导部分41、地址部分42、以及用于检测偏差的信号列 (burst)部分43。如图5中所示，数据区18包括记录轨道23。在伺服区19的前导部分 41、地址部分42、和信号列部分43中的每一个中形成提供伺服信号的磁 化图形。这些部分可以具有下述功能。提供前导部分41以执行用于合成时钟的锁相环(PLL)过程和用于保 持适当的信号幅度的AGC过程，该时钟用于相对于由介质的旋转偏移造 成的偏差的伺服信号读。地址部分42可以具有沿圆周方向以与前导部分41相同的中心距使用 编码例如曼彻斯特码(Manchester)或其它类型的编码形成的称为伺J3良标 记、扇区数据、柱面数据等的伺服信号识别码。具体而言，柱面数据具有 这样的图形，该图形显示了用于每一个伺服轨道的变化的数据以提供相邻 轨道之间的最小差别，由此降低搜索操作期间地址读取错误的不利影响。信号列部分43为离轨(off-track)检测区域，用于检测相对于柱面地 址的在轨(on-track)状态的离轨的量。信号列部分43包括用于相对于希 望的轨道中心定位读或写磁头的图形。以示例的方式示出了图5中的图形， 包括信号列标记(A、 B、 C、和D)，它们的沿径向的图形相位(phase)在各自的领域内彼此移动。也可以使用其它信号列图形。在一个实例中，沿圆周方向以与前导部分41相同的中心距设置多个标记。对于基于信号列部分43的检测位置的原则在此不作详述。在使用所示 图形时，可通过计算从A、 B、 C、和D信号列读取的信号的平均幅度值 来获得离轨的量。如上所述，可以使用其它不依赖平均幅度的图形。图6示出了根据示例性实施例的磁记录和再现装置(硬盘驱动器)的 框图。该图示出了磁头滑块16只位于磁盘11的顶表面之上。然而，在磁 盘的每一面上都形成了磁性记录层。在磁盘的底和顶表面上分别提供了下 磁头和上磁头。磁盘驱动器包括称为磁头磁盘组合件(HAD)的主体单元 100和印刷电路板(PCB ) 200。如图6所示，HDA 100具有磁盘11、旋转磁盘11的主轴马达12、包 括读磁头和写磁头的磁头滑块16、悬臂15和致动器臂14、 VCM 17、和 未示出的前置放大器(H本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于检查存储设备的硬盘表面的介质缺陷的方法，其特征在于包括： 在第一硬盘表面区域中实施用于缺陷检测的第一标准；以及 在第二硬盘表面区域中实施第二标准，所述第二标准具有比所述第一标准小的缺陷检测阈值。
【技术特征摘要】
US 2007-7-30 11/830,7241.一种用于检查存储设备的硬盘表面的介质缺陷的方法，其特征在于包括在第一硬盘表面区域中实施用于缺陷检测的第一标准；以及在第二硬盘表面区域中实施第二标准，所述第二标准具有比所述第一标准小的缺陷检测阈值。2. 根据权利要求l的方法，其特征在于所述第二硬盘表面区域包括邻 近所述硬盘表面上的同步标记的区域。3. 根据权利要求l的方法，其特征在于实施所述第二标准包括检查这 样的缺陷尺寸，所述缺陷尺寸对于数据区域而言是可以接受的而对于同步 标记区域而言却大到无法接受。4. 根据权利要求l的方法，还包括在与伺服门脉冲直接相关的时间处 断言读/写门。5. 根据权利要求4的方法，其特征在于在与所述伺服门脉冲直接相关 的时间处断言所述读/写门包括在所述伺服门脉冲的下降沿处断言读/写门 脉沖。6. 根据权利要求4的方法，其特征在于在与所述祠服门脉冲直接相关 的时间处断言所述读/写门包括在所述伺服门脉冲的所述下降沿之后的选 择的时间处断言所述读/写门。7. —种用于检查存條没备的硬盘表面的介质缺陷的方法，其特征在于 包括以下步骤使用伺服门脉沖的下降沿触发写门的断言； 在扇区中写测试数据组；使用伺服门脉冲的下降沿触发读门的断言，以读所述扇区中的所述测 试数据组；以及比较所述写的测试数据组与所述读的测试数据组，以确定介质缺陷位置。8. 根据权利要求7的方法，其特征在于使用所述祠服门脉冲的下降沿 触发所述写门的断言包括在紧密邻近所述伺服门脉冲的所述下降沿的时间 间隔之后触发写门的断言。9. 根据权利要求7的方法，其特征在于比较所述写的测试数据组与所 述读的测试数据组包括在第一硬盘表面区域中实施用于缺陷检测的第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：SG保罗，DD昌，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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