【技术实现步骤摘要】
导电组件及测试装置
本专利技术涉及电子测试装置领域，尤其涉及一种用于集成电路测试的导电组件及测试装置。
技术介绍
随着电子技术的发展，集成电路的引脚间距越来越密，并且频率越来越高，其引脚传输信号的频率和速率也越来越高，这样对射频IC、动态存储集成电路和CPU类的集成电路进行测试时，对测试用的导电元件的要求也越来越高；而目前主流的对集成电路测试用的导电元件多为弹簧探针，弹簧探针通常包括针筒、设于针筒内的弹簧、位于弹簧两端的两针头。由于弹簧探针的结构比较复杂且细小，加工和组装都比较困难，导致整个弹簧探针的制造成本较高，另外，弹簧探针长度较长，内部的弹簧对测试信号有比较大的影响，导致弹簧探针不能用于测试频率比较高的集成电路。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种导电组件及测试装置，旨在使导电组件能够制作的更加薄型化，降低整个测试装置的制作成本，以及提高测试性能。为实现上述目的，本专利技术提供一种导电组件，用于测试装置中，所述导电组件包括定位板、绝缘基体及多个弹性导电柱，所述定位板用于整个导电组...
【技术保护点】
1.一种导电组件，用于测试装置中，其特征在于，所述导电组件包括定位板、绝缘基体及多个弹性导电柱，所述定位板用于整个导电组件安装于测试装置时进行定位，所述绝缘基体设于所述定位板上，所述弹性导电柱贯穿所述定位板和绝缘基体，所述弹性导电柱具有位于所述绝缘基体一侧的第一端和位于所述定位板一侧的第二端，所述弹性导电柱的第一端用于与被测集成电路的引脚电性连接，所述弹性导电柱的第二端用于与测试用电路板上的焊盘电性连接，所述弹性导电柱包括由弹性材料制成的柱形本体、分散在所述柱形本体中的若干导电颗粒、以及设于所述柱形本体中的第一导电增强元件，使得所述弹性导电柱在受压时既有弹性又能导电，所述第...
【技术特征摘要】
1.一种导电组件，用于测试装置中，其特征在于，所述导电组件包括定位板、绝缘基体及多个弹性导电柱，所述定位板用于整个导电组件安装于测试装置时进行定位，所述绝缘基体设于所述定位板上，所述弹性导电柱贯穿所述定位板和绝缘基体，所述弹性导电柱具有位于所述绝缘基体一侧的第一端和位于所述定位板一侧的第二端，所述弹性导电柱的第一端用于与被测集成电路的引脚电性连接，所述弹性导电柱的第二端用于与测试用电路板上的焊盘电性连接，所述弹性导电柱包括由弹性材料制成的柱形本体、分散在所述柱形本体中的若干导电颗粒、以及设于所述柱形本体中的第一导电增强元件，使得所述弹性导电柱在受压时既有弹性又能导电，所述第一导电增强元件沿所述柱形本体的轴向延伸设置。
2.如权利要求1所述的导电组件，其特征在于，还包括设于所述绝缘基体上的保护板，所述弹性导电柱的第一端贯穿所述保护板。
3.如权利要求1或2所述的导电组件，其特征在于，所述定位板采用硬质的的绝缘材料制成，所述绝缘基体采用弹性绝缘材料制成。
4.如权利要求2所述的导电组件，其特征在于，所述保护板采用硬质的的绝缘材料制成。
5.如权利要求1或2所述的导电组件，其特征在于，所述第一导电增强元件为实心导电柱体、弹簧导电体或线状导电体，所述实心导电柱体的长度小于所述柱形本体的长度。
6.如权利要求5所...
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