数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法制造方法及图纸

技术编号:29578899 阅读:10 留言:0更新日期:2021-08-06 19:35
本申请提供一种数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法,通过获取标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征,获取标定物在像素坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第二位置特征,并根据第一位置特征和第二位置特征,计算扫描仪的标定参数,能够在扫描仪扫描的过程中,获取标定物在像素坐标系下受温度影响发生形变后准确的位置特征,从而提高了在温度形变的影响下,扫描仪标定的准确度。

【技术实现步骤摘要】
数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法
本申请涉及摄影测量
,特别是涉及一种数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法。
技术介绍
在摄影测量领域,扫描仪标定能够确定被测物体在物理尺寸与像素尺寸之间的换算关系,从而校正扫描仪的畸变,提高摄影测量结果的精度。目前,扫描仪标定过程一般通过获取被测物体的像素尺寸,直接根据像素尺寸和已知的物理尺寸来计算该换算关系,在这种方式下,被测物体易受到温度影响发生形变,从而使得扫描仪获取的像素尺寸不准确,对扫描仪标定造成影响,最终影响摄影测量的精度。针对目前无法克服被测物体的温度形变影响扫描仪标定的准确度的问题,尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法,以至少解决相关技术中存在的无法克服被测物体的温度形变影响相机标定的准确度的问题。第一方面,本申请实施例提供了一种数据处理方法,用于对扫描仪进行标定,所述方法包括:获取标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征;获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征;根据所述第一位置特征和所述第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数。在其中一些实施例中,所述获取标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征,包括:获取所述标定物在所述世界坐标系下,标准温度下的第三位置特征;获取所述标定物的热膨胀比例系数,和所述环境温度与所述标准温度之间的温差,根据所述热膨胀比例系数、所述温差以及所述第三位置特征,得到所述标定物在所述世界坐标系下,在所述环境温度下,发生温度形变后的第一位置特征。在其中一些实施例中,所述根据所述热膨胀比例系数、所述温差以及所述第三位置特征,得到所述标定物在所述世界坐标系下,在所述环境温度下,发生温度形变后的第一位置特征,包括:根据所述热膨胀比例系数和所述环境温度与所述标准温度之间的温差,得到所述标定物在所述环境温度下的位置变化关系,根据所述位置变化关系和所述第三位置特征,得到所述第一位置特征。在其中一些实施例中,所述根据所述第一位置特征和第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数,包括:获取多组所述标定物的第一位置特征和第二位置特征;将多组所述第一位置特征和第二位置特征,输入扫描仪标定模型中,得到所述标定参数。在其中一些实施例中,所述获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征,为在所述环境温度下对所述标定物进行多角度成像,获得所述标定物在所述像素坐标系下,发生温度形变后的多组第二位置特征。第二方面,本申请实施例提供了一种数据处理装置,用于对扫描仪进行标定,包括第一获取模块、第二获取模块和标定模块;所述第一获取模块,用于获取标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征;所述第二获取模块,用于获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征;所述标定模块,用于根据所述第一位置特征和所述第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数。第三方面,本申请实施例提供了一种扫描仪标定系统,所述系统包括标定物、扫描仪、温度传感器、以及上述第二方面的数据处理装置,其中:所述标定物上设置有若干特征点;所述温度传感器用于获取环境温度,并将所述环境温度以信号的形式传输至所述数据处理装置;所述扫描仪用于对所述标定物进行成像,以获得像素坐标系下,所述标定物在所述环境温度下发生温度形变后,所述若干特征点的第二位置特征,并将所述第二位置特征传输至所述数据处理装置。在其中一些实施例中,所述扫描仪标定系统还包括:所述温度传感器设置于所述标定物上,用于获取所述标定物的环境温度;所述数据处理装置还用于获取所述标定物的热膨胀比例系数,并接收所述温度传感器获取的所述环境温度。在其中一些实施例中,所述标定物为标定板,所述第二位置特征为所述标定板在所述像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二三维坐标。在其中一些实施例中,所述标定物为标定杆,所述标定杆上设置有若干特征点,所述第二位置特征为所述标定杆在所述像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后,所述若干特征点之间的第二距离。在其中一些实施例中,所述扫描仪标定系统还包括显示装置,所述显示装置与所述数据处理装置进行数据传输,接收并显示所述数据处理装置计算的参数信息。第四方面,本申请实施例提供了一种扫描仪标定方法,用于上述第三方面的扫描仪标定系统,包括以下步骤:将温度传感器设置于标定物上,以获取所述标定物的环境温度;通过数据处理装置,计算所述标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征;使用扫描仪对所述标定物进行成像,以获得所述标定物在像素坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第二位置特征,并将所述第二位置特征传输至所述数据处理装置;通过数据处理装置,根据所述第一位置特征和所述第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数。上述数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法,通过获取标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征,获取标定物在像素坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第二位置特征,并根据第一位置特征和第二位置特征,计算扫描仪的标定参数,能够在扫描仪标定的过程中,获取标定物在像素坐标系下受温度影响发生形变后准确的位置特征,从而提高了在温度形变的影响下,扫描仪标定的准确度。附图说明此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:图1是根据本专利技术实施例的数据处理方法的应用环境图;图2是根据本专利技术实施例的数据处理方法的流程图;图3是根据本专利技术实施例的数据处理装置的结构示意图;图4是根据本专利技术实施例的扫描仪标定系统的结构示意图;图5是根据本专利技术实施例的扫描仪标定方法的流程图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行描述和说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。基于本申请提供的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。此外,还可以理解的是,虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的,然而对于与本申请公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言,在本申请揭露的
技术实现思路
的基础上进行的一些设计,制造或者生产等变更只是常规的技术手段,不应当理解为本申请公开的内容不充分。在本申请中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种数据处理方法,用于对扫描仪进行标定,其特征在于,所述方法包括:/n获取标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征;/n获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征;/n根据所述第一位置特征和所述第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种数据处理方法,用于对扫描仪进行标定,其特征在于,所述方法包括:
获取标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征;
获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征;
根据所述第一位置特征和所述第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征,包括:
获取所述标定物在所述世界坐标系下,标准温度下的第三位置特征;
获取所述标定物的热膨胀比例系数,和所述环境温度与所述标准温度之间的温差,根据所述热膨胀比例系数、所述温差以及所述第三位置特征,得到所述标定物在所述世界坐标系下,在所述环境温度下,发生温度形变后的第一位置特征。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述热膨胀比例系数、所述温差以及所述第三位置特征,得到所述标定物在所述世界坐标系下,在所述环境温度下,发生温度形变后的第一位置特征,包括:
根据所述热膨胀比例系数和所述环境温度与所述标准温度之间的温差,得到所述标定物在所述环境温度下的位置变化关系,根据所述位置变化关系和所述第三位置特征,得到所述第一位置特征。


4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一位置特征和所述第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数,包括:
获取多组所述标定物的第一位置特征和第二位置特征;
将多组所述第一位置特征和第二位置特征,输入扫描仪标定模型中,得到所述标定参数。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征,为在所述环境温度下对所述标定物进行多角度成像,获得所述标定物在所述像素坐标系下,发生温度形变后的多组第二位置特征。


6.一种数据处理装置,用于对扫描仪进行标定,其特征在于,包括第一获取模块、第二获取模块和标定模块;
所述第一获取模块,用于获取标定物在世界坐标系下,在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征;
所述第二获取模块,用于获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑俊周国勇
申请(专利权)人:杭州思锐迪科技有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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