物体表面的检查方法和检查系统技术方案

技术编号:2950252 阅读:345 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术是一种方法,用于通过使用CCD相机对物体的所要检查表面进行拍摄所得的图像来检查物体表面,其中,在图像内从表示所要检查表面的象素中选择任意两个象素,并且比较这两个象素,从而检查物体表面。当选择两个象素时,例如,可以选择点对称或线对称的象素。而且,例如,比较这两个选定象素的亮度。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于通过物体表面的拍摄图像来检查物体外表的方法和装置。
技术介绍
存在多种公知的方法用来检查物体表面的状态,特别,其中有一种方法通过使用CCD相机对物体进行拍摄并且处理其图像来检查物体表面状态。在这种情况下,例如,在用CDD相机拍摄的图像内从表示所要检查表面的象素中选择大约10点的象素,并且将这些象素的亮度平均值设为标准值,从而将所要测量点的象素亮度与该标准值进行比较,从而检查物体表面的状态。然而,这种传统检查方法存在一个问题由于物体表面状态的变化,外部环境如太阳光、室内光等的变化,以及拍摄图像期间是否存在照明等因素,导致检查结果不稳定。而且,消除外部环境影响以稳定检查结果需要大的投入。专利技术概述本专利技术是针对上述几点而提出的,并且本专利技术的目的是提供一种能够不受外部环境等的影响稳定地检查物体表面状态的方法和系统。本专利技术人使用CCD相机拍摄用稀土金属制成的盘形磁体,观察其图像中的颜色不均匀、污点、隆起、缺口等,并且以各种方式进行研究。结果,本专利技术人发现这样的事实所要检查表面(板面)的光学测量值,特别是它的亮度,随着外部环境和物体种类而不同。然而,在用CCD相机拍摄的图像中,当所要检查表面为平面或曲率小的曲面时,表示所要检查表面的象素的亮度大致表现为固定值,约呈±20%的正态分布,而当存在如污点、隆起、细裂纹等的缺陷时,表示缺陷点的象素的亮度表现为异常值。基于上述认识,根据本专利技术,提供一种检查方法,用于通过使用CCD相机对物体的所要检查表面进行拍摄所得的图像来检查物体表面,其特征在于,在图像内从表示所要检查表面的象素中选择任意两个象素并且比较这两个象素以检查物体表面。最好,该检查方法比较表示所要检查表面的所有象素。而且,当选择两个象素时,可以选择点对称或线对称的象素。例如,比较这两个选定象素的亮度。在这种情况下,获得这两个选定象素的亮度比,并且,当连续存在其亮度比超出预定范围的预定数目象素时,物体表面的状态可以判定为有缺陷。需要注意的是,当用CCD相机拍摄物体的所要检查表面时,可以通过光源照明所要检查的表面。而且,根据本专利技术,提供一种检查系统,其特征在于包括光源,用于照明物体的所要检查表面;CCD相机,用于拍摄物体的所要检查表面;以及控制器,用于在所拍摄的图像内从表示所要检查表面的象素中选择任意两个象素并且比较这两个象素以检查物体表面。在这种情况下,该系统还可以包括分类器,用于根据控制器的检查结果对物体进行分类。根据本专利技术,可以稳定地检查物体外表。附图简述附图说明图1是根据本专利技术一个实施例的检查系统的总体结构平面图;图2是一种检查装置的说明图;图3是一种具有较大直径光源的检查装置的说明图;图4是一种具有倾斜光轴的检查装置的说明图;图5是所选的两个象素以所要检查表面为圆形的工件的圆点形成点对称的状态说明图;图6是所选的两个象素以所要检查表面为正方形的工件的中心线形成线对称的状态说明图;图7是当检查外围部分时所选的两个象素以所要检查表面为圆形的工件的圆点形成点对称的状态说明图;以及图8是当检查外围部分时所选的两个象素以所要检查表面为正方形的工件的中心线形成线对称的状态说明图。专利技术详细描述下面,参照附图对本专利技术的优选实施例进行描述。图1是根据本专利技术实施例的检查系统1的总体结构平面图。在本实施例中,检查系统1构造为顺序地检查均由Nd-Fe-B-C烧结磁体组成的多个工件W的多个外表,其中,磁体就是所述物体的一个例子。工件(稀土磁体)W的形状为圆形或正方形平板。这种平板形工件W是通过将通过煅烧获得的圆杆或方杆形烧结物体切割成薄片而形成的,并且该工件W的厚度例如为几毫米且直径或边长为10mm。因此,工件W的正面W1和背面W2均形成为切割面。图1所示的检查系统1中,工件W从漏斗10进入,通过校准进料器11和线性进料器12,并且由递送装置13逐一取出,从而工件W逐一进入第一传送器14的开始部分(图1中的第一运输传送器14的左端)。校准进料器11设计为对从漏斗10进入的工件W施加振动,以将工件W校准为正面W1朝上的方式,并且将它们递送给下面的线性进料器12。在图1中,递送装置13以逆时针方向旋转,从而,在传输期间由两个厚度检查器15和16检查工件W的厚度。第一传送器14将从递送装置13递送的正面W1朝上的工件W从它的开始部分运输到它的结束部分(图1中向右)。第一传送器14的结束部分(图1中的第一传送器14的右端)与第二传送器20的开始部分(图1中的第二传送器20的左端)相连,从而,第一传送器14和第二传送器20构成用于运输工件W的运输器。在第一传送器14的结束部分和第二传送器20的开始部分之间的连接部分,布置有翻转装置21,用于翻转工件W,也就是,将它翻个面。翻转装置21翻转从第一传送器14递送的工件W,以使工件W的背面W2朝上。第二传送器20将通过翻转装置21使其背面W2朝上后的工件W从它的开始部分运输到它的结束部分(图1中向右)。沿着第一传送器14,布置有分类器25以及用于检查工件W的正面W1侧的外表的三个检查装置26、27和28。分类器25设计为允许工件W在通过厚度检查器15和16的检查判定为其厚度在预定范围内的情况下,由第一传送器14按照原样如图1所示向右进行运输,而在判定为其厚度大于预定范围的情况下,排出到区域30,并且在判定为其厚度小于预定范围的情况下,排出到区域31。这样就只允许厚度在预定范围内的工件W进入下面的检查装置26、27和28。同样,沿着第二传送器20,布置有用于检查工件W的反面W2侧的外表的三个检查装置35、36和37以及分类器38。分类器38设计为允许工件W在通过沿着第一传送器14的三个检查装置26、27和28以及沿着第二传送器20的三个检查装置35、36和37的检查判定为具有正常外表的情况下通过斜槽40进入位于第二传送器20的结束部分的存储区域41,而在判定为具有缺陷外表的情况下通过斜槽42进入位于第二传送器20的结束部分的区域43,并且在其外表不能判定为正常的情况下通过斜槽45进入位于第二传送器20的结束部分的区域46。沿着第一传送器14布置的检查装置26和沿着第二传送器20布置的检查装置35具有类似的结构,并且图2是检查装置26和35的说明图。光源50位于由第一传送器14或第二传送器20运输的工件W的上方,以从几乎正上方照明工件W。光源50为环形,并且光从光源50施加于工件W,由工件W反射到位于光源50中心的转换透镜51,并且经过变焦透镜52,从而用CCD相机53拍摄工件W的图像。在每个检查装置26和35中,转换透镜51、变焦透镜52和CCD相机53都位于工件W的正上方位置(方式是在检查装置26中垂直于工件W的正面W1,并且在检查装置35中垂直于背面W2)。如上所述,检查装置26从相对于由第一传送器14运输的工件W的正面W1的垂直(正上)方向拍摄所要检查的表面(正面W1),并且检查装置35从相对于由第二传送器20运输的工件W的背面W2的垂直(正上)方向拍摄所要检查的表面(背面W2)。而且,沿着第一传送器14布置的检查装置27和沿着第二传送器20布置的检查装置36也具有基本上类似于图2所示的检查装置26和检查装置35的结构。如图3所示,环形光源55对工件W进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于通过物体图像来检查物体表面的方法,包括如下步骤: 使用CCD相机对所述物体的所要检查表面进行拍摄; 在图像内从表示所要检查表面的象素中选择任意两个象素;以及 比较这两个象素以检查所述物体的表面。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:氏原尚猪股宽成藤田功
申请(专利权)人:同和矿业株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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