一种高分子材料损坏原位测试装置制造方法及图纸

技术编号:28535366 阅读:30 留言:0更新日期:2021-05-20 00:28
本实用新型专利技术公开了一种高分子材料损坏原位测试装置,包括设备外壳,所述设备外壳底部固定安装有放置底座,所述放置底座上表面放置有测试材料,所述测试材料上表面位于一端边缘处安装有激光发射器,所述设备外壳顶部固定安装有挤压机构,所述设备外壳顶部位于挤压机构一侧固定安装有安装支架,所述安装支架上固定安装有反射镜,所述设备外壳上位于一侧表面开设有透光豁口,所述透光豁口一侧设有光屏,所述光屏表面设有刻度,所述光屏上固定安装有安装立柱,所述安装立柱末端固定安装有固定底座。本实用新型专利技术所述的一种高分子材料损坏原位测试装置,属于检测装置领域,能够快速检测并得出数据。得出数据。得出数据。

【技术实现步骤摘要】
一种高分子材料损坏原位测试装置


[0001]本技术涉及测试装置领域,特别涉及一种高分子材料损坏原位测试装置。

技术介绍

[0002]高分子材料又称聚合物或高聚物,一类由一种或几种分子或分子团以共价键结合成具有多个重复单体单元的大分子,其分子量高达104~106,它们可以是天然产物如纤维、蛋白质和天然橡胶等,也可以是用合成方法制得的,如合成橡胶、合成树脂、合成纤维等非生物高聚物等,高分子材料出厂前需要对材料进行损坏原位测试,然而现有的原位测试装置在使用过程中存在一定的弊端,现有原位测试装置使用复杂,无法快速得出检验数据。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的在于提供一种高分子材料损坏原位测试装置,可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的,本技术采取的技术方案为:
[0005]一种高分子材料损坏原位测试装置,包括设备外壳,所述设备外壳底部固定安装有放置底座,所述放置底座上表面放置有测试材料,所述测试材料上表面位于一端边缘处安装有激光发射器,所述设备外壳顶部固定安装有挤压机构,所述设备外壳顶部位于挤本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高分子材料损坏原位测试装置,其特征在于:包括设备外壳(5),所述设备外壳(5)底部固定安装有放置底座(4),所述放置底座(4)上表面放置有测试材料(6),所述测试材料(6)上表面位于一端边缘处安装有激光发射器(3),所述设备外壳(5)顶部固定安装有挤压机构(7),所述设备外壳(5)顶部位于挤压机构(7)一侧固定安装有安装支架(8),所述安装支架(8)上固定安装有反射镜(9),所述设备外壳(5)上位于一侧表面开设有透光豁口(2),所述透光豁口(2)一侧设有光屏(1)。2.根据权利要求1所述的一种高分子材料损坏原位测试装置,其特征在于:所述光屏(1)表面设有刻度(101),所述光屏(1)上固定安装有安装立柱(102),所述安装立柱(102)末端固定安装有固定底座(103)。3.根据权利要求2所述的一种高分子材料损坏原位测试装置,其特征在于:所述安装立柱(102)通过螺丝固定在光屏(1)上,所述安装立柱(102)与固定底座(103)一体成型。4.根据权利要求1所述的一种高分子材...

【专利技术属性】
技术研发人员:鞠延宁
申请(专利权)人:深圳市天月明包装制品有限公司
类型:新型
国别省市:

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