一种测量LDI内层对位精度的装置及其内层对位方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种测量LDI内层对位精度的装置及其内层对位方法，包括基座，基座上设有XYZ移动台、由该XYZ移动台控制移动的吸盘台面和下对准组件，吸盘台面的一端设有能够移动的标定靶点，基座上还设有支架，支架的横梁上设有第一相机和能够水平移动的第二相机，吸盘台面的边缘间隔设有多个靶点光源；本发明专利技术采用双向对摄抓点的视觉对位方法，抓取内层板上下两面的图形点。图形点由LDI曝光在内层板AB面再经显影蚀刻而得，A面和B面的图形点理论同心。先确认好第二相机和下对准组件相对于LDI曝光系统坐标系的旋转矩阵，再让第二相机和下对准组读取同一靶点，获取上下相机的同轴位置。获取上下相机的同轴位置。获取上下相机的同轴位置。

A device for measuring alignment accuracy of LDI inner layer and its inner layer alignment method

【技术实现步骤摘要】
一种测量LDI内层对位精度的装置及其内层对位方法


[0001]本专利技术涉及直接成像设备对位技术，特别涉及一种测量LDI内层对位精度的装置。

技术介绍

[0002]目前印刷电路板(PCB)随着电子产品的兴起越来越精密，对多层线路板的需求也逐渐提升。多层线路板的良率大程度依赖于内层板的制作精度。在内层制造工艺中，最重要工艺之一是菲林曝光。该工艺存在菲林涨缩、对位精度难以再度提升、打样流程繁琐等众多缺点，已逐渐由激光直写曝光(LDI)工艺取代。
[0003]LDI在机构、软件、成本方面存在限制，目前还未能突破直接双面曝光，造成内层板需要翻面曝光。内层板双面没有孔和靶点，给双面对准带来挑战。在内层曝光时，先曝其中一面(A面)，在另一面(B面)边料上打上靶点；当翻板到B面曝光时，可用对位系统对靶点识别，实现双面对准。然而机构台面、打靶点、翻板等皆会引入误差，这些误差大多为系统误差，可采用补偿的方式对其减小。本专利技术提供了一种测量LDI内层对位精度的方法及其实现的装置，可以随时方便快捷地获取误差补偿值，减弱机构、靶点等对内层对位的影响。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量LDI内层对位精度的装置，包括基座，其特征在于，所述基座上设有XYZ移动台、由该XYZ移动台控制移动的吸盘台面和下对准组件，所述吸盘台面的一端设有能够移动的标定靶点，所述基座上还设有支架，所述支架的横梁上设有第一相机和能够水平移动的第二相机，所述吸盘台面的边缘间隔设有多个靶点光源；将内层板放置在所述吸盘台面上，内层板的第一面朝上，激光直接对内层板的第一面图形曝光的同时、所述吸盘台面上的靶点光源对内层板的第二面进行打靶；内层板的第二面图形曝光时、内层板的第二面朝上放置在所述吸盘台面上，所述第一相机、第二相机和下对准组件对内层板进行对位后、再由所述激光直接对内层板的第二面图形曝光。2.根据权利要求1所述的测量LDI内层对位精度的装置，其特征在于，所述下对准组件包括下CCD相机、透反棱镜、远心镜头和反射棱镜，所述下CCD相机与所述远心镜头之间设置所述透反棱镜，所述反射棱镜设置在所述远心镜头上。3.根据权利要求2所述的测量LDI内层对位精度的装置，其特征在于，所述透反棱镜包括有反射面和透射面，所述透反棱镜倾斜45度置于一立方体斜镜座上，所述透反棱镜的表面镀有透反膜，所述透反膜对λ<450nm光波透射，对λ>450nm的光波反射，这里的λ为光波。4.根据权利要求2所述的测量LDI内层对位精度的装置，其特征在于，所述吸盘台面的一端设有两个对称设置的标定靶点安装板，所述标定靶点安装板通过直线滑轨和滑块连接所述标定靶点，所述标定靶点安装板的端部设有移动气缸，所述移动气缸能够推动所述标定靶点沿着所述直线滑轨移动，所述标定靶点移动寻找与所述下对准组件的同轴位置。5.根据权利要求4所述的测量LDI内层对位精度的装置，其特征在于，内层板进行第一面和第二面曝光时、均需进行标定靶点的对位，所述标定靶点的对位是标定靶点对准所述第二相机和下对准组件的位置，先确认好第二相机和下对准组件相对于LDI曝光系统坐标系的旋转矩阵，再让第二相机和下对准组读取同一靶点，获取上下相机的同轴位置，当所述第二相机、标定靶点和下对准组件三者处于同轴状态下，激光才对内层板进行第一面和第二面曝光；所述第二相机通过伺服电机带动同步轮同步带的方式驱动、使所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡文涛，邱田生，詹泽军，
申请(专利权)人：东莞市多普光电设备有限公司，
类型：发明
国别省市：