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本发明提供了一种用于缺陷增强的方法，该方法包括：在验证过程期间，显示电路中与可疑缺陷相关的部分的第一图像；根据可疑缺陷的类型，在第一图像上应用至少一个形态操作以提供处理的图像；并且显示该处理的图像。...
该专利属于卡姆特有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过卡姆特有限公司授权不得商用。

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