同轴测试探针模组及其测试装置制造方法及图纸

一种同轴测试探针模组及其测试装置，同轴测试探针模组包括金属空心基座、探针、连接部以及测试部。探针穿设于金属空心基座中，各探针分别具有连接端及测试端，各探针的测试端穿设于金属件，使探针的测试端的末端凸出于金属件。各探针的连接端分别连接至一连接部。测试部具有相对设置的第一表面及第二表面，探针的测试端自第二表面穿入测试部，直至探针的金属件位于测试部中，且探针的测试端的末端露出于第一表面。本实用新型专利技术通过同轴的结构，使探针有效地达到阻抗匹配，并取代板对板连接器公母头对扣的测试方式，毋须承担连接器压伤与零件故障的风险。

【技术实现步骤摘要】
同轴测试探针模组及其测试装置
本技术是有关于一种同轴测试探针模组及其测试装置，特别是指一种使用于高频传输线量测时，能有效达到阻抗匹配的同轴测试探针模组及其测试装置。
技术介绍
传统的测试模组主要是由弹簧针(PogoPin)及印刷电路板(PrintedCircuitBoard，PCB)所组成，由于结构复杂，阻抗不连续点多，用来进行传输线测试时，常因为测试针模无法有效地做到阻抗匹配，而使得测试设备与待测物之间反射量过大，而无法精准量测到传输线的S参数(S-parameter)。若是改采用将板对板连接器(BoardtoBoardConnector，BTBConnector)的公母头对扣方式进行测试，将不适合于量产过程中的测试，也容易在测试的过程中产生连接器压伤的情形，承担零件故障的风险。
技术实现思路
有鉴于此，本技术于一实施例中提供一种同轴测试探针模组，包括金属空心基座、多个探针、多个连接部以及测试部。金属空心基座具有位于相对二侧的第一端部及第二端部。多个探针穿设于金属空心基座中，各探针分别具有连接端及测试端，各探针的连接端凸出于金属空心基座的第一端部，各探针的测试端凸出于金属空心基座的第二端部，且各探针的测试端穿设于金属件，使探针的测试端的末端凸出于金属件，且于金属件内填充绝缘材料，以包覆位于金属件内的探针。各探针的连接端分别连接至一连接部。测试部具有相对设置的第一表面及第二表面，探针的测试端自测试部的第二表面穿入测试部，直至探针的金属件位于测试部中，且探针的测试端的末端露出于测试部的第一表面。在一些实施例中，绝缘材料为铁氟龙。在一些实施例中，还包括固定件，固定件设置于金属空心基座的第一端部，且连接部组设于固定件。在一些实施例中，还包括组装件，设置于金属空心基座的第二端部并具有通孔，测试部穿设于通孔并固设于组装件。在一些实施例中，测试部的第二表面侧具有顶抵部，顶抵部面积大于通孔的截面积，使顶抵部顶抵于组装件邻近金属空心基座的一侧。本技术于另一实施例中提供一种测试装置，包括载板、驱动件以及如上所述的同轴测试探针模组。载板具有容置槽，容置槽放置待测传输线。至少一同轴测试探针模组组设于驱动件，且位于载板的上方并对应于容置槽，驱动件带动至少一同轴测试探针模组靠近载板直至使至少一同轴测试探针模组的探针的测试端的末端接触待测传输线。在一些实施例中，至少一同轴测试探针模组的测试部的第二表面凸设有多个定位件。在一些实施例中，定位件凸出于第二表面的高度是小于探针的测试端的末端凸出于第二表面的高度。综上所述，本技术所提供的同轴测试探针模组及其测试装置，通过同轴的结构，使探针有效地达到阻抗匹配，且探针的外壳是金属空心基座，探针的测试端穿设于金属件，可以使得整个测试组件与待测传输线共地，以增加接地面积，提升整体稳定度，减少测试的杂波。并且，还可以取代板对板连接器公母头对扣的测试方式，毋须承担连接器压伤与零件故障的风险。再者，本技术所提供的同轴测试探针为活动式探针，在测试装置中，直接锁在测试夹具上即可使用，有效提升测试夹具的灵活性，也同时缩短测试夹具的开发周期与验证时间，减少成本。以下在实施方式中详细叙述本技术的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟悉相关技艺者了解本技术的
技术实现思路
并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、权利要求书及附图，任何熟悉相关技艺者可轻易地理解本技术相关的目的及优点。附图说明图1是本技术一实施例同轴测试探针模组的外观示意图；图2是本技术一实施例同轴测试探针模组的分解示意图；图3是本技术一实施例测试装置的作动图；图4是本技术一实施例同轴测试探针模组的仰视示意图；图5A是传统针模在测试时的驻波比(VoltageStandingWaveRatio，VSWR)图；图5B是本技术一实施例同轴测试探针模组在测试时的驻波比(VSWR)图；图6A是传统针模在测试时的S11曲线图；图6B是本技术一实施例同轴测试探针模组在测试时的S11曲线图。【符号说明】100:同轴测试探针模组10:金属空心基座11:第一端部12:第二端部20:探针21:连接端22:测试端221:末端23:金属件231:绝缘材料30:连接部31:螺丝32:螺帽40:测试部41:第一表面42:第二表面421:顶抵部422:定位件50:固定件60:组装件61:通孔62:凹部200:测试装置70:载板71:容置槽72:待测传输线80:驱动件具体实施方式请参阅图1至图2，图1是本技术一实施例同轴测试探针模组的外观示意图，图2是本技术一实施例同轴测试探针模组的分解示意图。由图1可见，本实施例的同轴测试探针模组100包括金属空心基座10、探针20、连接部30以及测试部40。请参阅图2，金属空心基座10的部分使用透视的方式，以更清楚绘示出详细的内部结构。由此分解图可见，金属空心基座10具有位于相对二侧的第一端部11及第二端部12，多个探针20穿设于金属空心基座10中。各探针20分别具有连接端21及测试端22，探针20的连接端21凸出于金属空心基座10的第一端部11，探针20的测试端22凸出于金属空心基座10的第二端部12。各探针20的测试端22穿设于金属件23，使探针20的测试端22的末端221凸出于金属件23，且于金属件23内填充绝缘材料231，以包覆位于金属件23内的探针20。由图2中透视的部分可见，各探针20的连接端21分别连接至连接部30。续请参阅图2，测试部40具有相对设置的第一表面41及第二表面42，探针20的测试端22自测试部40的第二表面42穿入测试部40，直至探针20的金属件23位于测试部40中，且探针20的测试端22的末端221露出于测试部40的第一表面41。如上所述，本技术所提供的同轴测试探针模组100，设计是同轴的模式，使测试针模有效地做到阻抗匹配，测试频率达到15GHz。再者，探针20、测试部40及其外壳(金属空心基座10)均为接地端，探针20的测试端22穿设于金属件23。金属件23经由同样为金属材质制成的测试部40再与金属空心基座10相连接，将使得同轴测试探针模组100的整体形成共地，在测试时可经由测试部40与待测物共地，使测试时的差损曲线能更平滑，不产生共振，以克服现有技术中所面临的问题。本实施例中，填充于金属件23内的绝缘材料231是铁氟龙，但不以此为限。在一些实施例中，可使用其他绝缘材料填充于金属件23内。在探针20前端金属件23内所填充的铁氟龙，进行针模测试时，并不会与连接器接触，避免因DK值(DielectricConstant)变化使阻抗产生变化，影响测试结本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种同轴测试探针模组，其特征在于，包括：/n一金属空心基座，具有位于相对二侧的一第一端部及一第二端部；/n多个探针，穿设于该金属空心基座中，各所述探针分别具有一连接端及一测试端，各所述探针的该连接端凸出于该金属空心基座的该第一端部，各所述探针的该测试端凸出于该金属空心基座的该第二端部，且各所述探针的该测试端穿设于一金属件，使该探针的该测试端的一末端凸出于该金属件，且于该金属件内填充一绝缘材料，以包覆位于该金属件内的该探针；/n多个连接部，各所述探针的该连接端分别连接至一所述多个连接部；以及/n一测试部，具有相对设置的一第一表面及一第二表面，所述多个探针的该测试端自该测试部的该第二表面穿入该测试部，直至所述多个探针的该金属件位于该测试部中，且该探针的该测试端的该末端露出于该测试部的该第一表面。/n

【技术特征摘要】
1.一种同轴测试探针模组，其特征在于，包括：
一金属空心基座，具有位于相对二侧的一第一端部及一第二端部；
多个探针，穿设于该金属空心基座中，各所述探针分别具有一连接端及一测试端，各所述探针的该连接端凸出于该金属空心基座的该第一端部，各所述探针的该测试端凸出于该金属空心基座的该第二端部，且各所述探针的该测试端穿设于一金属件，使该探针的该测试端的一末端凸出于该金属件，且于该金属件内填充一绝缘材料，以包覆位于该金属件内的该探针；
多个连接部，各所述探针的该连接端分别连接至一所述多个连接部；以及
一测试部，具有相对设置的一第一表面及一第二表面，所述多个探针的该测试端自该测试部的该第二表面穿入该测试部，直至所述多个探针的该金属件位于该测试部中，且该探针的该测试端的该末端露出于该测试部的该第一表面。


2.根据权利要求1所述的同轴测试探针模组，其特征在于，该绝缘材料为铁氟龙。


3.根据权利要求1所述的同轴测试探针模组，其特征在于，还包括一固定件，该固定件设置于该金属空心基座的该第一端部，且所述多个连接部组设于该固定件。


4.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：李定宗，
申请(专利权)人：嘉联益电子昆山有限公司，嘉联益科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32