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一种同轴测试探针模组及其测试装置，同轴测试探针模组包括金属空心基座、探针、连接部以及测试部。探针穿设于金属空心基座中，各探针分别具有连接端及测试端，各探针的测试端穿设于金属件，使探针的测试端的末端凸出于金属件。各探针的连接端分别连接至一连接...该专利属于嘉联益电子(昆山)有限公司;嘉联益科技(苏州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过嘉联益电子(昆山)有限公司;嘉联益科技(苏州)有限公司授权不得商用。