一种芯片测试座制造技术

本实用新型专利技术提供一种芯片测试座，涉及芯片测试领域，以解决由于芯片槽与芯片不匹，芯片在放置好后容易在芯片槽的内部移动，导致芯片的引脚与测试针之间不能接触的问题，包括测试底座，所述测试底座的顶部左侧设置有导向柱；所述导向柱的圆周外壁上设置有限位盘；所述测试底座的顶部右侧设置有控制栓；所述导向柱上设置有测试盖板；所述测试盖板的底部居中位置开设底槽，且底槽为圆形结构；所述底槽的内部设置有压板。本实用通过适应块接触新芯片的外壁，从能够自动对规格较小的芯片限位，使芯片的引脚对准探针，避免因外界原因导致规格较小的芯片在芯片搁置槽的内部出现移动，造成芯片引脚与探针不接触。引脚与探针不接触。引脚与探针不接触。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试座


[0001]本技术属于芯片测试
，更具体地说，特别涉及一种芯片测试座。

技术介绍

[0002]芯片又称或称微电路，属于高科技产物的一种，芯片在正式投入使用之前，需要对芯片进行性能的测试，避免缺陷芯片投入使用带来隐患，而对于芯片的测试就需要用到芯片测试座。
[0003]现有的芯片测试座在进行测试的时候，大都仅仅能对一种规格的芯片进行安装测试，当遇到规格较小的芯片时，由于芯片槽与芯片不匹，芯片在放置好后容易在芯片槽的内部移动，导致芯片的引脚与测试针之间不能接触，影响后续对于芯片的测试工作，不适用于对较小规格的芯片进行测试，缺少对于规格较小芯片的限位结构。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本技术提供一种芯片测试座，以解决现有的芯片测试座大都仅仅能对一种规格的芯片进行安装测试，当遇到规格较小的芯片时，由于芯片槽与芯片不匹，芯片在放置好后容易在芯片槽的内部移动，导致芯片的引脚与测试针之间不能接触，影响后续对于芯片的测试工作问题。
[0005]本技术一种芯片测试座的目的与功效，由以下具体技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试座，其特征在于，包括：测试底座(1)，所述测试底座(1)的顶部左侧设置有导向柱(101)，且导向柱(101)为圆柱形结构；所述导向柱(101)的圆周外壁上设置有限位盘(102)，且限位盘(102)为圆盘形结构；所述测试底座(1)的顶部右侧设置有控制栓(103)；所述导向柱(101)上设置有测试盖板(2)；所述测试盖板(2)的底部居中位置开设底槽(201)，且底槽(201)为圆形结构；所述底槽(201)的内部设置有压板(202)，且压板(202)为圆盘结构。2.如权利要求1所述一种芯片测试座，其特征在于，所述测试底座(1)的顶部居中位置开设有芯片搁置槽(104)；所述芯片搁置槽(104)的底部开设有滑动槽(105)，且滑动槽(105)为圆柱形结构。3.如权利要求2所述一种芯片测试座，其特征在于，所述滑动槽(105)的内部滑动安装有探针(106)；所述探针(106)的圆周外壁上设置有挡盘(107)，且挡盘(107)为圆盘形结构；所述挡盘(107)处于滑动槽(105)的内部。4.如权利要求3所述一种芯片测试座，其特征在于，所述挡盘(107)的底部嵌入安装有弹簧A(108)的一端，且弹簧A(108)的另一端嵌入安装于滑动槽(105)的内侧底部；所述测试底座(1)的顶部开设有侧槽(109)；所述侧槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：王玉伟，王一凡，何贵银，
申请(专利权)人：深圳市卓然电子有限公司，
类型：新型
国别省市：