显示面板的测试治具及测试方法技术

一种显示面板的测试治具及测试方法，该测试治具包括有一板件及设置于板件侧边的探针。这些探针至少包含复数个第一探针，用以接触具有第一规格的第一受测面板的信号接点，而传送第一测试信号至第一受测面板的信号接点；以及复数个第二探针，用以接触具有第二规格的第二受测面板的信号接点，而传送第二测试信号至第二受测面板的信号接点。因此该测试治具可选择地用于测试不同规格的显示面板。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于测试显示面板，特别是一种可测试不同规格显示面板的测试 治具及测试方法。
技术介绍
显示面板在制作完成之后，必须利用测试机台产生测试信号，送入显示 面板中，以确认显示面板是否可以正确动作。由于刚由产线完成制作的显示 面板还没有设置信号排线或是电连接器，因此这时候测试机台必须透过具备 探针的测试治具，来对显示面板馈入测试信号。测试治具以探针接触显示面板边缘外露的信号接点(Contact Pad)来达成电性连接，而将测试信号传 送至待测试的显示面板上。不同规格的显示面板尺寸大小并不相同，在显示面板上的信号接点数目 及配置位置也会不同。现有技术中是将测试治具可移动地设置于测试平台 上，使测试治具可以快速地改变于测试平台上的位置，以配合不同尺寸的显 示面板，或是将复数个探针可移动地设置于测试治具上，并使该些探针除了 可以沿着测试治具的长轴方向移动而改变位置外，也可以进行伸缩以选择是 否接触信号接点，以配合不同显示面板的信号接点位置配置。但当显示面板 除了尺寸变化之外，信号接点的配置位置也有变化时，采用将测试治具可移 动地设置于测试平台上的方式测试显示面板时，仍需要更换探针的配置位置 不同的测试治具。而当显示面板的信号接点数量众多时，为了将复数个探针 可移动地设置于测试治具上的正确位置时或决定每一探针突出或縮入测试 治具，将耗去许多时间。不论是采用将测试治具可移动地设置于测试平台上的方式或是采用将复数个探针可移动地设置于测试治具上的方式测试显示 面板皆无法快速地在产线上进行测试规格的变换。
技术实现思路
鉴于现有技术的显示面板的测试机台无法快速变换测试规格的问题，本 专利技术所要解决的技术问题是提供一种，可任 意地测试不同规格的显示面板。为了达成上述目的，本专利技术提出一种显示面板的测试治具，其包括有一 板件、复数个第一探针、复数个第二探针、 一第一电连接组件及一第二电连 接组件。第一探针设于板件的一侧边，分别用以接触一具有第一规格的第一 受测面板的信号接点。第二探针设于板件的侧边，分别用以接触一具有第二 规格的第二受测面板的信号接点。第一电连接组件用以接收一第一测试信 号，透过各第一探针传送至第一受测面板的信号接点。第二电连接组件，用 以接收一第二测试信号，透过各第二探针传送至第二受测面板的信号接点。 如此一来，就可以透过同一套测试治具，对具备不同规格的面板进行测试。本专利技术还提出一种显示面板的测试方法，其先提供一板件，并于板件的 侧边设复数个第一探针及复数个第二探针。接着将一待测试显示面板置于一 测试平台上，并将待测试显示面板的信号接点与对应的第一探针或第二探针 接触。判断待测试显示面板与对应的第一探针或第二探针接触，若待测试显 示面板与第一探针接触，则对第一探针传输一第一测试信号。若待测试显示 面板与第二探针接触，则对第二探针传输一第二测试信号。本专利技术的功效在于，本专利技术只要选择测试信号由第一电连接组件或第二 电连接组件馈入，就可以快速地变换测试治具的测试规格，不需要针对不同 的显示面板更换测试治具，或耗费时间调整测试治具，使测试流程可以快速 地适应产线产品的变化。 附图说明图1为本专利技术第一实施例的测试机台。图2A及图2B为本专利技术第一实施例的测试治具的局部立体图。图3A及图3B为本专利技术第一实施例的测试治具的局部分解图，揭示第一电连接组件及第二电连接组件。图4A及图4B为本专利技术第一实施例的平面示意图。 图5A及图5B为本专利技术第二实施例的平面示意图。 图6为本专利技术测试治具的又一种电性连接组件示意图。 主要元件符号说明100测试机台110测试平台120测试治具121板件122第一探针123第二探针124第一电连接组件124a第一电路板124b金属线路层124c第一导线125第二电连接组件125a第二电路板125b金属线路层125c第二导线126第三探针127a针座127b针座127c针座131电连接器132排线200显示面板200a第一受测面板200b第二受测面板201a信号接点201b信号接点具体实施方式以上关于本
技术实现思路
的说明及以下的实施方式的说明是用以示范与解 释本专利技术的原理，并且提供本专利技术的权利要求书更进一步的解释。以下在实施方式中详细叙述本专利技术的详细特征以及优点，其内容足以使 任何熟习相关技艺者了解本专利技术的
技术实现思路
并据以实施，且根据本说明书所 揭露的内容、权利要求书及图式，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本专利技术 相关的目的及优点。为使对本专利技术的目的、构造、特征及其功能有进一步的了解，现配合实 施例详细说明如下。参阅图1所示，为本专利技术第一实施例所揭露的一种测试机台100，用以 测试显示面板200。该测试机台100包含有用以承载显示面板200的测试平 台110及二可测试不同规格显示面板200的测试治具120。 二测试治具120 分别设置于测试平台110两侧，用以传送测试信号至显示面板200，以对显 示面板200进行测试。再参照图2A及图2B所示，各测试治具120包括一板件121、复数个第 一探针122及复数个第二探针123。复数个第一探针122设于板件121的一 侧边，同时第一探针122的位置配置，是相对于一具有第一规格的第一受测 面板200a的信号接点201a的位置。当第一受测面板200a放置于测试平台 110，且使测试治具120位于第一受测面板200a的边缘上方时，各第一探针 122接触第一受测面板200a的信号接点201a，如图2A所示。复数个第二探 针123也设置于板件121的侧边。第二探针123的位置配置，是相对于一具 有第二规格的第二受测面板200b的信号接点201b的位置。当第二受测面板 200b放置于测试平台110使测试治具120位于第二受测面板200b的边缘上 方时，各第二探针123接触第二受测面板200b的信号接点201b，如图2B 所示。由于第一探针122及第二探针123的位置配置，是分别相对于第一受 测面板200a及第二受测面板200b配置，因此第一探针122及第二探针123 的位置配置较佳是交错或是间隔配置。当第一受测面板200a ^C置于测试平 台110时，第一受测面板200a的信号接点只会与第一探针122接触，而不 会与第二探针123接触。反之，当第二受测面板200b放置于测试平台110 时，第二受测面板200b的信号接点201b只会与第二探针123接触，而不会 与第一探针122接触。参照图3A及图3B所示，测试治具120还包含复数个 针座127a、 127b、 127c，设置于板件121的边缘。这些第一探针122及这些 第二探针123固定于各针座127a、 127b、 127c上，而设置于板件121的边 缘。其中，第一探针122及第二探针123先固定于针座127a、 127b、 127c 上，针座127a、 127b、 127c再被设置于板件121边缘，以使板件121的组 装较为便利，同时，针座127a、 127b、 127c也可以延长第一探针122及第 二探针123距离。探针设置于针座127a、 127b、 127c上的数目，可依据各 探针所要设置的相对位置来决定。以本实施例为例，各针座127a、 127b、 127c 的探针数目(第一探针122加上第二探针123)本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板的测试治具，其特征在于，包括有：一板件；复数个第一探针，设于该板件的一侧边，分别用以接触一具有第一规格的受测面板的信号接点；复数个第二探针，设于该板件的该侧边，分别用以接触一具有第二规格的受测面板的信号接点；一第一电连接组件，电性连接这些第一探针，其中该第一电连接组件用以接收一第一测试信号，并透过各该第一探针传送该第一测试信号至该第一规格的受测面板的信号接点；及一第二电连接组件，电性连接这些第二探针，其中该第二电连接组件用以接收一第二测试信号，并透过各该第二探针传送至该第二规格的受测面板的信号接点。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林宪杰，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]