一种闪存芯片的测试平台制造技术

一种闪存芯片的测试平台，其特征在于，所述测试平台自上而下依次包括测试作业面(47)，抽真空组件(46)，水平旋转滑块(45)，水平旋转外框(44)，前后移动滑块(43)，左右移动滑块(42)，测试平台底座(41)和测试机底座(31)。该测试平台采用电动设备，解决操作员手摇升降的体力消耗，也解决了人工操作时快时慢，产量波动，效能损失的问题，极大的提高了设备利用率。

【技术实现步骤摘要】
一种闪存芯片的测试平台
本专利技术涉及一种闪存芯片的测试平台。
技术介绍
闪存芯片是一种可以储存任何格式的文件和数据的移动数据储存器，它小巧轻便，便于携带，可以说是一个小小的个人移动数据库闪存芯片的检测需要连同电脑，然后通过软件进行，可以通过坏块检测和速度检测两种方式检测闪存芯片。坏块检测时如果文件出现损坏，说明闪存芯片出现了问题。通过速度检测可以测试出闪存芯片的速度，从而判断闪存芯片的型号和质量，现有技术中测试平台操作员做好取料换料的动作后，再操作摇杆，动作繁琐，效率很低，而且摇杆举升工作台时，速度不能太快，用力不宜太猛，效率很难得到有效提高。因为设备构件摩擦、限定升降的构件多次碰撞后的磨损等因素，不能保证探针与晶圆接触保持一致，导致大批量测试时需要反复调试，因此需要经常反复调试，压力大了造成晶圆PAD上针痕太大，影响后续的封装合格率，压力小了，又不能保持良好接触。
技术实现思路
本专利技术专利的目的在于提供一种闪存芯片的测试平台，其特征在于，所述测试平台自上而下依次包括测试作业面(47)，抽真空组件(46)，水平旋转滑块(45)，水平旋转外框(44)，前后移动滑块(43)，左右移动滑块(42)和测试平台底座(41)；所述测试平台底座(41)为下平上凸型结构，所述测试平台底座(41)的下部通过螺丝固定在测试机底座(31)上。该测试机底座(31)上具有第一固定件(51)，该第一固定件(51)通过第一固定螺丝(52)固定在测试机底座(31)上；该第一固定件(51)夹持有第一调解螺杆(50)；所述左右移动滑块(42)为下凹上凸结构；该左右移动滑块(42)的下凹部分与测试平台底座(41)的上凸部分相契合；通过第二固定螺丝(54)将第二固定件(53)固定在左右移动滑块(42)的一个侧面上；所述第二固定件(53)与第一调解螺杆(50)处于同一高度；所述左右移动滑块(42)的另一个侧面通过第三固定螺丝(58)固定连接第三固定件(57)，该第三固定件(57)夹持有第二调节螺杆(56)。所述抽真空组件(46)通过真空管快速接头(48)与真空泵连接软管(49)连接。所述测试作业面(47)上具有真空吸气孔(16)和镶片(17)。所述，垂直支架(37)通过三角固定架(39)固定在测试机底座(31)上。所述测试机底座(31)上具有微动开关电缆孔(13)，该微动开关电缆孔(13)上具有微动开关(12)，所述微动开关(12)上具有上升按钮(26)和下降按钮(27)。有益效果：1、测试平台采用电动设备，解决操作员手摇升降的体力消耗，也解决了人工操作时快时慢，产量波动，效能损失的问题，极大的提高了设备利用率；2、减少了对人力需求的高度依赖，只一名操作员就能操作更多台测试机，解决了传统操作对操作员人数的高度依赖，以及人员能力参差不齐造成的生产效率低下的问题；3、测试平台减少了人为因素造成的震动，更确保了测试探针接触晶圆焊点的精度，避免了旧式的测试机带来的误测、探针损坏问题，提高了产品合格率。本专利技术的闪存芯片的测试平台位于闪存芯片测试装置上，该闪存芯片的测试平台上具有镶片，通过该镶片固定晶圆的位置；使用步进电机设定测试针卡的升降；针卡升降的终点位置、缓冲距离，通过闪存芯片测试装置控制面板上的7个控制按钮(记忆控制按钮(1)，锁定控制按钮(2)，缓冲控制按钮(3)，扎针控制按钮(4)，恢复原点控制按钮(5)，伺服电机控制按钮(6)，模式控制按钮(7))设置和调整控制箱内PLC控制器，操作员按动上升按钮(26)和下降按钮(27)后，PLC控制器根据设置值发送脉冲信号给步进电机，，使步进电机进行升降动作，使测试针卡每次下降停留的相对位置保持完全一致，探针与每颗晶圆接触的情况保持一致，操作员只需要按动上升、下降两个点动按钮即可取代手摇式升降，同时解决了原有的几个缺陷：1，步进电机通过微动开关操作，可精准控制距离和行程，在距离晶圆8mm处急停并缓慢下压，以缓慢的动作将探针下触到晶圆的PAD上，由此避免了探针与晶圆PAD的快速接触造成的一系列不良现象；2，操作员测试过程中，换料后仅需轻触微动开关，步进电机自动完成下压-缓冲-接触动作，测试完成后仅需轻触微动开关，步进电机自动上行至顶部，因此操作员效率得到非常大的提升，同时避免了操作员能力不同造成的测试过程不一致的现象。附图说明图1为闪存芯片的测试平台的结构示意图；图2为闪存芯片的测试平台的第1立体视图；图3为闪存芯片的测试平台的第2立体视图；图4为闪存芯片的测试平台的俯视图；图5为闪存芯片测试装置的第1结构示意图；图6为闪存芯片测试装置的第2结构示意图；图7为闪存芯片测试装置的侧视图；图8为图7的右视图；图9为图8的俯视图。具体实施方式下面结合具体实施例，进一步阐述本专利技术。如图所示：一种闪存芯片的测试平台，其特征在于，所述测试平台自上而下依次包括测试作业面(47)，抽真空组件(46)，水平旋转滑块(45)，水平旋转外框(44)，前后移动滑块(43)，左右移动滑块(42)和测试平台底座(41)；所述测试平台底座(41)为下平上凸型结构，所述测试平台底座(41)的下部通过螺丝固定在测试机底座(31)上。该测试机底座(31)上具有第一固定件(51)，该第一固定件(51)通过第一固定螺丝(52)固定在测试机底座(31)上；该第一固定件(51)夹持有第一调解螺杆(50)；所述左右移动滑块(42)为下凹上凸结构；该左右移动滑块(42)的下凹部分与测试平台底座(41)的上凸部分相契合；通过第二固定螺丝(54)将第二固定件(53)固定在左右移动滑块(42)的一个侧面上；所述第二固定件(53)与第一调解螺杆(50)处于同一高度；所述左右移动滑块(42)的另一个侧面通过第三固定螺丝(58)固定连接第三固定件(57)，该第三固定件(57)夹持有第二调节螺杆(56)。所述抽真空组件(46)通过真空管快速接头(48)与真空泵连接软管(49)连接。所述测试作业面(47)上具有真空吸气孔(16)和镶片(17)。所述，垂直支架(37)通过三角固定架(39)固定在测试机底座(31)上。所述测试机底座(31)上具有微动开关电缆孔(13)，该微动开关电缆孔(13)上具有微动开关(12)，所述微动开关(12)上具有上升按钮(26)和下降按钮(27)。本专利所述的闪存芯片的测试平台，安装在闪存芯片的测试装置上。该闪存芯片的测试装置，其特征在于，该装置包括测试机底座(31)，测试平台(闪存芯片的测试平台)，测试托架(25)，垂直支架(37)，进步电机(38)，控制箱，进步电机导轨(14)；所述垂直支架(37)垂直安装在测试机底座(31)，所述控制箱安装在垂直支架(37)的外侧，所述进步电机(38)安装在垂直支架(37)的内侧，该进步电机(38)上具有进步电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种闪存芯片的测试平台，其特征在于，所述测试平台自上而下依次包括测试作业面(47)，抽真空组件(46)，水平旋转滑块(45)，水平旋转外框(44)，前后移动滑块(43)，左右移动滑块(42)和测试平台底座(41)；/n所述测试平台底座(41)为下平上凸型结构，所述测试平台底座(41)的下部通过螺丝固定在测试机底座(31)上。/n

【技术特征摘要】
1.一种闪存芯片的测试平台，其特征在于，所述测试平台自上而下依次包括测试作业面(47)，抽真空组件(46)，水平旋转滑块(45)，水平旋转外框(44)，前后移动滑块(43)，左右移动滑块(42)和测试平台底座(41)；
所述测试平台底座(41)为下平上凸型结构，所述测试平台底座(41)的下部通过螺丝固定在测试机底座(31)上。


2.如权利要求1所述的一种闪存芯片的测试平台，其特征在于，该测试机底座(31)上具有第一固定件(51)，该第一固定件(51)通过第一固定螺丝(52)固定在测试机底座(31)上；该第一固定件(51)夹持有第一调解螺杆(50)；
所述左右移动滑块(42)为下凹上凸结构；该左右移动滑块(42)的下凹部分与测试平台底座(41)的上凸部分相契合；通过第二固定螺丝(54)将第二固定件(53)固定在左右移动滑块(42)的一个侧面上；所述第二固定件(53)与第一调解螺杆(50)处于同一高度...

【专利技术属性】
技术研发人员：王玉伟，
申请(专利权)人：深圳市卓然电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44