显示模块校正方法以及显示模块校正系统技术方案

本发明专利技术公开一种显示模块校正系统以及显示模块校正方法，显示模块校正系统包括一显示模块检测装置以及一待测显示模块。显示模块检测装置提供一点灯检测信号以及一分屏信号。待测显示模块电性连接显示模块检测装置，接收点灯检测信号以及分屏信号。当待测显示模块发生一亮度非均匀状态时，显示模块检测装置提供分屏信号至待测显示模块，将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区，并获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息。显示模块检测装置依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值。一灰阶值。一灰阶值。

【技术实现步骤摘要】
显示模块校正方法以及显示模块校正系统


[0001]本专利技术涉及一种显示模块校正方法以及显示模块校正系统，尤其涉及一种节省测试时间的显示模块校正方法以及显示模块校正系统。

技术介绍

[0002]显示模块制造厂商在自动化生产过程容易遇到测试过程异常而无法执行缺陷校正的问题，尤其是亮度不均匀(Mura)的情况。然而，多数校正方法都需要大量的计算时间以及调整过程。
[0003]因此，提供一种节省测试时间的显示模块校正系统以及显示模块校正模块，已经是业界的一个重要课题。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种显示模块校正方法，包含以下步骤：提供一点灯测试信号至一待测显示模块，以获得待测显示模块的一亮度均匀度信息；依据亮度均匀度信息判断，当待测显示模块处于一亮度非均匀状态时，提供一分屏信号至待测显示模块，将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区；获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息；以及依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值。
[0005]本专利技术还公开了一种显示模块校正系统，其特征在于，包含：一显示模块检测装置，提供一点灯检测信号以及一分屏信号；以及一待测显示模块，电性连接显示模块检测装置，接收点灯检测信号以及分屏信号；当待测显示模块处于一亮度非均匀状态时，显示模块检测装置提供分屏信号至待测显示模块，将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区，并获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息，显示模块检测装置依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值。
[0006]本专利技术所提供的显示模块校正系统以及显示模块校正方法，是撷取待测显示模块部分的像素区块进行亮度平均差异值的计算，以待测显示模块部分区域的像素区块进行补偿，来提高亮度均匀度，同时可以节省计算量以及测试时间。此外，本专利技术所提供的显示模块校正系统以及显示模块校正方法亦可将原本无法修复的分屏缺陷修复成正常效果，有效提升校正的执行率。
[0007]为使能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而所提供的附图仅用于提供参考与说明，并非用来对本专利技术加以限制。
附图说明
[0008]图1是本专利技术第一实施例的显示模块校正方法的流程图。
[0009]图2是应用本专利技术第一实施例的显示模块校正方法的一显示模块校正系统的示意图。
[0010]图3是本专利技术第一实施例中的显示模块检测装置的结构示意图。
[0011]图4是本专利技术第一实施例中的显示模块检测装置根据第一分屏信号进行校正的示意图。
[0012]图5是本专利技术第一实施例中的显示模块检测装置根据第二分屏信号进行校正的示意图。
[0013]图6是本专利技术第一实施例中的显示模块检测装置根据第三分屏信号进行校正的示意图。
[0014]图7是本专利技术第一实施例中的显示模块检测装置根据第四分屏信号进行校正的示意图。
[0015]图8是本专利技术第一实施例中的显示模块检测装置根据第五分屏信号进行校正的示意图。
[0016]图9是本专利技术第二实施例中的显示模块检测装置根据另一组分屏信号进行校正的示意图。
具体实施方式
[0017]以下是通过特定的具体实施例来说明本专利技术所提供有关“显示模块校正方法及其系统”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所提供的内容了解本专利技术的优点与效果。本专利技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本专利技术的构思下进行各种修改与变更。另外，本专利技术的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本专利技术的相关
技术实现思路
，但所提供的内容并非用以限制本专利技术的保护范围。
[0018]应当可以理解的是，虽然本文中可能会使用到“第一”、“第二”、“第三”等术语来描述各种组件或者信号，但这些组件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一组件与另一组件，或者一信号与另一信号。另外，本文中所使用的术语“或”，应视实际情况可能包含相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。
[0019][第一实施例][0020]图1是本专利技术第一实施例的显示模块校正方法的流程图。图2是应用本专利技术第一实施例的显示模块校正方法的一显示模块校正系统的示意图。
[0021]请参阅图1以及图2，本实施例提供一种显示模块校正方法，包括下列步骤：
[0022]提供一点灯测试信号至一待测显示模块，以获得待测显示模块的一亮度均匀度信息(步骤S110)；
[0023]依据亮度均匀度信息判断，当待测显示模块处于一亮度非均匀状态时，提供一分屏信号至待测显示模块，将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区(步骤S120)；
[0024]获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息(步骤S130)；
[0025]依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值(步骤S140)；
[0026]请继续参阅图1以及图2，显示模块校正系统1包括一显示模块检测装置10以及一待测显示模块11。待测显示模块11是一大尺寸显示模块，包含但不限于，其尺寸例如是32英
寸
‑
120英寸。待测显示模块11的分辨率可以是4K分辨率或是8K分辨率。4K分辨率至少包括3840*2160以及4096*2160两种分辨率；8K分辨率则是至少包括7680*4320的分辨率。
[0027]待测显示模块11包括多个像素区块11BL。于本案第一实施例中，待测显示模块11是4K分辨率的显示模块，包括3840*2160个像素或是4096*2160个像素，但不以此为限。
[0028]图3是本专利技术第一实施例中的显示模块检测装置的结构示意图。
[0029]请参阅图2以及图3，在步骤S110中，显示模块检测装置10会提供一点灯测试信号至待测显示模块11，进行亮度均匀度测试。显示模块检测装置10包括一处理模块10a、一内存模块10b以及一通信模块10c。显示模块检测装置10的处理模块10a利用通信模块10c连接待测显示模块11，提供多个点灯测试信号以及分屏信号给待测显示模块11。处理模块10a电性连接内存模块10b以及通信模块10c。内存模块10b中储存有多个点灯测试程序以及多个校正程序。
[0030]在步骤S120中，当待测显示模块11发生亮度非均匀状态的时候，显示模块检测装置10的校正程序会提供一第一分屏信号S1至待测显示模块11。于本案第一实施例中，点灯测试程序用于检测待测显示模块11的全部像素区块11BL的亮度均匀度，点灯测试信号会被传回显示模块检测装置10的处理模块10a，以进行亮度均匀度信息的计算。
[0031]请参阅图2，显示模块检测装置10的第一分屏信号S1是首先将待测显示模块11分成两个区域。在本实施例中，第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示模块校正方法，其特征在于，包括以下步骤：提供一点灯测试信号至一待测显示模块，以获得所述待测显示模块的一亮度均匀度信息；依据所述亮度均匀度信息判断，当所述待测显示模块处于一亮度非均匀状态时，提供一分屏信号至所述待测显示模块，将所述待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区；获取所述第一分屏区以及所述第二分屏区之间的一亮度平均差异信息；以及依据所述亮度平均差异信息调整所述待测显示模块的所述第一分屏区或所述第二分屏区的一灰阶值。2.如权利要求1所述的显示模块校正方法，其特征在于，所述待测显示模块具有复数个像素区块以及一位于中央处的分屏基线，所述分屏信号以所述分屏基线将所述待测显示模块区分为大小均等的所述第一分屏区以及所述第二分屏区。3.如权利要求2所述的显示模块校正方法，其特征在于：所述第一分屏区以及所述第二分屏区分别具有一子区域，所述子区域分别具有部分所述像素区块，所述子区域具有相同数量的像素区块；以及所述亮度平均差异信息为，先计算所述第一分屏区以及所述第二分屏区的所述子区域中，沿着所述分屏基线相对应的像素区块之间的亮度差异总和，再除以每一所述子区域中所具有的所述像素区块数量，进而得到一亮度平均差异值。4.如权利要求2所述的显示模块校正方法，其特征在于：所述第一分屏区以及所述第二分屏区分别具有复数个子区域，所述子区域分别具有部分所述像素区块，所述子区域具有相同数量的像素区块；以及将所述待测显示模块区分为所述第一分屏区以及所述第二分屏区后，分别获取所述子区域的复数个亮度平均差异信息，所述子区域的所述亮度平均差异信息分别为，先计算所述第一分屏区以及所述第二分屏区的所述子区域中，沿着所述分屏基线相对应的像素区块之间的亮度差异总和，再除以每一所述子区域中所具有的所述像素区块数量，进而得到复数个亮度平均差异值。5.如权利要求4所述的显示模块校正方法，其特征在于，获得所述亮度平均差异信息后，依据所述亮度平均差异信息依序调整所述待测显示模块的所述第一分屏区或所述第二分屏区的该灰阶值。6.如权利要求4所述的显示模块校正方法，其特征在于，将所述待测显示模块区分为所述第一分屏区以及所述第二分屏区后，自所述分屏基线依序向外分别获取所述子区域的所述亮度平均差异信息。7.如权利要求4所述的显示模块校正方法，其特征在于，所述第一分屏区的所述子区域彼此相邻设置，所述第二分屏区的所述子区域彼此相邻设置，以及所述第一分屏区以及所述第二分屏区靠近所述分屏基线的所述子区域彼此相邻设置。8.如权利要求4所述的显示模块校正方法，其特征在于，所述第一分屏区的所述子区域彼此间隔设置，以及所述第二分屏区的所述子区域彼此间隔设置。9.如权利要求2所述的显示模块校正方法，其特征在于，每一所述像素区块包括PxP个像素，P大于等于2。
10.一种显示模块校正系统，其特征在于，包括：一显示模块检测装置，提供一点灯检测信号以及一分...

【专利技术属性】
技术研发人员：林品杰，何明鸿，
申请(专利权)人：由田新技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：