一种多PIN脚IGBT测试机构制造技术

技术编号:36251283 阅读:8 留言:0更新日期:2023-01-07 09:44
本申请涉及一种多PIN脚IGBT测试机构,其包括工作台,工作台顶部设有输送装有IGBT的夹具的传送装置,在工作台顶部位于传送装置的一侧设有2个工位,2个工位上的结构相同,以其中一个工位为例:工作台顶部位于传送装置的一侧通过支脚架设有用于与夹具对接的卡接测试组件以及用于拉动夹具的搬运组件,卡接测试组件与传送装置之间还通过支脚架设有滑动过渡件,滑动过渡件用于对移动时的夹具进行支撑和导向。位于传送装置上的装有IGBT的夹具被输送到待对接的位置后,搬运组件会启动将装有IGBT的夹具拉动,使得装有IGBT的夹具经过滑动过渡件与卡接测试组件以完成测试。本申请具有双工位交替进行,测试准确以及测试效率高的特点。测试准确以及测试效率高的特点。测试准确以及测试效率高的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种多PIN脚IGBT测试机构


[0001]本申请涉及IGBT测试的
,尤其是涉及一种多PIN脚IGBT测试机构。

技术介绍

[0002]IGBT是能源变换与传输的核心器件,俗称电力电子装置的“CPU”,在现代社会IGBT广泛应用于新能源汽车中的电动控制系统和车载空调控制系统,也广泛运用于智能电网的发电端、输电端、变电端和用电端。在制造结束后,若要确保制造的IGBT合格,通常需要将IGBT对接在测试件上并且将测试件与测试仪器相连来进行测试,以确保IGBT要实现的功能不存在问题。专利技术人发现将IGBT对接在测试件上时,由于IGBT上需要测试的对接口较多,所以对接时可能会出现对不准的情况,这种情况增加了对接所用的时间,导致测试效率降低。

技术实现思路

[0003]为了提升测试效率,本申请提供一种多PIN脚IGBT测试机构。
[0004]本申请提供的一种多PIN脚IGBT测试机构采用如下技术方案:一种多PIN脚IGBT测试机构,包括工作台,还包括设在所述工作台上、用于传输装有IGBT的夹具的传送装置,所述工作台上位于所述传送装置的一侧设有用于与装有IGBT的夹具对接的卡接测试组件,所述工作台上还设有用于拉动所述传送装置上的装有IGBT的夹具与所述卡接测试组件对接的搬运组件。
[0005]通过采用上述技术方案,传送装置能提升对接的连续性,搬运组件能将装有IGBT的夹具从传送装置上拉动对接到卡接测试组件上,卡接测试组件能一次性对接多个PIN脚然后进行测试。
[0006]优选的,所述搬运组件包括支架,所述支架安装在所述工作台顶部,所述支架上安装有第一驱动装置,所述第一驱动装置的输出端能够横向往复运动;所述第一驱动装置的输出端上安装有连接基座,所述连接基座上设有第二驱动装置,所述第二驱动装置的输出端能够竖向往复运动。
[0007]通过采用上述技术方案,第一驱动装置和第二驱动装置组合能够实现自动化的横向和竖向的往复运动,能够带动传送装置上的装有IGBT的夹具至卡接测试组件上,搬运组件的完全自动化能够提升对接效率。
[0008]优选的,所述第二驱动装置的输出端设有配合块,所述连接基座上还设有连接块,所述连接块位于所述配合块的移动路径上;所述连接块上开有能供所述配合块滑动的缺口。
[0009]通过采用上述技术方案,缺口的设计能够对第二驱动装置的输出端进行导向,装有IGBT的夹具上设有凹槽,此设计能够初步保证第二驱动装置的输出端插入凹槽内。
[0010]优选的,所述第一驱动装置为电缸,所述支架上开有通孔,所述电缸的输出轴穿过所述通孔与所述连接基座相连,所述电缸的输出轴与所述通孔之间安装有直线轴承。
[0011]通过采用上述技术方案,电缸的输出轴行程量能够较为精确,同时能够带动连接
基座做精确的行程量。
[0012]优选的,所述配合块的运动行程不脱离所述缺口,所述配合块与所述缺口相适配。
[0013]通过采用上述技术方案,配合块的尺寸与缺口的尺寸配合以及配合块在缺口内运动能进一步的保证第二驱动装置的输出端准确的插入凹槽内。
[0014]优选的,所述连接块上设有滑轨,所述滑轨的设置方向与所述第一驱动装置输出端的运动方向一致,所述支架上设有配合所述滑轨滑动的滑块。
[0015]通过采用上述技术方案,第一驱动装置工作时,滑块在滑轨上移动能够对第一驱动装置输出端的往复运动进行导向,以提高运动精度。
[0016]优选的,所述卡接测试组件包括架设在所述工作台上的连接件,所述连接件上安装有用于固定装有IGBT的夹具的卡销。
[0017]通过采用上述技术方案,能将装有IGBT的夹具固定在卡接测试组件上以完成测试,能保证装有IGBT的夹具在测试过程中的稳定性。
[0018]优选的,所述工作台顶部架设有固定板,所述固定板靠近所述传送装置一端设有固定柱,所述固定柱包括滑动柱和卡接柱,所述滑动柱的一端安装在所述固定板上,所述滑动柱的另一端与所述卡接柱相连,所述滑动柱上套设有浮动板,所述卡接柱上套设有用于抵接所述浮动板的抵接环,所述滑动柱上位于所述连接件和所述浮动板之间还套设有伸缩弹簧。
[0019]通过采用上述技术方案,浮动板能够消除装有IGBT的夹具上的对接件与卡接测试组件上的对接件的对接误差,保证对接顺畅。
[0020]优选的,所述卡接柱远离所述滑动柱的一端设为锥形头。
[0021]通过采用上述技术方案,锥形头能够保证在装有IGBT的夹具与固定柱对接时,不会因为固定柱与装有IGBT的夹具没有完全对齐而无法完成对接。
[0022]优选的,所述卡接测试组件与所述传送装置之间设有滑动过渡件,所述滑动过渡件上设有凸块,所述滑动过渡件用于对移动时的装有IGBT的夹具进行支撑和导向。
[0023]通过采用上述技术方案,能够对装有IGBT的夹具移动时进行支撑和导向,保证了装有IGBT的夹具移动时的平稳性。
[0024]综上所述,本专利技术包括以下至少一种有益技术效果:1.传送装置能提升对接的连续性,搬运组件能将装有IGBT的夹具从传送装置上拉动对接到卡接测试组件上,卡接测试组件能一次性对接多个PIN脚然后进行测试;2.滑块在滑轨上滑动能够保证第一驱动装置输出端往复运动的运动精度;浮动板能够消除装有IGBT的夹具上的对接件与卡接测试组件上的对接件的对接误差,保证对接顺畅。
附图说明
[0025]图1是装有IGBT的夹具的整体结构示意图;图2是本申请实施例中一种多PIN脚IGBT测试机构的整体结构示意图;图3是用于体现搬运组件的结构示意图;图4是图3中A部分的放大图;图5是用于体现卡接测试组件的结构示意图;
图6是用于体现固定板47上两个相同结构的其中一个结构示意图。
[0026]附图中标记:1、工作台;11、皮带传送机构;111、顶升口;12、支脚;13、直线顶升机构;2、夹具;21、凹槽;22、PIN脚;221、连接PIN脚;23、滑动槽;24、卡孔;25、浮动孔;3、卡接测试组件;31、连接件;32、固定柱;321、滑动柱;3211、抵接环;3212、伸缩弹簧;3213、浮动板;322、卡接柱;3221、锥形头;33、卡销;4、搬运组件;41、支架;411、通孔;412、滑块;413、横架板;414、竖架板;415、底架板;42、电缸;43、连接基座;431、连接块;4311、缺口;4312、滑轨;44、直线轴承;45、气缸;46、配合块;47、固定板;5、滑动过渡件;51、凸块。
具体实施方式
[0027]以下结合附图对本专利技术作进一步详细说明。
[0028]参照图1,本申请是基于一个用于装载IGBT的夹具2来实现对IGBT的测试,夹具2的一个端面上设有多个PIN脚22、浮动孔25和卡孔24,夹具2的两端侧壁上均开有滑动槽23,夹具2上还设有凹槽21。IGBT装在夹具2上后,IGBT上的pin脚会与夹具2上对应的铜块接触,继而通过铜块接引到夹具2端面上的对应P本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多PIN脚IGBT测试机构,包括工作台(1),其特征在于:还包括设在所述工作台(1)上、用于传输装有IGBT的夹具(2)的传送装置,所述工作台(1)上位于所述传送装置的一侧设有用于与装有IGBT的夹具(2)对接的卡接测试组件(3),所述工作台(1)上还设有用于拉动所述传送装置上的装有IGBT的夹具(2)与所述卡接测试组件(3)对接的搬运组件(4)。2.根据权利要求1所述的一种多PIN脚IGBT测试机构,其特征在于:所述搬运组件(4)包括支架(41),所述支架(41)安装在所述工作台(1)顶部,所述支架(41)上安装有第一驱动装置,所述第一驱动装置的输出端能够横向往复运动;所述第一驱动装置的输出端上安装有连接基座(43),所述连接基座(43)上设有第二驱动装置,所述第二驱动装置的输出端能够竖向往复运动。3.根据权利要求2所述的一种多PIN脚IGBT测试机构,其特征在于:所述第二驱动装置的输出端设有配合块(46),所述连接基座(43)上还设有连接块(431),所述连接块(431)位于所述配合块(46)的移动路径上;所述连接块(431)上开有能供所述配合块(46)滑动的缺口(4311)。4.根据权利要求2所述的一种多PIN脚IGBT测试机构,其特征在于:所述第一驱动装置为电缸(42),所述支架(41)上开有通孔(411),所述电缸(42)的输出轴穿过所述通孔(411)与所述连接基座(43)相连,所述电缸(42)的输出轴与所述通孔(411)之间安装有直线轴承(44)。5.根据权利要求3所述的一种多PIN脚IGBT测试机构,其特征在于:所述配合块(46)的运动行程不脱离所述缺口(4311),所述配合块(46)与所述缺口(4...

【专利技术属性】
技术研发人员:盛井龙于贵伟王德
申请(专利权)人:苏州凌创电子系统有限公司
类型:发明
国别省市:

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