SSDBIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及SSD BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：预先配置设定测试温度和BIST测试时长；控制温箱升温，当温度达到设定测试温度时，对SSD进行上电，开始测试；实时获取SSD BIST测试日志信息，当达到设定BIST测试时长时，测试停止，保存SSD BIST测试日志信息。本发明专利技术通过将温箱控制和SSD BIST测试日志收集功能集成统一，不仅实现了SSD BIST测试过程自动上电、温度控制、设定、自动下电，同时针对SSD BIST测试过程日志信息进行收集保存，有效进行SSD BIST自动化测试的同时对测试日志进行收集便于后续生产数据追溯、分析。分析。分析。

【技术实现步骤摘要】
SSD BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及SSD BIST测试
，更具体地说是指SSD BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]现有SSD BIST设备，仅仅是用于温箱控制，没有对SSD BIST测试过程日志进行存储收集，这导致测试过程异常信息没法实时收集并记录，在生产应用上难以做到生产测试信息有效追溯。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供SSD BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质。
[0004]为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0005]SSD BIST测试的方法，包括以下步骤：
[0006]预先配置设定测试温度和BIST测试时长；
[0007]控制温箱升温，当温度达到设定测试温度时，对SSD进行上电，开始测试；
[0008]实时获取SSD BIST测试日志信息，当达到设定BIST测试时长时，测试停止，保存SSD BIST测试日志信息。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.SSD BIST测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：预先配置设定测试温度和BIST测试时长；控制温箱升温，当温度达到设定测试温度时，对SSD进行上电，开始测试；实时获取SSD BIST测试日志信息，当达到设定BIST测试时长时，测试停止，保存SSD BIST测试日志信息。2.根据权利要求1所述的SSD BIST测试的方法，其特征在于，所述设定测试温度为30℃
‑
70℃。3.根据权利要求1所述的SSD BIST测试的方法，其特征在于，所述设定BIST测试时长为60s
‑
72h。4.根据权利要求1所述的SSD BIST测试的方法，其特征在于，所述实时获取SSD BIST测试日志信息，当达到设定BIST测试时长时，测试停止，保存SSD BIST测试日志信息步骤之后，还包括：将SSD BIST测试日志信息上传至终端，终端对SSD BIST测试日志信息进行图形化界面显示。5.SSD BIST测试的装置，其特征在于，包括：配置设定单元，控制测试单元，及获取保存单元；所述配置设定单元，用于预先配置设定测试温度和BIST测试时长；所述控制测试单元，用于控制温箱升温，当温度达到设定测试温度时，...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭李乔，赵军委，张卫民，
申请(专利权)人：东莞记忆存储科技有限公司，
类型：发明
国别省市：