一种智能数字芯片出厂检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种智能数字芯片出厂检测装置，属于芯片检测技术领域。一种智能数字芯片出厂检测装置，包括检测工作台，检测工作台上方后端设有电机，电机输出端套接有凸轮，凸轮前端通过销轴转动连接有活动杆，检测工作台上侧中部设有梯形调节板，限位柱上方设有转盘，转盘顶面边缘处呈环形等间距设有多个固定柱，固定柱上方设有吸盘，吸盘上方吸附有待测芯片，结构间的紧密配合，使得待测芯片可以陆续地自动进行检测，避免了将待测芯片直接放在检测台上，存在指针不能准确对芯片进行定位检测的情况，同时避免了芯片离芯片感应检测仪主体太近不仅损坏芯片还会损坏芯片感应检测仪主体的情况，提高了检测的效率，保证了芯片的合格率。

【技术实现步骤摘要】
一种智能数字芯片出厂检测装置
本专利技术涉及芯片检测
，更具体地说，涉及一种智能数字芯片出厂检测装置。
技术介绍
随着社会智能化水平的不断提高，智能数字芯片已广泛应用于智能家居、智能硬件、信息通信、智能交通、公共安全等领域。为保证芯片的生产制造质量，集成电路数字芯片成品生产后，要对芯片进行检测，检测内容包括物理缺陷检测、磁感应检测等等，需要进行芯片的出厂检验工序，以确保智能数字芯片的出厂质量满足行业销售标准。现有技术公开号为CN206960610U的文献提供一种智能数字芯片检测装置，然而，现有装置依然存在下列问题：1)该装置通过设置升降台上升靠近检测针检测，存在升高过度不仅损坏芯片还会损坏检测指针的安全隐患；2)同时，该装置将芯片直接放在检测台上，存在指针不能准确对芯片进行定位检测的情况，鉴于此，我们提出一种智能数字芯片出厂检测装置。
技术实现思路
1.要解决的技术问题本专利技术的目的在于提供一种智能数字芯片出厂检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。2.技术方案一种智能数字芯片出厂检测装置，包括检测工作台，所述检测工作台，所述检测工作台上方后端设有电机，所述电机输出端套接有凸轮，所述凸轮前端通过销轴转动连接有活动杆，所述检测工作台上侧中部设有梯形调节板，所述梯形调节板前端设有梯形推块，所述梯形调节板上表面前侧中部固设有限位柱，所述限位柱上表面呈环形等间距开设有多个圆弧型限位槽，所述限位柱中部开设有圆形腔，所述圆形腔内部设有弹簧A，所述限位柱上方设有转盘，所述转盘底面中部焊接有滑柱，所述转盘顶面边缘处呈环形等间距设有多个固定柱，所述固定柱上方设有吸盘，所述吸盘上方吸附有待测芯片，所述检测工作台上表面右侧前端设有T型杆，所述T型杆上侧设有套筒，所述套筒内部滑动连接有伸缩柱，所述伸缩柱左端穿过套筒内部及弹簧B内部并套接有控制块，所述检测工作台右侧外壁前端设有F型固定架，所述F型固定架前侧外壁设有两个档板，所述F型固定架前端底面设有芯片感应检测仪主体，所述检测工作台前端设有收集箱。优选地，所述检测工作台上表面中部开设有梯形槽，所述梯形槽与梯形调节板滑动连接。优选地，所述梯形调节板上侧中部后端固设有铰座，所述铰座上侧通过销轴与所述活动杆前端转动连接。优选地，所述转盘底面中部呈环形等间距设有多个圆弧型凸起，所述圆弧型凸起与圆弧型限位槽卡接配合。优选地，所述滑柱下端依次穿过限位柱外壁及弹簧A内部延伸至圆形腔内部并套接有限位板，所述限位板与圆形腔滑动连接。优选地，所述伸缩柱圆周外壁中部设有平键，所述平键与所述套筒内壁上侧左端开设的键槽滑动连接。优选地，所述控制块呈直角梯形结构设置，所述控制块后壁与所述固定柱紧密压合，所述控制块前侧斜面与固定柱滑动连接。3.有益效果相比于现有技术，本专利技术的优点在于：1.本专利技术通过在检测工作台上方后端设有电机，电机输出端套接有凸轮，凸轮前端通过销轴转动连接有活动杆，检测工作台上侧中部设有梯形调节板，限位柱上方设有转盘，转盘顶面边缘处呈环形等间距设有多个固定柱，固定柱上方设有吸盘，吸盘上方吸附有待测芯片，结构间的紧密配合，使得待测芯片可以陆续地自动进行检测，避免了将待测芯片直接放在检测台上，存在指针不能准确对芯片进行定位检测的情况，同时避免了芯片离芯片感应检测仪主体太近不仅损坏芯片还会损坏芯片感应检测仪主体的情况，提高了检测的效率，保证了芯片的合格率。2.本专利技术通过在梯形调节板上表面前侧中部固设有限位柱，限位柱上表面呈环形等间距开设有多个圆弧型限位槽，限位柱中部开设有圆形腔，圆形腔内部设有弹簧A，转盘底面中部焊接有滑柱，使其在转动换位更换不同的待测芯片后，通过弹簧A的设计使圆弧型凸起可以顺利的卡进圆弧型限位槽内部进行有效的定位，有效的避免了待测芯片偏离芯片感应检测仪主体的情况。3.本专利技术通过在检测工作台上表面右侧前端设有T型杆，T型杆上侧设有套筒，套筒内部滑动连接有伸缩柱，伸缩柱左端穿过套筒内部及弹簧B内部并套接有控制块，通过T型杆的拨动，使得固定柱被拨动从而使得转盘转动，由于弹簧B及控制块斜面的设置使其被拨动后通过控制块斜面滑过等待下一次的拨动，实现了待测芯片的转换检测，避免了人工操作的失误性，提高了待测芯片检测的准确性，提高了合格率。4.本专利技术通过在检测工作台右侧外壁前端设有F型固定架，F型固定架前侧外壁设有两个档板，梯形调节板前端设有梯形推块，检测工作台1前端设有收集箱8，使得在检测完待测芯片后通过档板的设置使得芯片掉落后被推动到收集箱内部，实现了检测后自动的收集，减少了劳动力，节省了人力物力。附图说明图1为本专利技术的整体结构示意图；图2为本专利技术的整体结构剖面图；图3为本专利技术的转盘结构仰视图；图4为本专利技术的限位柱内部结构剖面图；图5为本专利技术的A处结构放大图；图6为本专利技术的B处结构放大图；图中标号说明：1、检测工作台；101、梯形槽；102、F型固定架；103、档板；2、电机；201、凸轮；202、活动杆；3、梯形调节板；301、铰座；302、梯形推块；303、限位柱；304、圆弧型限位槽；305、圆形腔；306、弹簧A；4、转盘；401、圆弧型凸起；402、滑柱；403、限位板；404、固定柱；405、吸盘；5、待测芯片；6、T型杆；601、套筒；602、伸缩柱；603、平键；604、键槽；605、弹簧B；606、控制块；7、芯片感应检测仪主体；8、收集箱。具体实施方式在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。请参阅图1-6,本专利技术提供一种技术方案：一种智能数字芯片出厂检测装置，包括检测工作台1，检测工作台1上方后端设有电机2，电机2输出端套接有凸轮201，凸轮201前端通过销轴转动连接有活动杆202，检测工作台1上侧中部设有梯形调节板3，梯形调节板3前端设有梯形推块302，梯形调节板3上表面前侧中部固设有限位柱303，限位柱303上表面呈环形等间距开设有多个圆弧型本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种智能数字芯片出厂检测装置，包括检测工作台(1)，其特征在于：所述检测工作台(1)，所述检测工作台(1)上方后端设有电机(2)，所述电机(2)输出端套接有凸轮(201)，所述凸轮(201)前端通过销轴转动连接有活动杆(202)，所述检测工作台(1)上侧中部设有梯形调节板(3)，所述梯形调节板(3)前端设有梯形推块(302)，所述梯形调节板(3)上表面前侧中部固设有限位柱(303)，所述限位柱(303)上表面呈环形等间距开设有多个圆弧型限位槽(304)，所述限位柱(303)中部开设有圆形腔(305)，所述圆形腔(305)内部设有弹簧A(306)，所述限位柱(303)上方设有转盘(4)，所述转盘(4)底面中部焊接有滑柱(402)，所述转盘(4)顶面边缘处呈环形等间距设有多个固定柱(404)，所述固定柱(404)上方设有吸盘(405)，所述吸盘(405)上方吸附有待测芯片(5)，所述检测工作台(1)上表面右侧前端设有T型杆(6)，所述T型杆(6)上侧设有套筒(601)，所述套筒(601)内部滑动连接有伸缩柱(602)，所述伸缩柱(602)左端穿过套筒(601)内部及弹簧B(605)内部并套接有控制块(606)，所述检测工作台(1)右侧外壁前端设有F型固定架(102)，所述F型固定架(102)前侧外壁设有两个档板(103)，所述F型固定架(102)前端底面设有芯片感应检测仪主体(7)，所述检测工作台(1)前端设有收集箱(8)。/n...

【技术特征摘要】
1.一种智能数字芯片出厂检测装置，包括检测工作台(1)，其特征在于：所述检测工作台(1)，所述检测工作台(1)上方后端设有电机(2)，所述电机(2)输出端套接有凸轮(201)，所述凸轮(201)前端通过销轴转动连接有活动杆(202)，所述检测工作台(1)上侧中部设有梯形调节板(3)，所述梯形调节板(3)前端设有梯形推块(302)，所述梯形调节板(3)上表面前侧中部固设有限位柱(303)，所述限位柱(303)上表面呈环形等间距开设有多个圆弧型限位槽(304)，所述限位柱(303)中部开设有圆形腔(305)，所述圆形腔(305)内部设有弹簧A(306)，所述限位柱(303)上方设有转盘(4)，所述转盘(4)底面中部焊接有滑柱(402)，所述转盘(4)顶面边缘处呈环形等间距设有多个固定柱(404)，所述固定柱(404)上方设有吸盘(405)，所述吸盘(405)上方吸附有待测芯片(5)，所述检测工作台(1)上表面右侧前端设有T型杆(6)，所述T型杆(6)上侧设有套筒(601)，所述套筒(601)内部滑动连接有伸缩柱(602)，所述伸缩柱(602)左端穿过套筒(601)内部及弹簧B(605)内部并套接有控制块(606)，所述检测工作台(1)右侧外壁前端设有F型固定架(102)，所述F型固定架(102)前侧外壁设有两个档板(103)，所述F型固定架(102)前端底面设有芯片感应检测仪主体(7)，所述检测工作台(1)前端设有收集箱(8)。


2.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张小庆，
申请(专利权)人：张小庆，
类型：发明
国别省市：广东;44