【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及当对能够进行记录的圆盘状的信息载体(以下称为光盘) 实施信息的记录或再现时，使光束跟随轨道的偏芯的光盘装置等。
技术介绍
在现有的光盘装置中，在再现信号的情况下，将比较弱的一定光量的 光束照射到作为信息载体的光盘的上面，对利用光盘的信息记录面以光量 的强弱而被调制的反射光进行检测。此外，在记录信号的情况下，根据记 录的信号以光量的强弱对光束进行调制并将信息写入光盘上的记录材料 膜。为了在光盘上记录信息或对被记录的信息进行再现，需要以光束在记 录材料膜上始终处于规定的收敛状态的方式在光盘1的面的法线方向(以 下称为聚焦方向)进行控制的聚焦控制以及以光束始终位于规定的轨道上 的方式在光盘的半径方向(以下称为跟踪方向)进行控制的跟踪控制。其 中，跟踪控制，是通过将光盘的来自包括轨道的信息记录面的反射光的强 弱作为跟踪错误信号进行检测，基于此，使用于将光束聚光在光盘上的物 镜在跟踪方向上移动来进行的。但是，光盘的轨道在信息记录面上形成为螺旋状。在是再现专用光盘 的情况下，凹坑的排列形成为螺旋状。此外，在光盘l是能够记录或再现 的光盘的情况下，引导槽形成为螺...
【技术保护点】
一种光盘装置，其包括： 使信息载体旋转驱动的旋转驱动部； 对所述信息载体的旋转相位进行检测的旋转相位检测部； 具有使光束聚光在所述信息载体上的聚光部的光头； 将所述聚光部的在所述光头内的位置作为位置信号进行检测的透镜位置检测部； 与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步，对与该检测出的旋转相位对应的来自所述透镜位置检测部的所述位置信号进行存储的透镜位置存储部； 与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步，将所述透镜位置存储部存储的、所述旋转相位检测部已经检测出的位置信号，作为校正信号输出的输出部； 使用所述校正信号对所述透镜位置检测部检测出的位置信号进行校正的透镜位置校正部； 使...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2006-1-27 019503/20061.一种光盘装置，其包括使信息载体旋转驱动的旋转驱动部；对所述信息载体的旋转相位进行检测的旋转相位检测部；具有使光束聚光在所述信息载体上的聚光部的光头；将所述聚光部的在所述光头内的位置作为位置信号进行检测的透镜位置检测部；与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步，对与该检测出的旋转相位对应的来自所述透镜位置检测部的所述位置信号进行存储的透镜位置存储部；与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步，将所述透镜位置存储部存储的、所述旋转相位检测部已经检测出的位置信号，作为校正信号输出的输出部；使用所述校正信号对所述透镜位置检测部检测出的位置信号进行校正的透镜位置校正部；使用来自所述透镜位置校正部的信号生成驱动信号，并基于此使所述聚光部在所述信息载体的半径方向移动的偏芯校正部；和减少所述校正信号、所述透镜位置校正部的输出信号或所述驱动信号的任一个的高频成分的高频成分减少部。2. 如权利要求l所述的光盘装置，其特征在于 所述高频成分减少部具有低通滤波器。3. 如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于-所述高频成分减少部，对输入的信号进行微分，并以规定电平对最大 值或最小值的至少一个进行限制、积分并输出。4. 如权利要求l所述的光盘装置，其特征在于 所述高频成分减少部，对输入的信号进行线性插补。5. 如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于所述输出部，以与高频成分减少部的延迟时间对应的相位差输出所述校正信号。6. —种光盘装置，其包括 使信息载体旋转驱动的旋转驱动部；对所述信息载体的旋转相位进行检测的旋转相位检测部； 具有使光束聚光在所述信息载体上的聚光部的光头； 将所述聚光部的在所述光头内的位置作为位置信号进行检测的透镜 位置检测部；与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步，对与该检测出的旋转相 位对应的来自所述透镜位置检测部的所述位置信号进行存储的透镜位置 存储部；与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步，将所述透镜位置存储部 存储的、所述旋转相位检测部已经检测出的位置信号作为校正信号输出的 输出部；使用所述校正信号对所述透镜位置检测部检测出的位置信号进行校 正的透镜位置校正部；和使用来自所述透镜位置校正部的信号生成驱动信号，并基于此使所述 聚光部在所述信息载体的半径方向移动的偏芯校正部，所述偏芯校正部，不对从所述透镜位置校正部输出的信号进行微分演 算，生成所述驱动信号。7. 如权利要求6所述的光盘装置，其特征在于 所述偏芯校正部具有对所述位置信号进行微分演算的微分滤波器；对从所述透镜位置校正部输出的信号进行比例演算和积分演算的至 少一个的积分比例滤波器；和将所述微分滤波器和所述积分比例滤波器的输出相加的加法器。8. 如权利要求1或6所述的光盘装置，其特征在于 还包括对所述聚光部的速度进行检测的透镜速度检测部；和 在来自所述透镜速度检测部的速度信息为规定电平以下的情况下，使所述偏芯校正部的动作停止的偏芯校正动作停止部。9. 如权利要求8所述的光盘装置，其特征在于所述透镜速度检测部对聚光部横穿所述信息载体的轨道的速度进行 检测。10. 如权利要求9所述的光盘装置，其特征在于所述透镜速度检测部，具有对光束横穿了所述信息载体的所述轨道的情况进行检测并作为2值化信号的边沿输出的轨道交叉检测部，通过对来自所述轨道交叉检测部的信号的周期进行测量，检测所述聚 光部的速度。11. 如权利要求8所述的光盘装置，其特征在于-所述透镜速度检测部，具有对包括所述聚光部的光头的移动速度进行 检测的光头速度检测部，基于来自所述光头速度检测部的信号对所述聚光部的速度进行推定。12. 如权利要求ll所述的光盘装置，其特征在于所述光头速度检测部，基于在所述信息载体的轨道检索时用于使所述 光头移动的驱动信号，对所述光头的移动速度进行推定。13. 如权利要求8所述的光盘装置，其特征在于-所述透镜速度检测部，具有对所述信息载体的轨道检索时的光头移动 目标速度曲线进行保持的光头移动目标保持部，基于来自所述光头移动目标保持部的信号对所述光头的移动速度进 行推定。14. 如权利要求8所述的光盘装置，其特征在于-所述透镜速度检测部，以所述信息载体的轨道检索动作开始时或结束时的规定期间的速度、以及比所述规定期间以外的期间中的所述速度快的 速度的两个值，对所述聚光部的速度进行推定。15. 如权利要求8所述的光盘装置，其特征在于来自所述透镜检测部的信号为顶部保持推挽信号。16. 如权利要求8所述的光盘装置，其特征在于所述偏芯校正部，若接收到来自偏芯校正停止邵的停止的控制，则对用于使所述聚光部移动的驱动信号的DC电平进行保持。17. 如权利要求8所述的光盘装置，其特征在于包括将来自所述光盘的记录轨道的反射信号作为跟踪错误信号进行 检测的跟踪错误信号检测部；和基于所述跟踪错误信号使所述聚光部在所述信息载体的半径方向移 动的跟踪控制部，其中，所述跟踪控制部，在没有进行其动作的情况下，对用于使所述聚光...
【专利技术属性】
技术研发人员：藤畝健司，菊池淳，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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