三维微观形貌斜扫描方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种三维微观形貌斜扫描方法及装置。该方法是通过计算机控制三个步进电机调整聚焦物体位置，保证在斜扫描的过程中始终保持聚焦观察对象在中心位置，并得到物体焦平面内的图像纹理和高层信息，再通过图像合成和重构得到比较大的尺度的三维形貌图。该装置包括计算机、显微镜和设置在显微镜上的摄像头（１）；显微镜的载物平台（１３）装有载物楔形台（１４）；载物楔形台与显微镜载物平台β＝５～４０度的倾角构成斜焦平面视场，其三维运动空间坐标与摄像头在该坐标下的图像同时输入到计算机数据库中，在此基础上重构三维微观形貌高层和纹理信息。本发明专利技术避免了在不聚焦的区域做无用的工作，减少扫描时间，提高了扫描速度和效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及三维扫描，尤其是涉及一种三维微观形貌斜扫描方法及装置。
技术介绍
目前，采用焦平面原理可以解决微观细胞的三维图像处理和重构，利用荧光显微镜采 用解巻积和盲解巻积的方法处理生物细胞的荧光的三维图像，提高图像的分辨率，利 用该原理设计设计了专利"ZL 2005200967777. 9 (公告号CN2804794 )"和 "200510018921. l(公开号CN1715987)"，这些能够以二维平面图像序列和一维高度数据 的形式记录三维表面信息，通过对这些信息重构可以得到直观的二维表面信息，然后再利 用三维表面的图像拼接方法，得到显微镜下全景深三维图像形貌。但是，这些方法采用对 一个对象进行纵向垂直扫描，得到仅仅是一个区域的三维图像，在扫描的过程中，不能进 行横向移动，如果希望得到更大的三维图像，需要重新移动一个地方，重新纵向垂直扫描， 然后再进行拼接得到更大的三维图像，此过程中，大部分时间是对不聚焦的表面进行扫描， 浪费时间，效率低。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种三维微观形貌斜扫描方法及装置，以便能够 对微观三维形貌和新貌纹理实现连续扫描，通过本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种三维微观形貌斜扫描方法，其特征是：放置在显微镜的载物楔形台（１４）上的样品，其微观形貌图像经显微镜在摄像头（１）成像后，由图像采集卡（２）输送到图像处理计算机（３）分析该微观形貌图像中的焦平面范围所在的位置，然后通过计算机控制Ｘ、Ｙ和Ｚ轴步进电机或伺服电机驱动载物平台（１３）沿着载物楔形台（１４）移动，在载物楔形台（１４）移动过程中，由位移记录仪将载物平台（１３）的移动信号传输到计算机中，得到载物平台的三维坐标的值，并将该坐标的值与采集微观形貌图像序列号建立一一对应关系；并通过计算机利用聚焦评价函数对每幅图像聚焦区域进行划分，每幅图像的聚焦区域作为该图像三维定位坐标的高层区域的范围，每幅聚...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吕植勇，严新平，彭雅芳，
申请(专利权)人：武汉理工大学，
类型：发明
国别省市：83[中国|武汉]