改变测量系统的一个或多个参数的方法技术方案

提供了用于改变测量系统的一个或多个参数的方法。一种方法包括使用系统来分析试样以从系统分类通道产生试样中一群粒子的值。该方法也包括识别群的值所处的分类空间中的区域。此外，该方法包括使用区域的一个或多个特性确定群的最佳分类区域。该最佳分类区域包含预定百分率的群的值。该最佳分类区域可被用作添加试样中的粒子的分类。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术大致涉及。某些实施例涉及优化用于分类群的粒子的测量系统的一个或多个参数的方法和系统。
技术介绍
以下描述和示例并不由于包含在本部分内而被承认为现有技术。通常，流式细胞仪提供在激光激励的聚苯乙烯珠线性地通过流量室时对其荧光强度的测量。在一些系统中，进行四种测量珠以相对于激励源成90度的方向散射光的能级；用来确定珠“身份”或“分类”的两种荧光测量；通常用来检测和/或量化有关表面化学反应的第三种荧光测量。三种荧光测量中的每一种在不同的波长进行。这些或其它荧光测量通过系统的不同“通道”来进行(例如信息通道、分类通道)，“通道”包括检测器和耦合到该检测器的可能的其它组件(例如光学组件、电子组件等)。在一个示例中，在珠经过激励激光的照射区域时通过光学地把珠的图像投影在光电倍增管(PMT)的感光区域上来量化化学反应的荧光测量。PMT的输出是电流脉冲，然后该电流脉冲被模拟电子设备调整并通过模数(A/D)转换器数字化。从A/D转换器所获得的结果数字值可以由数字信号处理器(DSP)算法在数字域中进一步调整。每一珠的最后结果是单个整数值，它通常正比于珠表面上的化学反应。基于诸如由德克萨斯州奥斯汀的Luminex有限公司制造的Luminex 100系统之类的系统的每一流式细胞仪以略微不同于“典型的”流式细胞仪仪器的方式显示粒子测量结果(例如100区域LabMAP)。这些显示器中的差异是诸如二极管激光器、光电二极管、滤光器以及用来处理数据的电子设备的许多系统组件所累积的容差的结果。特别是，通过将在粒子分析期间所产生的值与位于分类空间(例如图)中的区域相比较来分类粒子。具有位于分类空间中某一区域内的值的粒子被指定给对应于该区域的分类。因此，为了说明上述系统累积的容差，使得用来分类不同群的分类空间中的诸区域的大小大于所需分类区域以包含不同群的值。使用这些大于所需分类区域的一个结果是在一个系统和另一个系统之间粒子群的分类不一致。例如，一个系统有可能将95％的粒子群分类成属于一个特定区域，而该群的0.5％通常将被错分类进另一个区域，但是不同的系统可能正确地分类该粒子群的98％及错分该群的较小百分数。因此，使用大于所需的分类区域可导致低劣的系统对系统的匹配。然而，在多个测量系统被用在单个设备或组织中以对生物试样进行测定时，系统对系统匹配是所希望有的。用这种方式，可将使用一个测量系统所获得的结果直接与使用不同测量系统所获得的结果相比较。显然，减小分类区域大小的一种方式是降低系统所累积的容差。降低系统所累积的容差的一种方式是制造使用具有极窄容差组件的系统。但是，使用这样的组件加重了制造人员采购这些组件的负担。此外，可使用严格的装配效果来设法补偿精密的容差。然而，像极窄的容差组件、使用严格装配效果的方式增加了制造的复杂性及难度。因此，用于减小分类区域大小的当前可用方法增加了系统制造时间、减少了生产量并增加了整个系统成本。因此，最好是这样地减小分类区域的大小，使得系统能够在不使制造过程变复杂、不增加制造时间、不降低生产量及不增加整个系统成本的情况下用更高的系统精度和更高的系统对系统一致性来分类粒子。
技术实现思路
以下对用于改变测量系统一个或多个参数方法的各种实施例的描述不以任何方式解释为限制所附权利要求的主题。本专利技术的一个实施例涉及用于改变测量系统一个或多个参数的方法。该方法包括使用系统来分析试样以从系统分类通道产生试样中一群粒子的值。该方法也包括识别群的值所处的分类空间中的区域。此外，该方法包括使用区域的一个或多个特性确定群的最佳分类区域。该最佳分类区域包含预定百分率的群的值。该最佳分类区域可被用作添加试样中的粒子的分类。在一些实施例中，最佳分类区域具有不同于区域的一个或多个特性的一个或多个特性。该一个或多个特性包括尺寸、形状、位置或它们的某些组合。在一个实施例中，该方法包括在分析步骤之前校正系统。在一些实施例中，试样可包括图校正试剂(Map Calibration Reagent)。值可以用线性单位或对数单位来表达。在一个实施例中，区域的一个或多个特性包括区域中的值的平均值、均数、峰值或中值以及区域中的值的标准偏差。在另一个实施例中，最佳分类区域以区域中的值的中值为中心加上偏离该中值的若干标准偏差。在一个附加的实施例中，最佳分类区域由围绕群的值的中值的预定尺寸的边界来定界。在一些实施例中，最佳分类区域的尺寸是包含预定百分率的群的值的最小尺寸。在一个实施例中，来自分类通道的值包括荧光值。在不同的实施例中，来自分类通道的值包括光散射强度值。在其它实施例中，来自分类通道的值包括粒子的体积测量值。在另一实施例中，值可包括不同值(例如荧光值和光散射强度值等)的一些组合。在一些实施例中，试样可包括一个或多个添加的粒子的群。在一个这样的实施例中，对一个或多个添加的群执行本方法。用这样方式，可对一个或多个添加的群中的每一个确定最佳分类区域。在另一个这样的实施例中，本方法可包括使用群和一个或多个添加的群的最佳分类区域来内插得出不包括在试样中的另一粒子群的最佳分类区域。在一个实施例中，如上所述，区域的一个或多个特性可包括群的值的平均值、均数、峰值或中值以及群的值的标准偏差。在一个这样的实施例中，该方法可包括将一个或多个特性中的至少一个特性与该一个或多个特性中的至少一个特性的预定范围做比较。这样的实施例可包括基于比较步骤的结果来评定系统的性能。如果区域的一个或多个特性中的至少一个特性位于预定范围之外，该方法另一个这样的实施例可包括确定是否应在系统上执行一个或多个校正步骤。在另一个实施例中，方法可包括将最佳分类区域的一个或多个特性与区域的一个或多个特性做比较。在一个这样的实施例中，被比较的最佳分类区域和区域的一个或多个特性包括尺寸、形心位置、区域或最佳分类区域内值的最佳拟合直线的斜率、最佳拟合直线的偏距或它们的某些组合。在另一个这样的实施例中，如果该比较步骤的结果超出了预定的极限，该方法可包括确定系统是否正出错。在再一个实施例中，最佳分类区域包括一部分分类空间，粒子将具有位于该部分分类空间中的值的概率大于预定的概率。在另一个实施例中，最佳分类区域排除一部分分类空间，粒子将具有位于该部分分类空间中的值的概率小于预定的概率。上述方法的每一实施例可包括在此描述的任何其它步骤。另一个实施例涉及用于改变测量系统一个或多个参数的不同方法。该方法包括使用系统来分析试样以从系统分类通道产生试样中两群或更多群粒子的值。该方法也包括识别分类空间中的两个或更多的区域。在两个或更多区域的每一个中，找出两群或更多群粒子中的一群的值的位置。此外，该方法包括确定两个或更多最佳分类区域。两个或更多最佳分类区域中的每一个对应于两个或更多区域中的一个。该方法还包括使用两个或更多最佳分类区域来内插得出不包括在试样中的添加粒子群的最佳分类区域。该实施例也可包括在此描述的其它步骤。一个附加的实施例涉及用于改变测量系统一个或多个参数的计算机实施的方法。该计算机实施的方法包括识别试样粒子群的值所处的分类空间中的区域。所述值包括系统的分类通道在分析试样的过程中所产生的值。该计算机实施的方法也包括使用区域的一个或多个特性确定群的最佳分类区域。最佳分类区域包含预定百分率的群的值。该最佳分类区域本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于改变测量系统的一个或多个参数的方法，包括：使用系统来分析试样以从系统分类通道产生试样中的一群粒子的值；识别群的值所处的分类空间中的区域，以及使用所述区域的一个或多个特性确定群的最佳分类区域，其中所述最佳分类区域包含预定百分率的群的值，其中所述最佳分类区域被用作添加试样中的粒子的分类。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：E卡尔文，
申请(专利权)人：卢米尼克斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]