备用电路分派方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请涉及一种备用电路分派方法、装置、设备及介质，所述方法包括：执行第一测试项目，获取第一测试数据，第一测试数据包括执行第一测试项目期间获取的失效位元的位置数据；根据第一测试数据确定第一次备用电路分派结果；执行第二测试项目，获取第二测试数据；当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元，且已分派完可分派的地域备用电路时，根据第一测试数据和第二测试数据获取最大目标位元数量；根据最大目标位元数量所处的区间选取目标分派模式，并根据目标分派模式确定第二次备用电路分派结果。以提高备用电路的利用效率及存储芯片良率。电路的利用效率及存储芯片良率。电路的利用效率及存储芯片良率。

【技术实现步骤摘要】
备用电路分派方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及半导体
，具体涉及一种备用电路分派方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着半导体存储技术的快速发展，市场对半导体存储装置的存储性能与可靠性提出了更高的要求。半导体存储装置中记忆单元的数量及密度不断增加，导致半导体存储装置中失效位元的总数及相对于记忆单元总数的百分比不断增加，影响半导体存储装置的存储性能与可靠性。
[0003]在半导体存储装置的存储阵列区预先增设预定数量的备用电路，利用备用电路调换具有失效位元的地址线，对具有失效位元的半导体存储装置进行修补，可以有效地提高半导体存储装置的存储性能与可靠性。
[0004]如何在半导体存储装置中可利用的备用电路的数量已知的情况下，确定备用电路分派修补方案，在保证所有失效位元均能够被修补的前提下，提高备用电路的利用效率，成为进一步提高半导体存储装置的存储性能与可靠性过程中亟待解决的技术难题之一。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述
技术介绍
中的技术问题，提供一种备用电路分派方法、装置、设备及介质，在保证所有失效位元均能够被修补的前提下，提高备用电路的利用效率。
[0006]为实现上述目的及其他目的，本申请的第一方面提供一种备用电路分派方法，包括：
[0007]执行第一测试项目并获取第一测试数据，所述第一测试数据包括执行第一测试项目期间获取的失效位元的位置数据；
[0008]根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果，所述第一次备用电路分派结果包括已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据；
[0009]执行第二测试项目并获取第二测试数据，所述第二测试数据包括执行第二测试项目期间获取的失效位元的位置数据；
[0010]当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元，且已分派的地域备用电路的数量等于可分派的地域备用电路的数量时，根据所述第一测试数据和所述第二测试数据获取最大目标位元数量，根据所述最大目标位元数量所处的区间选取目标分派模式，并根据所述目标分派模式确定第二次备用电路分派结果。
[0011]于上述实施例中的备用电路分派方法中，在可分派的地域备用电路及可分派的全域备用电路的数量均已知的情况下，执行第一测试项目，获取第一测试数据，所述第一测试数据包括执行第一测试项目期间获取的失效位元的位置数据，以根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果，所述第一次备用电路分派结果包括已分派的地域备用电路的
数量和对应的位置数据；并执行第二测试项目，获取第二测试数据，所述第二测试数据包括执行第二测试项目期间获取的失效位元的位置数据；当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元，且已分派的地域备用电路的数量等于可分派的地域备用电路的数量时，根据最大目标位元数量的情况选取对应的目标分派模式以智能化确定第二次备用电路分派结果，在确保所有失效位元均能够被已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路修补的前提下，使得已分派的地域备用电路的数量及已分派的全域备用电路的数量之和尽可能减少，避免出现重复修补的情况，提高备用电路的利用效率。
[0012]在其中一个实施例中，在执行第一测试项目并获取第一测试数据的步骤之前，还包括：获取预设子域内可分派的地域备用电路的数量及可分派的全域备用电路的数量。以根据可分派的地域备用电路的数量及可分派的全域备用电路的数量来确定出较佳的备用电路分派方案，在确保所有失效位元均能够被已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路修补的前提下，使得已分派的地域备用电路的数量及已分派的全域备用电路的数量之和尽可能减少，避免出现重复修补的情况，提高备用电路的利用效率。
[0013]在其中一个实施例中，所述地域备用电路的延伸方向与位线的延伸方向一致；所述全域备用电路的延伸方向与字线的延伸方向一致，使得地域备用电路能够修补存储单元阵列中行方向的失效位元，且全域备用电路能够修补存储单元阵列中列方向的失效位元。
[0014]在其中一个实施例中，在根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果的步骤之后，且在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之前，还包括：
[0015]获取第一累计失效位元位置数据，所述第一累计失效位元位置数据包括在各已执行的测试项目期间获取的失效位元的位置数据之和；
[0016]获取第一备用电路分派累计结果，所述第一备用电路分派累计结果包括在各已执行的测试项目之后已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据之和，以及已分派的全域备用电路的数量和对应的位置数据之和。
[0017]于上述实施例中的备用电路分派方法中，通过获取包括在各已执行的测试项目期间获取的失效位元的位置数据之和的第一累计失效位元位置数据，以在执行第二测试项目期间不再对位置数据已知的失效位元重复测试，提高测试项目执行的效率并尽可能检测出所有失效位元的位置数据；通过获取第一备用电路分派累计结果，所述第一备用电路分派累计结果包括在各已执行的测试项目之后已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据之和，以及已分派的全域备用电路的数量和对应的位置数据之和，从而在各已执行的测试项目之后，判断已分派的全域备用电路及已分派的地域备用电路的修补范围是否能够覆盖所有位置数据已知的失效位元，并确定是否可以进一步优化备用电路分派方案，在避免出现失效位元遗漏修补或重复修补的前提下，尽可能减少已分派的地域备用电路的数量及已分派的全域备用电路的数量。
[0018]在其中一个实施例中，在根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果的步骤之后，且在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之前，还包括：
[0019]获取第一测试项目的名称；
[0020]生成第一累计失效位元位置结果，所述第一累计失效位元位置结果包含所述第一测试项目的名称及所述第一累计失效位元位置数据。
[0021]在其中一个实施例中，在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之后，还包括：
[0022]获取第二累计失效位元位置数据，所述第二累计失效位元位置数据为所述第一累计失效位元位置数据与执行第二测试项目期间获取的失效位元的位置数据之和；
[0023]所述根据所述第一测试数据和所述第二测试数据确定第二次备用电路分派结果的步骤，包括：
[0024]根据所述第二累计失效位元位置数据确定第二次备用电路分派结果。
[0025]在其中一个实施例中，根据第一测试数据和第二测试数据获取最大目标位元数量，包括：
[0026]根据第二累计失效位元位置数据，统计同一区域中每个字线包含的失效位元数量；
[0027]将同一区域中各字线对应的失效位元数量的最大值作为最大目标位元数量。
[0028]在其中一个实施例中，根据所述最大目标位元数量所处的区间选取目标分派模式，包括：
[0029]当所述最本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种备用电路分派方法，其特征在于，包括：执行第一测试项目并获取第一测试数据，所述第一测试数据包括执行第一测试项目期间获取的失效位元的位置数据；根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果，所述第一次备用电路分派结果包括已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据；执行第二测试项目并获取第二测试数据，所述第二测试数据包括执行第二测试项目期间获取的失效位元的位置数据；当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元，且已分派的地域备用电路的数量等于可分派的地域备用电路的数量时，根据所述第一测试数据和所述第二测试数据获取最大目标位元数量，根据所述最大目标位元数量所处的区间选取目标分派模式，并根据所述目标分派模式确定第二次备用电路分派结果。2.根据权利要求1所述的备用电路分派方法，其特征在于，在执行第一测试项目并获取第一测试数据的步骤之前，还包括：获取预设子域内可分派的地域备用电路的数量及可分派的全域备用电路的数量。3.根据权利要求2所述的备用电路分派方法，其特征在于：所述地域备用电路的延伸方向与位线的延伸方向一致；所述全域备用电路的延伸方向与字线的延伸方向一致。4.根据权利要求2所述的备用电路分派方法，其特征在于，在根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果的步骤之后，且在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之前，还包括：获取第一累计失效位元位置数据，所述第一累计失效位元位置数据包括在各已执行的测试项目期间获取的失效位元的位置数据之和；获取第一备用电路分派累计结果，所述第一备用电路分派累计结果包括在各已执行的测试项目之后已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据之和，以及已分派的全域备用电路的数量和对应的位置数据之和。5.根据权利要求4所述的备用电路分派方法，其特征在于，在根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果的步骤之后，且在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之前，还包括：获取第一测试项目的名称；生成第一累计失效位元位置结果，所述第一累计失效位元位置结果包含所述第一测试项目的名称及所述第一累计失效位元位置数据。6.根据权利要求4所述的备用电路分派方法，其特征在于，在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之后，还包括：获取第二累计失效位元位置数据，所述第二累计失效位元位置数据为所述第一累计失效位元位置数据与执行第二测试项目期间获取的失效位元的位置数据之和；所述根据所述第一测试数据和所述第二测试数据确定第二次备用电路分派结果的步骤，包括：根据所述第二累计失效位元位置数据确定第二次备用电路分派结果。
7.根据权利要求6所述的备用电路分派方法，其特征在于，所述根据所述第一测试数据和所述第二测试数据获取最大目标位元数量，包括：根据第二累计失效位元位置数据，统计同一区域中每个字线包含的失效位元数量；将同一区域中各字线对应的失效位元数量的最大值作为最大目标位元数量。8.根据权利要求7所述的备用电路分派方法，其特征在于，所述根据所述最大目标位元数量所处的区间选取目标分派模式，包括：当所述最大目标位元数量小于等于第一目标值时，选取第一目标分派模式；当所述最大目标位元数量大于所述第一目标值且小于等于第二目标值时，选取第二目标分派模式；当所述最大目标位元数量大于所述第二目标值时，选取第三目标分派模式。9.根据权利要求8所述的备用电路分派方法，其特征在于，当目标分派模式为第一目标分派模式时，根据所述目标分派模式确定第二次备用电路分派结果，包括：从所述第一备用电路分派累计结果中撤回目标子域中已分派的地域备用电路与已分派的全域备用电路；所述目标子域为所述修补范围之外的失效位元所处的子域；根据所述目标子域的失效位元的第一目标位置数据，确定第二次备用电路分派结果。10.根据权利要求8所述的备用电路分派方法，其特征在于，当目标分派模式为第二目标分派模式时，根据所述目标分派模式确定第二次备用电路分派结果，包括：从所述第一备用电路分派累计结果中撤回目标区域中已分派的地域备用电路与已分派的全域备用电路；所述目标区域为所述修补范围之外的失效位元所处的区域；根据所述目标区域的失效位元的第二目标位置数据，确定第二次备用电路分派结果。11.根据权利要求8所述的备用电路分派方法，其特征在于，当目标分派模式为第三目标分派模式时，根据所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈予郎，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：