【技术实现步骤摘要】
相关申请本专利技术要求提交日为2007年7月6日、序列号为60/948, 193的美国临 时专利的优先权,其在此引入作为参考。
技术介绍
在m^过程期间,操作员不得不^f亍在先前检查阶段期间发现的可疑缺 陷的i见觉验证。该被检查^被mit的物体可以是对其进行电i^查的被检 查物体,例如但不限于印刷电路板或在其制造过程的各阶段中的晶片。该验证系统顺序地将被检查物体的具有可疑缺陷的区域的视频图像呈现 给操作员。期望该操作员很决地识别在呈现的图像上的可疑缺陷并且执行下列操作之一(i)给该缺陷做标记(作为关键缺陷),(ii)为了后面的修复给该缺陷做标记,或(iii)修复该缺陷(立即地)。,员花费在该操作上的时间量极大tt决于在显示图像之内识别缺陷有多快。显示的图像不一定包括清晰的缺陷图像。 一些缺陷几乎不能看到, 一些缺陷不能^fclr到, 一些缺陷m^找到,等等。这些困难可能由下列原因中的至少之一引起(i)在通过^^]很低角度 的照明获得的图像中可更容易g查到浅^(shaUowshort)(电连接两个不 应该相互连接的导体的导电材料),然而在使用其它类型的照明获得的图像 中几 ...
【技术保护点】
一种用于缺陷增强的方法,该方法包括: 在验证过程期间,显示电路中与可疑缺陷相关的部分的第一图像; 根据可疑缺陷的类型在第一图像上应用至少一个形态操作以提供处理的图像;并且 显示该处理的图像。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:L雷兹尼克,A利维,
申请(专利权)人:卡姆特有限公司,
类型:发明
国别省市:IL[以色列]
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